芯片自动测试机制造技术

本发明专利技术涉及检测设备技术领域，具体公开一种芯片自动测试机，包括待测件存储机构、取料机械手、送测输送带、送测载具、送测机械手、测试机构和合格件存储机构；所述待测件存储机构用于存放装载有待测试的芯片的待测料盘；所述合格件存储机构用于存放合格料盘；所述取料机械手用于将所述待测料盘上的芯片放入所述送测载具和将所述送测载具上测试合格的芯片放入所述合格料盘；所述送测输送带用于进行所述取料机械手和送测机械手之间的送测载具转移；所述送测机械手用于进行所述送测载具和测试机构之间的芯片转移。本发明专利技术提供一种芯片自动测试机，能实现芯片电气测试的流水线作业，进而提高测试效率。而提高测试效率。而提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片自动测试机


[0001]本专利技术涉及检测设备
，尤其涉及一种芯片自动测试机。

技术介绍

[0002]芯片出厂前需要进行电气测试，目前市面上并没有专门用于实现芯片电气测试的测试系统，因此，操作工人只能通过小车等工具将芯片依次送去各个工位执行相应的操作，测试效率较低。
[0003]因此，需要研发一种芯片测试系统，用于实现芯片电气测试的流水线作业，进而提高测试效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术的一个目的在于，提供一种芯片自动测试机，能实现芯片电气测试的流水线作业，进而提高测试效率。
[0005]为达以上目的，本专利技术提供一种芯片自动测试机，包括待测件存储机构、取料机械手、送测输送带、送测载具、送测机械手、测试机构和合格件存储机构；
[0006]所述待测件存储机构用于存放装载有待测试的芯片的待测料盘；
[0007]所述合格件存储机构用于存放合格料盘；
[0008]所述取料机械手用于将所述待测料盘上的芯片放入所述送测载具和将所述送测载具上测试合格的芯片放入所述合格料盘；
[0009]所述送测输送带用于进行所述取料机械手和送测机械手之间的送测载具转移；
[0010]所述送测机械手用于进行所述送测载具和测试机构之间的芯片转移。
[0011]可选的，还包括NG件存储机构；
[0012]所述NG件存储机构用于存放NG料盘，所述取料机械手还用于将所述送测载具上测试不合格的芯片放入所述NG料盘。
[0013]可选的，还包括待复测件存储机构；
[0014]所述待复测件存储机构用于存放待复测料盘，所述取料机械手还用于将所述送测载具上需要进行重新测试的的芯片放入所述待复测料盘。
[0015]可选的，还包括空盘存储机构；
[0016]所述空盘存储机构用于存放空载的空载料盘，所述取料机械手还用于将所述空盘存储机构上的空载料盘转移至所述合格件存储机构、NG件存储机构和待复测件存储机构。
[0017]可选的，空盘存储机构、待测件存储机构、合格件存储机构、NG件存储机构和待复测件存储机构并列设置。
[0018]可选的，所述空盘存储机构、待测件存储机构、合格件存储机构、NG件存储机构和待复测件存储机构均包括升降平台和用于驱使所述升降平台上下运动的直线驱动机构。
[0019]可选的，所述送测载具包括待测区域和已测区域；
[0020]所述取料机械手用于将所述待测料盘上的芯片转移至所述送测载具的待测区域；
[0021]所述送测机械手用于将所述测试机构处的芯片转移至所述已测区域。
[0022]可选的，每一所述取料机械手对应设置两所述送测输送带；
[0023]每一所述送测输送带对应设置一所述送测载具和一所述送测机械手；
[0024]每一所述送测机械手对应设置四沿所述送测输送带的送料方向排布的所述测试机构。
[0025]可选的，所述取料机械手的数量为两台。
[0026]本专利技术的有益效果在于：提供一种芯片自动测试机，使用待测件存储机构、取料机械手、送测输送带、送测载具、送测机械手、测试机构和合格件存储机构实现芯片送测时的上下料同源设置，极大的缩减了设备体积，还能实现芯片测试的流水线作业，进而提高测试效率。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0028]图1为实施例提供的芯片自动测试机的俯视示意图；
[0029]图2为实施例提供的送测载具的俯视示意图。
[0030]图中：
[0031]101、空盘存储机构；102、待测件存储机构；103、合格件存储机构；104、NG件存储机构；105、待复测件存储机构；
[0032]201、空载料盘；202、待测料盘；203、合格料盘；204、NG料盘；205、待复测料盘；
[0033]3、取料机械手；
[0034]4、送测输送带；
[0035]5、送测载具；501、待测区域；502、已测区域；
[0036]6、送测机械手；
[0037]7、测试机构。
具体实施方式
[0038]为使得本专利技术的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0039]在本专利技术的描述中，需要理解的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设置在”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组件。
[0040]此外，术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或者位置关系，仅是为了便于描述本专利技术，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有此
特定的方位、以特定的方位构造进行操作，以此不能理解为本专利技术的限制。
[0041]下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本专利技术的技术方案。
[0042]参见图1，本实施例提供一种芯片自动测试机，包括空盘存储机构101、待测件存储机构102、合格件存储机构103、NG件存储机构104、待复测件存储机构105、取料机械手3、送测输送带4、送测载具5、送测机械手6和测试机构7。
[0043]所述空盘存储机构101用于存放空载的空载料盘201，所述待测件存储机构102用于存放装载有待测试的芯片的待测料盘202，所述合格件存储机构103用于存放合格料盘203，所述NG件存储机构104用于存放NG料盘204，所述待复测件存储机构105用于存放待复测料盘205。
[0044]可选的，所述空盘存储机构101、待测件存储机构102、合格件存储机构103、NG件存储机构104和待复测件存储机构105均包括升降平台和用于驱使所述升降平台上下运动的直线驱动机构。
[0045]可选的，所述直线驱动机构为气缸、液压缸或者电机丝杆组件等。
[0046]参见图2，所述送测载具5包括待测区域501和已测区域502。
[0047]本实施例提供的芯片自动测试机工作过程如下：
[0048](1)待测件存储机构102的直线驱动机构驱使升降平台下降至最低点，手动或者使用设备将堆叠放置的待测料盘202放入待测件存储机构102的升降平台中，然后待测件存储机构102的升降平台往上升起；同时，空盘存储机构101的直线驱动机构驱使升降平台下降至最低点，手动或者使用设备将堆叠放置的空本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片自动测试机，其特征在于，包括待测件存储机构、取料机械手、送测输送带、送测载具、送测机械手、测试机构和合格件存储机构；所述待测件存储机构用于存放装载有待测试的芯片的待测料盘；所述合格件存储机构用于存放合格料盘；所述取料机械手用于将所述待测料盘上的芯片放入所述送测载具和将所述送测载具上测试合格的芯片放入所述合格料盘；所述送测输送带用于进行所述取料机械手和送测机械手之间的送测载具转移；所述送测机械手用于进行所述送测载具和测试机构之间的芯片转移。2.根据权利要求1所述的芯片自动测试机，其特征在于，还包括NG件存储机构；所述NG件存储机构用于存放NG料盘，所述取料机械手还用于将所述送测载具上测试不合格的芯片放入所述NG料盘。3.根据权利要求2所述的芯片自动测试机，其特征在于，还包括待复测件存储机构；所述待复测件存储机构用于存放待复测料盘，所述取料机械手还用于将所述送测载具上需要进行重新测试的的芯片放入所述待复测料盘。4.根据权利要求3所述的芯片自动测试机，其特征在于，还包括空盘存储机构；所述空盘存储机构用于存放空载的空载料盘，所述取料机械手还用于将...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈飞宇，梁发年，
申请(专利权)人：深圳市联合东创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：