分析方法、分析装置及程序制造方法及图纸

技术编号:28489834 阅读:20 留言:0更新日期:2021-05-19 22:09
分析方法是使配置于分析装置的离子化部的试样在与溶剂接触的状态下离子化而进行分析的分析方法,所述分析方法包括:第一质量分析,使未与试样接触的溶剂附着于探针之后,进行附着于探针的溶剂的质量分析,获取第一测定数据;第二质量分析,继第一质量分析之后进行,使溶剂中的试样附着于探针,或使附着于探针的试样与溶剂接触之后,进行附着于探针的溶剂及试样的质量分析,获取第二测定数据;以及基于第一测定数据及第二测定数据,生成与试样相对应的测定数据。应的测定数据。应的测定数据。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】分析方法、分析装置及程序


[0001]本专利技术是有关于一种分析方法、分析装置及程序。

技术介绍

[0002]利用探针电洒离子化(Probe ElectroSpray Ionization,PESI)的质量分析(以下适当称为PESI质量分析)无需进行前处理,故具有如下各种优点:可使自活的生物等采集的试样迅速离子化;可容易地进行刺入探针的各个位置上的试样成分的比较等。
[0003]进行PESI的PESI离子源包括:探针,前端的直径为数百纳米(nm)等;移动部,使探针或试样中的至少一者移动;以及高电压施加部,对探针施加数千伏(kV)等的高电压。在PESI中,通过利用移动部的移动来使试样附着于探针,并通过高电压施加部,对试样所附着的探针施加高电压。于是,通过电洒现象,使试样中的成分释放至周围环境而离子化。此处,为了使试样有效率地离子化,优选为在试样与溶剂接触的状态下对探针施加高电压(参照专利文献1)。
[0004]为了充分利用PESI的特征,已提出离子化时的试样及溶剂的配置的方法。例如,在专利文献2中,记载有一种分析方法,将溶剂供给部配置于试样的上表面而进行PESI,所述溶剂供给部收容溶剂,且具有两个膜体。
[0005][现有技术文献][0006][专利文献][0007]专利文献1:国际公开第2010/047399号
[0008]专利文献2:国际公开第2017/154240号

技术实现思路

[0009][专利技术所要解决的问题][0010]在通过溶剂所附着的试样的PESI质量分析而获得的检测信号(以下称为溶剂

试样检测信号)中,包括与来源于试样的离子相对应的检测信号、及与来源于溶剂的离子相对应的检测信号。为了区分出与来源于试样的离子相对应的检测信号而进行解析,必须获取通过未与试样接触的溶剂的PESI质量分析而获得的检测信号(以下称为溶剂检测信号),基于溶剂

试样检测信号及溶剂检测信号,进行解析。但是,在现有的方法中,在将溶剂所附着的试样配置于离子化部而进行PESI质量分析之后,进行PESI质量分析的分析装置的使用者必须变更离子化部中的配置,而仅将溶剂配置于离子化部来进行PESI质量分析,操作复杂。
[0011][解决问题的技术手段][0012]根据本专利技术的第一形态,分析方法是使配置于分析装置的离子化部的试样在与溶剂接触的状态下离子化而进行分析的分析方法,所述分析方法包括:第一质量分析,使未与所述试样接触的所述溶剂附着于探针之后,进行附着于所述探针的所述溶剂的离子化,通过质量分析而检测所生成的离子,获取第一测定数据;第二质量分析,继所述第一质量分析之后进行,使所述溶剂中的所述试样附着于所述探针,或使所述试样附着于所述探针并使
附着于所述探针的所述试样与所述溶剂接触之后,使附着于所述探针的所述溶剂及所述试样离子化,通过质量分析而检测所生成的离子,获取第二测定数据;以及测定数据生成,基于所述第一测定数据及所述第二测定数据,生成与所述试样相对应的测定数据。
[0013]根据本专利技术的第二形态,在第一形态的分析方法中,优选为:所述试样及所述溶剂配置于所述离子化部的离子化室的内部。
[0014]根据本专利技术的第三形态,在第一形态或第二形态的分析方法中,优选为:在自所述第一质量分析开始起至所述第二质量分析结束为止的期间,使用者不对所述试样及所述溶剂进行操作。
[0015]根据本专利技术的第四形态,在第一形态至第三形态中任一形态的分析方法中,优选为:在自所述第一质量分析开始起至所述第二质量分析结束为止的期间,使用者不更换配置所述试样或所述溶剂的试样板。
[0016]根据本专利技术的第五形态,在第一形态至第四形态中任一形态的分析方法中,优选为:在所述测定数据生成中,自所述第二测定数据中的与m/z相对应的检测强度,减去所述第一测定数据中的与所述m/z相对应的检测强度而制作与所述试样相对应的测定数据。
[0017]根据本专利技术的第六形态,分析装置包括离子化部,用于如下的分析方法,所述分析方法是使配置于所述离子化部的试样在与溶剂接触的状态下离子化而进行分析的方法,所述分析装置包括:测定部,进行第一质量分析及第二质量分析,所述第一质量分析是使未与所述试样接触的所述溶剂附着于探针之后,进行附着于所述探针的所述溶剂的离子化,通过质量分析而检测所生成的离子,获取第一测定数据,所述第二质量分析是继所述第一质量分析之后进行,使所述溶剂中的所述试样附着于所述探针,或使所述试样附着于所述探针并使附着于所述探针的所述试样与所述溶剂接触之后,使附着于所述探针的所述溶剂及所述试样离子化,通过质量分析而检测所生成的离子,获取第二测定数据;以及解析部,基于所述第一测定数据及所述第二测定数据,生成与所述试样相对应的测定数据。
[0018]根据本专利技术的第七形态,程序是用以使处理装置进行如下的处理的程序,所述处理包括:第一质量分析的控制处理,在配置有试样及溶剂的分析装置的离子化部中,使未与所述试样接触的所述溶剂附着于探针之后,进行附着于所述探针的所述溶剂的离子化,通过质量分析而检测所生成的离子,获取第一测定数据;第二质量分析的控制处理,继所述第一质量分析之后进行,使所述溶剂中的所述试样附着于所述探针,或使所述试样附着于所述探针并使附着于所述探针的所述试样与所述溶剂接触之后,使附着于所述探针的所述溶剂及所述试样离子化,通过质量分析而检测所生成的离子,获取第二测定数据;以及测定数据生成处理,基于所述第一测定数据及所述第二测定数据,生成与所述试样相对应的测定数据。
[0019][专利技术的效果][0020]根据本专利技术,可一面充分利用PESI的优点,一面不费工夫地迅速进行试样S的分析。
附图说明
[0021]图1是表示一实施形态的分析方法的分析装置的结构的概念图。
[0022]图2(A)是示意性地表示溶剂供给部的剖面图,图2(B)是示意性地表示溶剂供给部
的顶视图,图2(C)是用以说明一实施形态的分析方法的概念图。
[0023]图3(A)是用以说明对溶剂进行PESI质量分析的情况的概念图,图3(B)是用以说明对试样及溶剂进行PESI质量分析的情况的概念图。
[0024]图4是表示一实施形态的分析方法的流程的流程图。
[0025]图5(A)是用以说明对溶剂进行PESI质量分析的情况的概念图,图5(B)是用以说明对试样及溶剂进行PESI质量分析的情况的概念图。
[0026]图6(A)是示意性地表示试样板的顶视图,图6(B)及图6(C)是示意性地表示试样板的侧视图,图6(D)是用以说明试样板的开闭的概念图。
[0027]图7(A)是示意性地表示打开的试样板的剖面图,图7(B)是示意性地表示关闭的试样板的剖面图。
[0028]图8(A)、图8(B)及图8(C)是用以说明相对于试样板的试样的配置的概念图。
[0029]图9(A)是用以说明对溶剂进行PESI质量分析的情况的概念图,图9(B)是用以说明对试样及对本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种分析方法,使配置于分析装置的离子化部的试样在与溶剂接触的状态下离子化而进行分析,所述分析方法包括:第一质量分析,使未与所述试样接触的所述溶剂附着于探针之后,进行附着于所述探针的所述溶剂的离子化,通过质量分析而检测所生成的离子,获取第一测定数据;第二质量分析,继所述第一质量分析之后进行,使所述溶剂中的所述试样附着于所述探针,或使所述试样附着于所述探针并使附着于所述探针的所述试样与所述溶剂接触之后,使附着于所述探针的所述溶剂及所述试样离子化,通过质量分析而检测所生成的离子,获取第二测定数据;以及测定数据生成,基于所述第一测定数据及所述第二测定数据,生成与所述试样相对应的测定数据。2.根据权利要求1所述的分析方法,其中所述试样及所述溶剂配置于所述离子化部的离子化室的内部。3.根据权利要求1或2所述的分析方法,其中在自所述第一质量分析开始起至所述第二质量分析结束为止的期间,使用者不对所述试样及所述溶剂的配置进行操作。4.根据权利要求1至3中任一项所述的分析方法,其中在自所述第一质量分析开始起至所述第二质量分析结束为止的期间,使用者不更换配置所述试样或所述溶剂的试样板。5.根据权利要求1至4中任一项所述的分析方法,其中在所述测定数据生成中,自所述第二测定数据中的与m/z相对应的检测强度,减去所述第一测定数据中的与所述m/z相对应的检测强度而制作与所述试样相对应的测定数据。6.一种分析装置,包括离子化部,且用于如下的分析方法,所述分析方...

【专利技术属性】
技术研发人员:村田匡藤田慎二郎
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所
类型:发明
国别省市:

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