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PCI测试卡制造技术
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文档序号:2856983
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一种PCI测试卡,包括:信号发生器、延时门阵列、控制电路和显示单元,其中信号发生器产生测试所需的信号,延时门阵列对信号进行不同门延迟数的延时后输出,显示单元显示当前的信号所经的门延迟的个数,控制电路控制信号的产生以及所经门延迟的个数。本发明...
该专利属于环达电脑(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过环达电脑(上海)有限公司授权不得商用。
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