一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法及系统。该方法包括：获取零件模型的特征；根据所述零件模型的特征确定所述零件模型的安全点以及所述零件模型的包围盒；获取测头移动产生的扫略体；根据所述扫略体确定所述零件模型的安全点中干涉的安全点；根据所述零件模型的包围盒以及干涉的安全点，采用扫略体的方法，确定所述零件模型的避障点；根据所述零件模型的安全点中的未干涉的安全点以及所述避障点规划所述零件模型的全局路径。本发明专利技术自动实现基于三维模型的全局路径的无碰撞规划，极大提高在机测量路径规划的效率。极大提高在机测量路径规划的效率。极大提高在机测量路径规划的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法及系统


[0001]本专利技术涉及复杂零件路径规划领域，特别是涉及一种在机测量的无碰撞全 局路径规划方法及系统。

技术介绍

[0002]复杂零件路径规划具有多路径、多测量工作平面的特点，因此在路径规划 过程中，规划的路径容易与零件模型产生干涉，目前的路径规划中针对干涉情 况的研究主要面向特殊零件或者特殊环境，对于复杂三维环境效果一般。因此 目前还是更多采用手动增加或者更改点位的方式实现避障，导致路径规划过程 繁琐且耗费时间。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法及系统，自 动实现基于三维模型的全局路径的无碰撞规划，极大提高在机测量路径规划的 效率。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：
[0005]一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法，包括：
[0006]获取零件模型的特征；所述零件模型的特征包括零件模型的面特征和零件 模型的圆柱特征；
[0007]根据所述零件模型的特征确定所述零件模型的安全点以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法，其特征在于，包括：获取零件模型的特征；所述零件模型的特征包括零件模型的面特征和零件模型的圆柱特征；根据所述零件模型的特征确定所述零件模型的安全点以及所述零件模型的包围盒；获取测头移动产生的扫略体；根据所述扫略体确定所述零件模型的安全点中干涉的安全点；根据所述零件模型的包围盒以及干涉的安全点，采用扫略体的方法，确定所述零件模型的避障点；根据所述零件模型的安全点中的未干涉的安全点以及所述避障点规划所述零件模型的全局路径。2.根据权利要求1所述的一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法，其特征在于，所述根据所述零件模型的特征确定所述零件模型的安全点以及所述零件模型的包围盒，具体包括：获取所述零件模型的面特征的测点和定位点；根据所述零件模型的面特征的测点和定位点确定面特征的安全点；获取所述零件模型的圆柱特征的定位点；根据所述零件模型的圆柱特征的定位点确定圆柱特征的安全点。3.根据权利要求1所述的一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法，其特征在于，所述根据所述零件模型的包围盒以及干涉的安全点，采用扫略体的方法，确定所述零件模型的避障点，之前还包括：建立三维坐标系，确定每个所述安全点的位置坐标以及所述包围盒的边界位置坐标。4.根据权利要求3所述的一种在机测量的无碰撞全局路径规划方法，其特征在于，所述根据所述零件模型的包围盒以及干涉的安全点，采用扫略体的方法，确定所述零件模型的避障点，具体包括：根据所述三维坐标系对干涉的安全点进行分类；根据分类后的干涉的安全点以及所述零件模型的包围盒，采用扫略体的方法，确定所述零件模型的避障点。5.一种在机测量的无碰撞全局路径规划系统，其特征在于，包括：零件模型的特征获取模块，用...

【专利技术属性】
技术研发人员：段桂江，张铭雨，刘睿，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：