PCI测试卡制造技术

一种ＰＣＩ测试卡，包括：信号发生器、延时门阵列、控制电路和显示单元，其中信号发生器产生测试所需的信号，延时门阵列对信号进行不同门延迟数的延时后输出，显示单元显示当前的信号所经的门延迟的个数，控制电路控制信号的产生以及所经门延迟的个数。本发明专利技术结构简单，能够直接测出建立时间和保持时间容限，且测试精度和测试效率较高。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机周边设备领域，特别是有关一种PCI测试卡及其测试方法。
技术介绍
当前的电路系统(如主板)中，由于芯片选择、设计思想及器件差异的不同，各个电路系统信号的建立时间和保持时间的容限是不同的，而这些参数对于衡量系统的稳定性具有重要的指导意义。现有的PCI(Peripheral component interconnection)测试卡往往针对PCI协议进行测试，测出PCI信号是否满足协议，并可在示波器上显示出信号的变化情况，如中国专利第02117679号中的批量测试装置。或者作为调试卡，如中国专利第00134858号中的单步纠错装置，考察系统在上电自检时是否运行正常。这些设计方法都不能检测PCI信号某些时间参数的容限。为了在现有条件下测出各个电路系统信号的建立时间和保持时间的容限，一般采用示波器测试，并对其波形信号进行解读计算，得出时间容限参数。但是这项工作需要有专门的技术人员来计算解读示波器波形，而且一般来说工作人员读取示波器的波形不够精确，如果采用先进的高精密度的示波器则价格比较昂贵，总之目前采用人工解读示波器波形来测算建立时间、保持时间容限的方法，费时费力而且本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＰＣＩ测试卡，其特征在于它包括：信号发生器、延时门阵列、控制电路和显示单元，其中信号发生器产生测试所需的信号，延时门阵列包括复数个门延迟，其中单个门延迟对信号滞后一延迟时间，显示单元显示当前的信号所经的门延迟的个数，控制电路控制信号的产生以及所经门延迟的个数。

【技术特征摘要】
1.一种PCI测试卡，其特征在于它包括信号发生器、延时门阵列、控制电路和显示单元，其中信号发生器产生测试所需的信号，延时门阵列包括复数个门延迟，其中单个门延迟对信号滞后一延迟时间，显示单元显示当前的信号所经的门延迟的个数，控制电路控制信号的产生以及所经门延迟的个数。2.如权利要求1所述的PCI测试卡，其特征在于所述的信号发生器产生的测试所需的信号包括时钟信号和测试信号。3.如权利要求1所述的PCI测试卡，其特征在于控制电路可由用户通过加装应用程序的计算机系统进行控制。4.如权利要求1所述的PCI测试卡，其特征在于所述的显示单元可以将门延迟的个数乘以每个门延迟的延迟时间而直接显示延迟时间。5.如权利要求1或2所述的PCI测试卡，其特征在于所述的信号发生器和控制电路由可编程逻辑器件构成。6.如权利要求5所述的PCI测试卡，其特征在于所述的可编程逻辑器件是FPGA。7.如权利要求1所述的PCI测试卡，其特征在于所述的延时门阵列由CPLD构成。8.如权利要求1或4所述的PCI测试卡，其特征在于所述的显示单元是LED。9.一种PCI系统的测试方法其特征在于包...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜春艳，张林，王玉杰，周传国，
申请(专利权)人：环达电脑上海有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]