一种四线制测量多通道导通电阻和绝缘电阻的装置制造方法及图纸

技术编号:28492355 阅读:51 留言:0更新日期:2021-05-19 22:18
本发明专利技术公开了一种四线制测量多通道导通电阻和绝缘电阻的装置,能够提高对多通道导通电阻和绝缘电阻的测量精度,并提升测量稳定性。本发明专利技术的技术方案为:第一开关卡和第二开关卡结构一致,包括两个测试公共端口以及n对测试总线端口对,开关卡内测试公共端口和测试总线端口对选通连接;公共端口连接至综合控制电路;测试公共端口包括测试正端和测试负端。被测电路连接在第一开关卡和第二开关卡之间。综合控制电路一方面用于调整测试正端的测试控制信号的输入,另一方面还用于获取测试负端的测试信号的输出。数据卡为AD采样卡用于对综合控制端获取的测试信号进行AD采样并输出。测控计算机用于控制综合控制电路和数据卡。控计算机用于控制综合控制电路和数据卡。控计算机用于控制综合控制电路和数据卡。

【技术实现步骤摘要】
一种四线制测量多通道导通电阻和绝缘电阻的装置


[0001]本专利技术涉及自动测量与控制
,具体涉及一种四线制测量多通道导通电阻和绝缘电阻的装置。

技术介绍

[0002]目前,在一些需要进行多通道的导通电阻和绝缘电阻连续测量的场合,主要解决类似装置在实际使用过程中导通电阻测量精度不高的问题。在已有的多通道导通电阻和绝缘电阻测试系统中,一般采用的是两线制测量电阻方式,导通电阻测量和绝缘电阻测量共用测试线路,测量模式切换通过电路完成。
[0003]两线制测量多通道导通电阻和绝缘电阻装置一般由计算机、模拟信号采样电路、低压恒流源、高压激励源、限流电阻、标准电阻、模式切换电路、2线多路开关矩阵电路、测试总线接口、反馈和电压取样电路等部分组成。这种装置的测试结果受测试线路和继电器矩阵电路自身内阻影响,实际测量误差较大,且随时间变化。
[0004]因此目前针对一些需要进行多通道导通电阻和绝缘电阻连续测量的场合,存在测量误差大、测量稳定性低的问题。

技术实现思路

[0005]有鉴于此,本专利技术提供了一种四线制测量多通道导本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种四线制测量多通道导通电阻和绝缘电阻的装置,其特征在于,包括测控计算机、数据卡、综合控制电路、第一开关卡、第二开关卡以及被测线路;所述第一开关卡和第二开关卡结构一致,前端包括两个测试公共端口,后端包括n对测试总线端口对,开关卡内测试公共端口和测试总线端口对选通连接;所述测试公共端口连接至所述综合控制电路;测试公共端口包括测试正端和测试负端,其中测试正端用于测试信号的输入,测试负端用于测试信号的输出;一对测试总线端口对对应一个通道,n为通道总数;所述被测电路一端连接第一开关卡上的一对测试总线端口对,另一端连接第二开关卡上的一对测试总线端口对;所述综合控制电路一方面用于调整测试正端的测试控制信号的输入,另一方面还用于获取测试负端的测试信号的输出;所述数据卡为AD采样卡用于对所述综合控制端获取的测试信号进行AD采样并输出;所述测控计算机用于控制所述综合控制电路和所述数据卡。2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述综合控制电路包括250V电源,恒流源、衰减器、差分放大器、信号隔离器、第一切换开关和第二切换开关以及电阻;所述第一切换开关为单刀双掷开关,包括一个动端和两个不动端,第一切换开关的动端连接第一开关卡的测试正端COM1+;第一切换开关的其中一个不动端通过第一电阻连接250电源,第一切换开关的另一个不动端通过第二电阻连接恒流源;所述第二切换开关为单刀双掷开关,包括一个动端和两个不动端,第二切换开关的动端连接第二开关卡的测试正端COM2+;第二切换开关的两个不动端分别经第三电阻和第四电阻接地;所述250V电源连接所述衰减器;所述衰减器引出第一测试信号采样端;所述第一开关卡的测试负端COM1

和所述第二开关卡的测试负端COM2

均连接所述信号隔离器的输入端;所述信号隔离器的输出端连接所述差分放大器;所述差分放大器的输出端引出第二测试信号采样端;所述第二切换开关中连接第三电阻的不动端引出第三测试信号采样端,所述第二切换开关中连接第四电阻的不动端引出第四测试信号采样端;第一~第四测试信号采样端均连接至所述AD采样卡。3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述第一电阻为1MΩ,所述第二电阻为50Ω,所述第三电阻为50Ω,所述第四电阻为...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑凤武龚成刘洁陈阳李华文
申请(专利权)人:中国船舶重工集团有限公司第七一零研究所
类型:发明
国别省市:

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