成像数据解析装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及成像数据解析装置，若用户在试样的显微观察图像上对差异解析的对象的多个组指定感兴趣区域，则m/z候选探索部(32)基于收集的质谱数据探索被推测为存在差异的m/z候选。强度直方图生成处理部(33)对每个m/z候选生成示出各组的感兴趣区域所含的测量点中的峰强度的频率分布的图表并显示。在该图表示出多峰性的情况下，由于是不符合统计假设检验的数据分布，因此强度范围确定部(34)根据用户的指示限定强度范围，ROI修正部(35)仅对具有限定强度范围所含的峰强度的测量点修正ROI。而且，检验处理部(36)使用与修正后ROI对应的数据进行统计假设检验。由此，即使由用户设定的开始的感兴趣区域不恰当，也能够进行可靠性高的差异解析。的差异解析。的差异解析。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】成像数据解析装置


[0001]本专利技术涉及一种成像数据解析装置，该成像数据解析装置解析处理通过质量分析成像法、红外成像法、拉曼成像法等可对试样上的二维区域内的或者试样中的三维区域内的大量微量区域的每一个获取与质荷比或波长等相关的光谱的分析方法得到的数据。

技术介绍

[0002]成像质量分析装置是可通过光学显微镜观察生物体组织切片等试样的表面形态，同时测量同一试样表面中的具有特定的质荷比m/z的离子的二维强度分布的装置(参照专利文献1等)。可使用成像质量分析装置观察例如癌等特定的疾病中针对源自特征性地出现的化合物的离子的质量分析成像图像，从而掌握该疾病的扩散情况等。由此，近年来正在积极地进行利用成像质量分析装置解析以生物体组织切片等为对象的药代动力学解析或各器官中的化合物分布的差异、或者癌等病理部位和正常部位之间的化合物分布的差异等的研究。
[0003]在进行这样的解析时，通常来说，首先用户(解析负责人)在光学显微图像上或质量分析成像图像上设定想要比较的多个组所分别包括的一个或者多个感兴趣区域(Region Of Interest＝ROI)。然后，使用该感兴趣区域所包括的微小区域中的质谱数据进行多个组之间的差异解析或比较解析(参照专利文献2等)。例如，只要进行在病理部位等第1组和正常部位等第2组之间的差异解析来判明确认到显著性差异的质荷比，则存在与该质荷比相对应的化合物能够作为用于识别第1组和第2组、即用于识别是否罹患疾病的标志而利用的可能性。此外，也正在进行对细胞等的光学显微图像或相位差显微图像自动识别细胞所存在的区域来设定感兴趣区域来代替如上所述地由用户设定感兴趣区域的尝试。
[0004]在上述比较解析或差异解析中，经常利用t检验、F检验、ANOVA(分散分析)等统计假设检验。t检验或F检验用于两个组之间的差异解析或比较解析，ANOVA用于三个以上的组之间的差异解析或比较解析。
[0005]现有技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1：国际公开第2018/037491号册
[0008]专利文献2：国际公开第2018/131274号册

技术实现思路

[0009]专利技术要解决的技术问题
[0010]如上述那样的一般的统计假设检验通常将作为解析对象的数据的频率分布为正态分布等单峰性分布的情况当作前提。然而，无论是在用户手动地设定感兴趣区域的情况、还是自动地确定感兴趣区域的情况中的任一情况下，都难以以完全不包括用户不期望或者不想要的微小区域的方式来设定感兴趣区域的范围。此外，在用户手动地设定感兴趣区域的情况下，为了以完全不包括用户不期望或者不想要的微小区域的方式来设定感兴趣区域
的范围，有时还需要操作者具有高超的技术和经验。由此，感兴趣区域所包括的微小区域中的数据的频率分布不限于成为能够恰当地应用统计假设检验的状态，因此有时难以维持这种检验的可靠性。此外，即使假设检验以较高的可靠性进行，也难以验证数据的频率分布是否恰当。
[0011]本专利技术是为了解决上述技术问题而完成的，其主要目的在于提供一种成像数据解析装置，该成像数据解析装置能够在光学显微图像等中设定与多个组分别相对应的1个或者多个感兴趣区域之后进行统计假设检验等差异解析或比较解析时，避免由感兴趣区域的设定不恰当而引起的解析精度的降低。
[0012]用于解决上述技术问题的方案
[0013]为了解决上述技术问题而完成的本专利技术的第1方案是一种成像数据解析装置，可基于通过对试样上的二维的或者试样中的三维的测量区域内所设定的多个微小区域分别进行规定的分析而获取到的、示出规定的参数和信号强度的关系的光谱数据，生成示出规定的参数值或者规定的参数值范围的信号强度的二维分布或者三维分布的成像图像，该成像数据解析装置具备：
[0014]感兴趣区域设定部，在二维的或者三维的测量区域内，设定一个或者多个局部的感兴趣区域；
[0015]感兴趣区域对应数据选择部，从针对由所述感兴趣区域设定部设定的感兴趣区域所包括的多个微小区域得到的光谱数据中，获取与该感兴趣区域相对应的规定的参数值或者规定的参数值范围的信号强度；
[0016]强度范围确定部，基于通过所述感兴趣区域对应数据选择部而获取到的多个信号强度的频率分布，确定作为解析对象的信号强度的范围；
[0017]感兴趣区域确定部，在通过所述感兴趣区域对应数据选择部而获取到的信号强度中，将对得到了由所述强度范围确定部确定的信号强度范围所包括的信号强度的微小区域进行集合而得的区域确定为由所述感兴趣区域设定部设定的感兴趣区域中的实质的感兴趣区域。
[0018]此外，为了解决上述技术问题而完成的本专利技术的第2方案是一种成像数据解析装置，可基于通过对试样上的二维的或者试样中的三维的测量区域内所设定的多个微小区域分别进行规定的分析而获取到的、示出规定的参数和信号强度的关系的光谱数据，生成示出规定的参数值或者规定的参数值范围的信号强度的二维分布或者三维分布的成像图像，该成像数据解析装置具备：
[0019]感兴趣区域设定部，在二维的或者三维的测量区域内，设定一个或者多个局部的感兴趣区域；
[0020]感兴趣区域对应数据选择部，从针对由所述感兴趣区域设定部设定的感兴趣区域所包括的多个微小区域得到的光谱数据中，获取与该感兴趣区域相对应的规定的参数值或者规定的参数值范围的信号强度；
[0021]强度范围确定部，基于通过所述感兴趣区域对应数据选择部而获取到的多个信号强度的频率分布，确定作为解析对象的信号强度的范围；
[0022]解析执行部，在通过所述感兴趣区域对应数据选择部而获取到的多个信号强度中，使用由所述强度范围确定部确定的信号强度范围所包括的信号强度来执行规定的解析
处理。
[0023]在本专利技术中，“规定的分析”典型地是指质量分析，在该情况下，“规定的参数”是质荷比。此时，光谱数据是指质谱数据。
[0024]此外，“规定的分析”可以是红外分光测量(包括傅里叶变换红外分光测量)、拉曼分光测量，在该情况下，“规定的参数”是波长或作为其倒数的波数。
[0025]进而此外，“规定的分析”可以是X射线分光测量，在该情况下，“规定的参数”是X射线的波长或能量。
[0026]此外，本专利技术中的“通过对试样中的三维的测量区域内所设定的多个微小区域分别进行规定的分析而获取到的”“光谱数据”例如能够设为，对通过将具有三维大小的试样极薄地连续地切削而生成的大量试样切片，集合分别通过执行二维分析而收集到的光谱数据，由此使其三维化而得的光谱数据。
[0027]在本专利技术中，感兴趣区域设定部在试样上的二维的或者试样中的三维的测量区域内，设定一个或者多个局部的感兴趣区域。在此所说的感兴趣区域典型地是指用户作为解析对象所关注的区域。例如，在将生物体组织中的病理部位和正常部位的差异的解析作为目的的解析的情况下，被推测为病理部位的范围、被推测为正常部位的范围等为感兴趣区域。此外，在将存在于特定的细胞中的化合物的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种成像数据解析装置，可基于通过对试样上的二维的或者试样中的三维的测量区域内所设定的多个微小区域分别进行规定的分析而获取到的、示出规定的参数和信号强度的关系的光谱数据，生成示出规定的参数值或者规定的参数值范围的信号强度的二维分布或者三维分布的成像图像，其特征在于，所述成像数据解析装置具备：感兴趣区域设定部，在二维的或者三维的测量区域内，设定一个或者多个局部的感兴趣区域；感兴趣区域对应数据选择部，从针对由所述感兴趣区域设定部设定的感兴趣区域所包括的多个微小区域得到的光谱数据中，获取与该感兴趣区域相对应的、规定的参数值或者规定的参数值范围的信号强度；强度范围确定部，基于通过所述感兴趣区域对应数据选择部而获取到的多个信号强度的频率分布，确定作为解析对象的信号强度的范围；感兴趣区域确定部，在通过所述感兴趣区域对应数据选择部而获取到的信号强度中，将对得到了由所述强度范围确定部确定的信号强度范围所包括的信号强度的微小区域进行集合而得的区域，确定为由所述感兴趣区域设定部设定的感兴趣区域中的实质的感兴趣区域。2.一种成像数据解析装置，可基于通过对试样上的二维的或者试样中的三维的测量区域内所设定的多个微小区域分别进行规定的分析而获取到的、示出规定的参数和信号强度的关系的光谱数据，生成示出规定的参数值或者规定的参数值范围的信号强度的二维分布或者三维分布的成像图像，其特征在于，所述成像数据解析装置具备：感兴趣区域设定部，在二维的或者三维的测量区域内，设定一个或者多个局部的感兴趣区域；感兴趣区域对应数据选择部，从针对由所述感兴趣区域设定部设定的感兴趣区域所包括的多个微小区域得到的光谱数据中，获取与该感兴趣区域相对应的、规定的参数值或者规定的参数值范围的信号强度；强度范围确定部，基于通过所述感兴趣区域对应数据选择部而获取到的多个信号强度的频率分布，确定作为解析对象的信号强度的范围；解析执行部，在通过所述感兴趣区域对应数据选择部而获取到的多个信号强度中，使用由所述强度范围确定部确定的信号强度范围所包括的信号强度来执行规定的解析处理。3.如权利要求1所述的成像数据解析装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：山口真一，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：