【技术实现步骤摘要】
本专利技术是关于一种电路检测系统与方法,特别关于一种。
技术介绍
为了开发功能强大的芯片,在制造芯片之前必须先对芯片内的电路加以检验。如图1所示,一电路模拟软件11执行在一处理器12上,电路模拟软件11通过处理器12执行一控制芯片的控制器硬件电路程序111与一解码芯片的解码器硬件电路程序112以模拟解码芯片与控制芯片,并检验解码芯片与控制芯片是否能够正常地配合运作。这种模拟检验的方法能够完整地模拟解码芯片与控制芯片的功能,并能够完整地检验解码芯片与控制芯片配合的情况。然而,若只想验证解码芯片是否能够正常运作,对于解码芯片开发人员来说,在电路模拟软件11其实不需要完整地模拟验证控制芯片的功能,且在电路模拟软件11完整地模拟验证控制芯片亦多耗费处理器12的处理时间,也就是说,解码芯片在电路模拟软件11验证的时间加长,解码芯片在硬件描述语言电路设计阶段的效率亦减低。因此,提供一种硬件描述语言电路的检测系统,能够完整地验证硬件描述语言电路,并能够简化多电路配合的验证流程,节省验证时间,以提高硬件描述语言电路设计的效率,正是当前重要的课题之一。
技术实现思路
有鉴于上述课题 ...
【技术保护点】
一种硬件描述语言电路的检测系统,其检测一硬件描述语言所描述的一待测试电路程序,所述系统包含:一电路模拟软件,其执行所述待测试电路程序以模拟一待测试电路,其中所述待测试电路程序依据一第二消息产生一第一消息;一处理器,其执行所述 电路模拟软件,并依据所述第一消息产生所述第二消息;以及一接口程序,其由所述硬件描述语言所描述,并执行于所述电路模拟软件,传送所述待测试电路程序所产生的第一消息至所述处理器以及传送所述处理器所产生的第二消息至所述待测试电路程序。
【技术特征摘要】
1.一种硬件描述语言电路的检测系统,其检测一硬件描述语言所描述的一待测试电路程序,所述系统包含一电路模拟软件,其执行所述待测试电路程序以模拟一待测试电路,其中所述待测试电路程序依据一第二消息产生一第一消息;一处理器,其执行所述电路模拟软件,并依据所述第一消息产生所述第二消息;以及一接口程序,其由所述硬件描述语言所描述,并执行于所述电路模拟软件,传送所述待测试电路程序所产生的第一消息至所述处理器以及传送所述处理器所产生的第二消息至所述待测试电路程序。2.如权利要求1所述的硬件描述语言电路的检测系统,其中所述接口程序调用所述电路模拟软件的一函数,其中所述函数传递所述第一消息至所述处理器。3.如权利要求1所述的硬件描述语言电路的检测系统,其中所述处理器执行一检测程序以产生所述第二消息。4.如权利要求1所述的硬件描述语言电路的检测系统,其中所述检测程序是由一高级程序语言所撰写。5.如权利要求1所述的硬件描述语言电路的检测系统,其中所述电路模拟软件与所述检测程序是同时在一多任务操作系统执行。6...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘云天,
申请(专利权)人:威盛电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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