一种多工位测试分选设备制造技术

本发明专利技术涉及一种多工位测试分选设备，其其包括机架以及设于机架上的上料机构、轨道机构、料盘搬运机构、检测机构、料船机构以及下料机构，上料机构用于将芯片从轨道机构搬运至料船机构，轨道机构用于存放芯片，料盘搬运机构用于搬运轨道机构中各轨道上的装料盘，检测机构用于对芯片进行检测，料船机构用于接收上料机构搬运的芯片和检测机构检测完成的芯片，下料机构用于将料船机构中的已测芯片搬运至轨道机构。该多工位测试分选设备提升了检测效率，同时能够全自动的对已完成检测的芯片进行检测，避免人员的干预对检测造成影响，检测效果好。

【技术实现步骤摘要】
一种多工位测试分选设备
本专利技术涉及芯片检测
，特别是涉及一种多工位测试分选设备。
技术介绍
芯片检测设备是一种可将人工检测芯片的动作机械化的设备，其检测效果稳定，检测效率高，能够实现芯片流水线式测量，同时培训设备操作人员时间短，操作人员可一人操作多台设备，操作步骤简单，大大节约人力资源，因此芯片检测设备迅速淘汰人工芯片检测工艺，成为芯片检测市场的主流。现有的芯片检测设备所使用的检测机一般设有四个或八个检测槽，检测效率有限，如何提高检测效率成为目前非常重要的问题，同时现有的芯片检测设备经过检测后只能通过人工整理次品芯片并进行重复检测，效率低下。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术的目的是提供一种多工位测试分选设备，具有检测效率高、兼容性好等优点。基于此，本专利技术提供了一种多工位测试分选设备，其包括机架以及设于所述机架上的轨道机构、料盘搬运机构、上料机构、料船机构、检测机构和下料机构；所述轨道机构包括平行设置的入料轨道、合格轨道、次品轨道、回测轨道和空盘轨道，所述入料轨道、所述合格轨本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多工位测试分选设备，其特征在于，包括机架以及设于所述机架上的轨道机构、料盘搬运机构、上料机构、料船机构、检测机构和下料机构；/n所述轨道机构包括平行设置的入料轨道、合格轨道、次品轨道、回测轨道和空盘轨道，所述入料轨道、所述合格轨道、所述次品轨道和所述回测轨道上均设有用于盛放芯片的装料盘，所述入料轨道用于传输待测芯片，所述合格轨道用于收集合格芯片，所述次品轨道用于收集次品芯片，所述回测轨道用于收集需回测芯片，所述空盘轨道用于收集不盛防芯片的空装料盘；/n所述料盘搬运机构用于在所述轨道机构的各轨道之间搬运所述装料盘；/n所述上料机构用于将待测芯片搬运至所述料船机构；/n所述料船机构用于接收...

【技术特征摘要】
1.一种多工位测试分选设备，其特征在于，包括机架以及设于所述机架上的轨道机构、料盘搬运机构、上料机构、料船机构、检测机构和下料机构；
所述轨道机构包括平行设置的入料轨道、合格轨道、次品轨道、回测轨道和空盘轨道，所述入料轨道、所述合格轨道、所述次品轨道和所述回测轨道上均设有用于盛放芯片的装料盘，所述入料轨道用于传输待测芯片，所述合格轨道用于收集合格芯片，所述次品轨道用于收集次品芯片，所述回测轨道用于收集需回测芯片，所述空盘轨道用于收集不盛防芯片的空装料盘；
所述料盘搬运机构用于在所述轨道机构的各轨道之间搬运所述装料盘；
所述上料机构用于将待测芯片搬运至所述料船机构；
所述料船机构用于接收待测芯片和已测芯片；
所述检测机构用于对待测芯片进行检测；
所述下料机构用于将已测芯片从所述料船机构搬运至所述轨道机构。


2.根据权利要求1所述的多工位测试分选设备，其特征在于，所述入料轨道、所述合格轨道、所述次品轨道、所述回测轨道和所述空盘轨道的结构相同，所述入料轨道包括轨道本体、顶升组件、堆叠组件、动力组件和定位组件，所述顶升组件用于取放装料盘，所述堆叠组件用于收集装料盘，所述动力组件用于驱动所述装料盘沿所述轨道本体运动，所述定位组件包括侧推夹紧气缸和后推夹紧气缸，所述侧推夹紧气缸和后推夹紧气缸与所述轨道本体共同作用，实现装料盘定位。


3.根据权利要求1所述的多工位测试分选设备，其特征在于，所述料盘搬运机构包括X轴搬运组件、Z轴搬运组件以及装料盘抓手；
所述X轴搬运组件包括X轴搬运导轨、X轴搬运同步轮、X轴搬运同步带和X轴搬运电机，所述Z轴搬运组件可在所述X轴搬运电机的驱动下沿所述X轴搬运导轨运动；
所述Z轴搬运组件包括Z轴搬运导轨、Z轴搬运同步轮、Z走搬运同步带和Z轴搬运电机，所述装料盘抓手可在所述Z轴搬运电机的驱动下沿所述Z轴搬运导轨运动；
所述装料盘抓手用于抓取所述装料盘。


4.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：林宜龙，刘飞，丁克详，唐召来，
申请(专利权)人：深圳格兰达智能装备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44