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文档序号:2854363
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一优化电路性能的方法,包括: a)获取一目标参数; b)根据所述目标参数,使用软件确定晶体管体偏置值,借以优化一电路的一特性;还有 c)基于所述体偏置值偏置所述电路中的晶体管的体,其中所述特性被优化。...
该专利属于全美达股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过全美达股份有限公司授权不得商用。
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