一种双头单转动式测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种双头单转动式测试探针，包括一针管，所述针管包含开口端和铆口端，针管的内壁上形成有内套，所述内套的轴向至少设置有一个滑槽；一第一针轴，所述第一针轴设置在所述针管内，第一针轴的头部从所述开口端伸出，第一针轴的尾部外壁上设置有与所述滑槽匹配的同等数量的滑块；一第二针轴，所述第二针轴的头部从所述铆口端伸出；一弹簧，所述弹簧设置在针管内，弹簧的两端分别抵压在第一针轴、第二针轴的尾部。该双头单转动式测试探针，解决了双头单转动的测试探针进行组装时，当第一针轴装入针管中未打点固定前，容易发生偏移脱落的问题。发生偏移脱落的问题。发生偏移脱落的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种双头单转动式测试探针


[0001]本技术属于精密五金组装
，尤其是涉及一种双头单转动式测试探针。

技术介绍

[0002]测试探针是一种广泛应用于测试半导体、PCB板、FPC等起连接作用的精密探针。随着被测物越来越小，测试探针也在减小，与此同时也增加了产品的加工难度，特别是对双头单转动的测试探针组装带来较大挑战。
[0003]双头单转动的测试探针主要由第一针轴、针管、弹簧和第二针轴构成，现有组装工艺一般是先将第一针轴装入针管中并进行打点固定，然后将弹簧、第二针轴从针管的另一端依次装入，最后加工铆口完成封装。该组装工艺的难点在于，装配第一针轴时因产品尺寸较小，第一针轴装入针管中未打点固定前，容易发生偏移脱落，致使组装后的测试探针报废率较高。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种双头单转动式测试探针，以解决双头单转动的测试探针进行组装时，当第一针轴装入针管中未打点固定前，容易发生偏移脱落的问题。
[0005]为了实现上述目的，本技术所采用的技术方案是：一种双头单转动式测试探针，包括：
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双头单转动式测试探针，其特征在于，包括：一针管（5），所述针管（5）包含开口端和铆口端，针管（5）的内壁上形成有内套（4），所述内套（4）的轴向至少设置有一个滑槽；一第一针轴（1），所述第一针轴（1）设置在所述针管（5）内，第一针轴（1）的头部从所述开口端伸出，第一针轴（1）的尾部外壁上设置有与所述滑槽匹配的同等数量的滑块（9）；一第二针轴（7），所述第二针轴（7）的头部从所述铆口端伸出；一弹簧（6），所述弹簧（6）设置在针管（5）内，弹簧（6）的两端分别抵压在第一针轴（1）、第二针轴（7）的尾部。2.根据权利要求1所述的双头单转动式测试探针，其特征在于，所述第一针轴（1）的尾部端面上设置有第一环...

【专利技术属性】
技术研发人员：李红叶，张小英，申啸，
申请(专利权)人：渭南高新区木王科技有限公司，
类型：新型
国别省市：