一种快速查找表线长模型可微化方法技术

一种快速查找表线长模型可微化方法，包括以下步骤：基于快速查找表线长模型，将快速查找表模型转换为半周长模型和双点模型的和；对半周长模型和双点模型分别进行可微化，实现对快速查找表模型的可微化。本发明专利技术的快速查找表线长模型可微化方法，通过解析法布局器在布局后进行实际全局绕线，其绕线长度比没有使用可微化快速查找表线长模型的解析法布局器的绕线长度要短，实现了对实际绕线长度的更好的逼近。近。近。

【技术实现步骤摘要】
一种快速查找表线长模型可微化方法


[0001]本专利技术涉及半导体集成电路设计
，特别是涉及半导体集成电路设计工具后端布局中线长优化模型。

技术介绍

[0002]在半导体集成电路设计中，有多种解析法线长优化模型，典型的方法有基于半周长的解析法线长优化模型和基于最小生成树的解析法线长优化模型，不同的线长模型对实际绕线的逼近程度不同，在布局器中的运行效果也不尽相同。解析法线长优化模型所追求的目标就是在保证优化模型数学完整性的基础上尽可能地逼近实际的绕线长度。
[0003]解析法布局器在布局中起着至关重要的作用。一个既能保证数学完备性，又能够尽可能地逼近实际绕线长度的解析法线长优化模型是很重要的。对于现代集成电路后端布局，一个好的线长优化模型能够为客户带来可观的芯片性能的提升，同时降低成本。
[0004]随着集成电路设计工艺技术的不断提升，客户对芯片功耗性能以及成本要求的不断提高，芯片设计者对后端设计软件的要求也在不断提高。因此后端布局器包括线长优化模型都需要同步进行提升，设计更先进的线长优化模型也就自然成了后端布局器设计中比较重要的一部分。
[0005]现有技术中，比较流行的解析法线长优化模型为基于半周长模型的解析法线长优化模型，主要原因是其计算简单效率高。然而其缺点也十分明显，就是对实际绕线长度的逼近程度比较差。也有论文指出一些对半周长模型的改进方法，然后其仅仅是对误差的一种修正，没有真正从数学角度去逼近实际绕线长度。基于最小生成树的解析法线长优化模型也是一种常用的方法，其对实际绕线的逼近程度相对于半周长模型有了大大提高，然而同快速查找表线长模型相比，其对实际绕线长度的逼近程度又有一定的差距。没有进行可微化的快速查找表线长模型是不能直接用于解析法布局器的。
[0006]基于半周长模型的解析法线长优化模型对实际绕线长度的逼近程度较低，因此也带来了后续流程中的更多不确定性。基于最小生成树线长模型的解析法线长优化模型在对实际绕线长度的逼近程度上有所提高，但相对于快速查找表线长模型仍有一定差距。快速查找表模型对实际绕线长度的逼近程度高，但是没有可微化模型，因此不能直接用于解析法布局器。

技术实现思路

[0007]为了解决现有技术存在的不足，本专利技术的目的在于提供一种快速查找表线长模型可微化方法，将快速查找表线长模型进行可微化，从而设计出一套可以在解析法布局器中使用的解析法线长优化模型，提高对实际绕线的逼近程度。
[0008]为实现上述目的，本专利技术提供的一种快速查找表线长模型可微化方法，包括以下步骤：基于快速查找表线长模型，将快速查找表线长模型转换为半周长模型和双点模型
的和；对半周长模型和双点模型分别进行可微化，实现对快速查找表模型的可微化。
[0009]进一步的，所述基于快速查找表线长模型，将快速查找表模型转换为半周长模型和双点模型的和的步骤，还包括，根据模型线网生成哈南网格，根据哈南网格得到快速查找表线长。
[0010]进一步的，所述根据哈南网格得到快速查找表线长的步骤，还包括，将快速查找表线长转化为半周长线长与双点线长的和。
[0011]进一步的，所述对半周长模型和双点模型分别进行可微化，实现对快速查找表模型的可微化的步骤，还包括，筛选出线网管脚中x轴最大、y轴最大的管脚和x轴最小、y轴最小的管脚，得到可微化的半周长模型；获取每段快速查找表线长的宽度和高度系数，得到可微化的双点模型。
[0012]进一步的，所述筛选出线网管脚中x轴最大、y轴最大的管脚和x轴最小、y轴最小的管脚，得到可微化的半周长模型的步骤，还包括，分别对x轴最大和y轴最大的管脚进行可微化；分别对x轴最小和y轴最小的管脚进行可微化；将可微化后的x轴最大和y轴最大的管脚减去x轴最小和y轴最小的管脚，得到可微化的半周长模型。
[0013]更进一步的，所述获取每段快速查找表线长的宽度和高度系数，得到可微化的双点模型的步骤，还包括，将线网管脚分别进行x轴坐标和y轴坐标从小到大排列，得到相邻管脚间的宽度和高度，根据宽度和高度系数得到可微化的双点模型。
[0014]为实现上述目的，本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序时执行如上文所述的快速查找表线长模型可微化方法的步骤。
[0015]为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序运行时执行如上文所述的快速查找表线长模型可微化方法的步骤。
[0016]本专利技术的快速查找表线长模型可微化方法，具有以下有益效果：1）使用了可微化的快速查找表模型的解析法布局器在布局后进行实际全局绕线，其绕线长度比没有使用可微化快速查找表线长模型的解析法布局器的绕线长度要短。
[0017]2）将可微化后的模型用于解析法布局器，从而实现了对实际绕线长度的更好的逼近。
[0018]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。
附图说明
[0019]附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本专利技术的实施例一起，用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1为根据本专利技术的快速查找表线长模型可微化方法流程图；图2为根据本专利技术的实施例一4个管脚的可微化模型示意图。
具体实施方式
[0020]以下结合附图对本专利技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0021]本专利技术实施例中，是基于快速查找表线长模型，将快速查找表线长模型转换为半周长模型和双点模型的和，就可以利用对半周长模型和双点模型分别进行可微化，从而达到对快速查找表模型的可微化。对于半周长模型和双点模型，我们使用经典的方法将其进行可微化。
[0022]图1为根据本专利技术的快速查找表线长模型可微化方法流程图，下面将参考图1，对本专利技术的快速查找表线长模型可微化方法进行详细描述。
[0023]首先，在步骤101，基于快速查找表线长模型，将快速查找表线长模型转换为半周长模型和双点模型的和。
[0024]本专利技术实施例中，基于快速查找表线长模型，利用器件管脚的线形成的哈南网格，得到快速查找表线长：FLUTEWL=wh1*h1+wh2*h2+
…
+wv1*v1+wv2*v2+
…
=HPWL+(wh1
‑
1)*h1+(wh2
–
1)*h2+
…
+(wv1
‑
1)*v1+(wv2
‑
1)*v2+
…
（公式1）其中，wh为哈南网格中的每个格子的宽度的系数，wv为哈南网格中的每个格子的高度的系数。
[0025]图2为根据本专利技术的实施例一4个管脚的可微化模型示意图，如图2所示，一个有4个管脚的线网，四个管脚分别是P1，P2，P3和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种快速查找表线长模型可微化方法，其特征在于，包括以下步骤：基于快速查找表线长模型，将快速查找表线长模型转换为半周长模型和双点模型的和；对半周长模型和双点模型分别进行可微化，实现对快速查找表模型的可微化。2.根据权利要求1所述的快速查找表线长模型可微化方法，其特征在于，所述基于快速查找表线长模型，将快速查找表模型分为半周长模型和双点模型的和的步骤，还包括，根据模型线网生成哈南网格，根据哈南网格得到快速查找表线长。3.根据权利要求2所述的快速查找表线长模型可微化方法，其特征在于，所述根据哈南网格得到快速查找表线长的步骤，还包括，将快速查找表线长转化为半周长线长与双点线长的和。4.根据权利要求1所述的快速查找表线长模型可微化方法，其特征在于，所述对半周长模型和双点模型分别进行可微化，实现对快速查找表模型的可微化的步骤，还包括，筛选出线网管脚中x轴最大、y轴最大的管脚和x轴最小、y轴最小的管脚，得到可微化的半周长模型；获取每段快速查找表线长的宽度和高度系数，得到可微化的双点模型。5.根据权利要求4所述的快速查找表线长模...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈刚，骆晨钟，
申请(专利权)人：南京集成电路设计服务产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：