电路管理制造技术

技术编号:2854363 阅读:205 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一优化电路性能的方法,包括:    a)获取一目标参数;    b)根据所述目标参数,使用软件确定晶体管体偏置值,借以优化一电路的一特性;还有    c)基于所述体偏置值偏置所述电路中的晶体管的体,其中所述特性被优化。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及电子电路领域,本专利技术的具体实施方式特别涉及使用软件来控制体偏置以优化电路性能的方法和系统,概括来说,本专利技术揭露了控制体偏置的软件。
技术介绍
现代计算机的处理器可以以非凡的速度运行。然而,提高的速度所花费的代价就是更多的功率消耗。功率消耗导致可观的热耗散,例如,当电容性负载通过电阻元件充电或放电的情况。因此,存在减少功率消耗的需求。一些传统上的技术用于减少功率消耗,仅仅包括当电路不需要运行在最高频率时,扼制工作频率。但是,使用这项技术所能节约的功率是有限的。
技术实现思路
控制体偏置的软件。附图说明图1所示为一体偏置系统中的一CMOS结构示意图。图2所示为一体偏置系统中的一CMOS结构示意图。图3所示为一具有任意负载电容的晶体管在不变的和变化的电压下的功率消耗-频率曲线图。图4所示为根据本专利技术的实施例,在图中所示各种曲线和点显示选择的各种阈电压下的频率-电源电压图。图5A,图5B,图5C所示为根据本专利技术实施例,使用软件控制体偏置以优化一电路性能的具代表性的系统的示意图。图6所示为根据本专利技术实施例,一用于管理电路的系统的代表性的模块图。图7所示为根据本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一优化电路性能的方法,包括a)获取一目标参数;b)根据所述目标参数,使用软件确定晶体管体偏置值,借以优化一电路的一特性;还有c)基于所述体偏置值偏置所述电路中的晶体管的体,其中所述特性被优化。2.根据权利要求1所述的方法,其中所述的目标参数为所述电路的一目标频率。3.根据权利要求2所述的方法,其中所述特性是所述电路的功率效率。4.根据权利要求2所述的方法,其中所述b)包含,基于所述目标频率,确定所述电路的一电源电压,借以优化所述特性。5.根据权利要求4所述的方法,其中所述b)进一步包含,衡量涉及所述晶体管的阈电压的功率消耗和与之相对的涉及所述电源电压的功率消耗。6.根据权利要求1所述的方法,其中所述b)包含,基于所述目标频率,确定所述电路的一电源电压,借以优化所述特性。7.根据权利要求1所述的方法,其中所述目标参数为所述电路的一目标电源电压。8.根据权利要求7所属的方法,其中所述特性为所述电路的一最大工作频率。9.根据权利要求8所述的方法,其中所述b)包含,基于所述目标电源电压,确定所述电路的一最大工作频率。10.根据权利要求1所述的方法,其中所述c)包含,基于所述体偏置值,向前偏置所述电路中所属晶体管的体。11.根据权利要求1所述的方法,其中所述c)包含,基于所述体偏置值,向后偏置所述电路中所属晶体管的体。12.根据权利要求1所述的方法,其中所述b)包含预测所述电路的活动。13.根据权利要求1所述的方法,其中所述b)包含预测所述电路的漏电流。14.根据权利要求1所述的方法,其中所述b)包含预测所述电路的一工作频率。15.一管理一电路的系统,包含逻辑电路,用于确定一具有晶体管的电路的一目标频率,该电路与所述逻辑电路相连接;计算机执行逻辑电路,用于根据所述目标频率确定体偏置值,借以优化所述电路的一特性;还有电路系统,基于所述体偏置值,用来偏置所述晶体管的体,从而所述特性被优化。16.根据权利要求15所述的系统,其中所述目标频率为基于所述电路的利用,其中所述电路为一处理器。17.根据权利要求15所述的系统,其中用于确定所述目标频率的所述逻辑电路进一步还可以翻译所述电路中执行的指令,其中所述电路为一处理器。18.根据权利要求15所述的系统,其中用于确定所述体偏置值的所述逻辑电路包含一表格,其具有一范围内目标频率的所述体偏置值。19.根据权利要求15所述的系统,其中用于确定所述体偏置值的所述逻辑电路进一步可以基于至少部分的所述目标频率,确定所述晶体管的一电源电压。20.根据权利要求15所述的系统,其中所述系统进一步包含电路系统,用于在所述电路中的所述晶体管中的一晶体管中确定一漏电流;以及其中用于确定所述体偏置值的所述逻辑电路进一步基于所述漏电流进行所述确定。21.根据权利要求15所述的系统,其中用于确定所述目标频率的所述逻辑电路进一步可以预测所述电路的未来活动。22.根据权利要求15所述的系统,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:大卫·R·狄滋尔詹姆斯·B·伯尔
申请(专利权)人:全美达股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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