一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备，包括操作台和第二通孔，所述操作台的上端固定有第一滑轨，且第一滑轨的上端设置有水平基座，所述水平基座的上端固定有第二滑轨，且第二滑轨的上端设置有推板，所述推板的一侧固定有夹持板，且推板的另一侧设置有限位块，所述水平基座的一侧固定有支架，且支架的一侧设置有刻度尺，所述第一通孔的一侧设置有第二通孔，且第一通孔的内部设置有升降柱，所述第二通孔的一侧设置有第二调节钮。该具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备设置有水平基座和第一滑轨，可以便于进行待测量电子组件的放置，避免出现难以放置的问题，便于操作且实用性强。便于操作且实用性强。便于操作且实用性强。

【技术实现步骤摘要】
一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备


[0001]本技术涉及电子组件
，具体为一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备。

技术介绍

[0002]电子组件，是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点，电子组件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路，例如放大器、无线电接收机、振荡器等，连接电子组件常见的方式之一是焊接到印刷电路板上，电子组件也许是单独的封装，或是各种不同复杂度的群组。
[0003]现有的电子组件高度测试设备存在高度不能调节，但是一般的电子组件多种多样，高低不一，导致其检测效率低，耗费时间长，影响测试效率，利用率低、维护费用高等诸多问题，造成大量设备的闲置和资金的浪费，以及数据是否准确，受操作方法的影响很大，当操作方法不正确时，会导致数据不准确的为问题，不能很好的满足人们的使用需求，针对上述情况，在现有的电子组件高度测试设备基础上进行技术创新。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备，以解决上述
技术介绍
中提出现有的电子组件高度测试设备存在高度不能调节，但是一般的电子组件多种多样，高低不一，导致其检测效率低，耗费时间长，影响测试效率，利用率低、维护费用高等诸多问题，造成大量设备的闲置和资金的浪费，以及数据是否准确，受操作方法的影响很大，当操作方法不正确时，会导致数据不准确的为问题，不能很好的满足人们的使用需求问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备，包括操作台和第二通孔，所述操作台的上端固定有第一滑轨，且第一滑轨的上端设置有水平基座，所述水平基座的上端固定有第二滑轨，且第二滑轨的上端设置有推板，所述推板的一侧固定有夹持板，且推板的另一侧设置有限位块，所述水平基座的一侧固定有支架，且支架的一侧设置有刻度尺，所述支架的外壁安装有游动底座，且游动底座的内部设置有第一通孔，所述第一通孔的一侧设置有第二通孔，且第一通孔的内部设置有升降柱，所述升降柱的一侧设置有第一调节钮，且升降柱的底部固定有标尺板，所述第二通孔的一侧设置有第二调节钮。
[0006]优选的，所述水平基座与第一滑轨之间构成滑动结构，且第一滑轨与操作台之间为固定连接。
[0007]优选的，所述推板与第二滑轨之间构成滑动结构，且夹持板与推板之间为固定连接。
[0008]优选的，所述第二滑轨与水平基座之间为固定连接，且限位块与第二滑轨之间构成可拆卸结构。
[0009]优选的，所述升降柱贯穿于第一通孔的内部，且标尺板与升降柱之间为固定连接。
[0010]优选的，所述支架贯穿于第二通孔的内部，且第二调节钮与游动底座之间为螺纹连接。
[0011]优选的，所述刻度尺与支架之间为胶粘连接，且刻度尺的中轴线与支架之间相重合。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：该具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备设置有
[0013]1、设置有水平基座和第一滑轨，可以便于进行待测量电子组件的放置，避免出现难以放置的问题，便于操作且实用性强；设置的推板和第二滑轨，可以将需要进行高度测量的电子组件固定住，避免活动影响测量结果，使误差减小到最低；
[0014]2、设置有限位块，可以向内推动限位块使推板紧紧与待测量的电子组件贴合在一起，避免推板来回活动，确保了该设备的稳定性；设置的升降柱和标尺板，可以使升降柱固定在游动底座的内部，避免在观察测量结果的时候出现晃动导致重新测量；
[0015]3、设置有支架、第二通孔和第二调节钮，可以使测量组件与标尺板固定住，使测量结果的显示更加准确，防止偏移导致测量结果出现偏差；设置的刻度尺，可以使测量结果更加直观的显示出来，让工作人员能够更加方便的记录下测量结果。
附图说明
[0016]图1为本技术主视结构示意图；
[0017]图2为本技术左视结构示意图；
[0018]图3为本技术水平基座俯视结构示意图；
[0019]图4为本技术俯视结构示意图。
[0020]图中：1、操作台；2、第一滑轨；3、水平基座；4、第二滑轨；5、推板； 6、夹持板；7、限位块；8、支架；9、游动底座；10、升降柱；11、第一调节钮；12、标尺板；13、刻度尺；14、第二调节钮；15、第一通孔；16、第二通孔。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]请参阅图1
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4，本技术提供一种技术方案：一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备，包括操作台1、第一滑轨2、水平基座3、第二滑轨 4、推板5、夹持板6、限位块7、支架8、游动底座9、升降柱10、第一调节钮11、标尺板12、刻度尺13、第二调节钮14、第一通孔15和第二通孔16，操作台1的上端固定有第一滑轨2，且第一滑轨2的上端设置有水平基座3，水平基座3的上端固定有第二滑轨4，且第二滑轨4的上端设置有推板5，推板5的一侧固定有夹持板6，且推板5的另一侧设置有限位块7，水平基座3 的一侧固定有支架8，且支架8的一侧设置有刻度尺13，支架8的外壁安装有游动底座9，且游动底座9的内部设置有第一通孔15，第一通孔15的一侧设置有第二通孔16，且第一通孔15的内部设置有升降柱10，升降柱10
的一侧设置有第一调节钮11，且升降柱10的底部固定有标尺板12，第二通孔16 的一侧设置有第二调节钮14。
[0023]本实现新型中：水平基座3与第一滑轨2之间构成滑动结构，且第一滑轨2与操作台1之间为固定连接；设置有水平基座3和第一滑轨2，可以便于进行待测量电子组件的放置，避免出现难以放置的问题，便于操作且实用性强。
[0024]本实现新型中：推板5与第二滑轨4之间构成滑动结构，且夹持板6与推板5之间为固定连接；设置有推板5和第二滑轨4，可以将需要进行高度测量的电子组件固定住，避免活动影响测量结果，使误差减小到最低。
[0025]本实现新型中：第二滑轨4与水平基座3之间为固定连接，且限位块7 与第二滑轨4之间构成可拆卸结构；设置有限位块7，可以向内推动限位块7 使推板5紧紧与待测量的电子组件贴合在一起，避免推板5来回活动，确保了该设备的稳定性。
[0026]本实现新型中：升降柱10贯穿于第一通孔15的内部，且标尺板12与升降柱10之间为固定连接；设置有升降柱10和标尺板12，可以使升降柱10固定在游动底座9的内部，避免在观察测量结果的时候出现晃动导致重新测量。
[0027]本实现新型中：支架8贯穿于第二通孔16的内部，且第二调节钮14与游动底座9之间为螺纹连本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备，包括操作台(1)和第二通孔(16)，其特征在于：所述操作台(1)的上端固定有第一滑轨(2)，且第一滑轨(2)的上端设置有水平基座(3)，所述水平基座(3)的上端固定有第二滑轨(4)，且第二滑轨(4)的上端设置有推板(5)，所述推板(5)的一侧固定有夹持板(6)，且推板(5)的另一侧设置有限位块(7)，所述水平基座(3)的一侧固定有支架(8)，且支架(8)的一侧设置有刻度尺(13)，所述支架(8)的外壁安装有游动底座(9)，且游动底座(9)的内部设置有第一通孔(15)，所述第一通孔(15)的一侧设置有第二通孔(16)，且第一通孔(15)的内部设置有升降柱(10)，所述升降柱(10)的一侧设置有第一调节钮(11)，且升降柱(10)的底部固定有标尺板(12)，所述第二通孔(16)的一侧设置有第二调节钮(14)。2.根据权利要求1所述的一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备，其特征在于：所述水平基座(3)与第一滑轨(2)之间构成滑动结构，且第一滑轨(2)与操...

【专利技术属性】
技术研发人员：田林，刘斐，
申请(专利权)人：无锡雷菲电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：