一种用于多线激光雷达的一致性检测装置及其方法。该用于多线激光雷达的一致性检测装置供检测该多线激光雷达中的多个光电传感器，包括：一光源单元，其中该光源单元用于提供光束；一匀光单元，其中该匀光单元适于被设置于该光源单元和该多个光电传感器之间的光路，用于均匀化处理经由该光源单元提供的光束，以形成均匀光束；以及一控制模块，其中该控制模块适于可通信地连接该多个光电传感器，用于控制该多个光电传感器同步地接收该均匀光束，并监测该多个光电传感器的敏感程度。测该多个光电传感器的敏感程度。测该多个光电传感器的敏感程度。
【技术实现步骤摘要】
用于多线激光雷达的一致性检测装置及其方法
[0001]本专利技术涉及激光雷达
，更具体地涉及一种用于多线激光雷达的一致性检测装置及其方法。
技术介绍
[0002]随着诸如无人驾驶等技术的进一步发展和应用，无人驾驶等产业链也得到了高速发展。由于这些产业应用所使用的激光雷达往往需要覆盖不同功能的距离范围，导致单线激光雷达无法满足这种需求，因此多线激光雷达已经成为了常用的激光雷达，其通常通过多个激光发射器发射多束在垂直方向上分布的光束，并通过电机的360
°
旋转形成多条线束的扫描；与此同时，通过同样数量的光电传感器来接收相应的被目标反射或散射回的光束，以实现雷达探测工作。
[0003]目前，常用的多线激光雷达通常是16线、32线、48线、64线或128线的激光雷达，特别是随着高精度的探测需求，多线激光雷达所要达到的线束数量也随之变多，导致该多线激光雷达需要越来越多的诸如雪崩光电二极管等光电传感器。例如，对于128线的激光雷达而言，该128线的激光雷达需要128颗雪崩光电二极管。而在实际工作时发现：作为激光雷达的核心电子元器件，虽然该128颗雪崩光电二极管通过批量化生产而获得，但是该128颗雪崩光电二极管的敏感度往往会存在差异，进而导致该128颗雪崩光电二极管在同步使用的过程中出现响应不一致的问题，这会严重影响激光雷达的探测工作。而目前市面上并没有相对应的检测方案和设备，导致激光雷达的探测性能主要是依赖诸如雪崩光电二极管等光电传感器的自身质量。
技术实现思路
[0004]本专利技术的一优势在于提供一种用于多线激光雷达的一致性检测装置及其方法，其能够对所述多线激光雷达的多个光电传感器进行一致性检测，进而确定所述多线激光雷达的一致性效果。
[0005]本专利技术的另一优势在于提供一种用于多线激光雷达的一致性检测装置及其方法，其中，在本专利技术的一实施例中，所述用于多线激光雷达的一致性检测装置能够为所述多个光电传感器提供基本相同的条件，有助于提高一致性检测的准确性。
[0006]本专利技术的另一优势在于提供一种用于多线激光雷达的一致性检测装置及其方法，其中，在本专利技术的一实施例中，所述用于多线激光雷达的一致性检测装置能够一次性读取所述多个光电传感器的信息，便于快速准确地判断所述多个光电传感器的灵敏度情况。
[0007]本专利技术的另一优势在于提供一种用于多线激光雷达的一致性检测装置及其方法，其中，在本专利技术的一实施例中，所述用于多线激光雷达的一致性检测装置能够便捷地装卸所述多个光电传感器，有助于对不同的所述多线激光雷达的光电传感器进行一致性检测，进而实现规模化检测。
[0008]本专利技术的另一优势在于提供一种用于多线激光雷达的一致性检测装置及其方法，
其中，在本专利技术的一实施例中，所述用于多线激光雷达的一致性检测装置能够提供均匀性较好的光照，以确保一致性检测的准确性。
[0009]本专利技术的另一优势在于提供一种用于多线激光雷达的一致性检测装置及其方法，其中为了达到上述优势，在本专利技术中不需要采用昂贵的材料或复杂的结构。因此，本专利技术成功和有效地提供一解决方案，不只提供一简单的用于多线激光雷达的一致性检测装置及其方法，同时还增加了所述用于多线激光雷达的一致性检测装置及其方法的实用性和可靠性。
[0010]为了实现上述至少一优势或其他优势和目的，本专利技术提供了用于多线激光雷达的一致性检测装置，供检测该多线激光雷达中的多个光电传感器，包括：
[0011]一光源单元，其中所述光源单元用于提供光束；
[0012]一匀光单元，其中所述匀光单元适于被设置于所述光源单元和该多个光电传感器之间的光路，用于均匀化处理经由所述光源单元提供的光束，以形成均匀光束；以及
[0013]一控制模块，其中所述控制模块适于可通信地连接该多个光电传感器，用于控制该多个光电传感器同步地接收该均匀光束，并监测该多个光电传感器的敏感程度。
[0014]在本专利技术的一实施例中，所述控制模块进一步可通信地连接于所述光源单元，用于控制所述光源单元的发光。
[0015]在本专利技术的一实施例中，所述光源单元包括至少一发光元件，其中所述发光元件具有一发光路径，用于沿着所述发光路径发射光束。
[0016]在本专利技术的一实施例中，所述匀光单元被设置于所述发光元件的所述发光路径，用于均匀化处理经由所述发光元件发射的光束，以形成沿着所述发光路径传播的均匀光束。
[0017]在本专利技术的一实施例中，所述的用于多线激光雷达的一致性检测装置，进一步包括一反射单元，其中所述反射单元被设置于所述发光元件的所述发光路径，用于反射经由所述发光元件发射的光束，以使经由所述发光元件发射的光束先被所述反射单元反射后，再被该多个光电传感器接收。
[0018]在本专利技术的一实施例中，所述匀光单元被设置于所述反射单元的反射侧，用于均匀化处理经由所述反射单元反射后的光束。
[0019]在本专利技术的一实施例中，所述光源单元位于所述匀光单元和所述反射单元之间，用于使经由所述发光元件发射的光束先被所述反射单元反射后，再被所述匀光单元进行匀光化处理，以得到所述均匀光束。
[0020]在本专利技术的一实施例中，所述反射单元为一漫反射板，其中所述漫反射板用于对经由所述发光元件发射的光束进行漫反射。
[0021]在本专利技术的一实施例中，所述的用于多线激光雷达的一致性检测装置，进一步包括一外壳，其中所述外壳具有一光密闭室，其中所述光源单元和所述匀光单元被设置于所述光密闭室。
[0022]在本专利技术的一实施例中，所述的用于多线激光雷达的一致性检测装置，进一步包括一定位工装，其中所述外壳具有一光窗，并且所述定位工装被设置于所述外壳的外侧，其中所述定位工装用于将该多个光电传感器定位地安装于所述外壳的所述光窗，以使该多个光电传感器通过所述光窗接收所述均匀光束。
[0023]在本专利技术的一实施例中，所述匀光单元包括一第一匀光板和一第二匀光板，其中所述第一匀光板被设置于靠近所述光源单元的位置，并且所述第二匀光板被设置于靠近所述外壳的所述光窗的位置。
[0024]在本专利技术的一实施例中，所述外壳包括一壳体和一吸光层，其中所述吸光层被设置于所述壳体的内表面，用于吸收传播至所述壳体的光束。
[0025]在本专利技术的一实施例中，所述吸光层为黑色内衬。
[0026]根据本专利技术的另一方面，本专利技术还提供了用于多线激光雷达的一致性检测方法，包括步骤：
[0027]藉由一光源单元，提供光束；
[0028]藉由一匀光单元，对通过所述光源单元提供的光束进行均匀化处理，以形成均匀光束；以及
[0029]藉由一控制单元，控制该多线激光雷达的多个光电传感器同步地接收该均匀光束，并监测该多个光电传感器的敏感度情况。
[0030]在本专利技术的一实施例中，所述的多线激光雷达的一致性检测方法，进一步包括步骤：
[0031]藉由一反射单元，反射通过所述光源单元提供的光束，使得被反射后的光束能够被该多个光电传感器接收本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.用于多线激光雷达的一致性检测装置，供检测该多线激光雷达中的多个光电传感器，其特征在于，包括：一光源单元，其中所述光源单元用于提供光束；一匀光单元，其中所述匀光单元适于被设置于所述光源单元和该多个光电传感器之间的光路，用于均匀化处理经由所述光源单元提供的光束，以形成均匀光束；以及一控制模块，其中所述控制模块适于可通信地连接该多个光电传感器，用于控制该多个光电传感器同步地接收该均匀光束，并监测该多个光电传感器的敏感程度。2.如权利要求1所述的用于多线激光雷达的一致性检测装置，其中，所述控制模块进一步可通信地连接于所述光源单元，用于控制所述光源单元的发光。3.如权利要求2所述的用于多线激光雷达的一致性检测装置，其中，所述光源单元包括至少一发光元件，其中所述发光元件具有一发光路径，用于沿着所述发光路径发射光束。4.如权利要求3所述的用于多线激光雷达的一致性检测装置，其中，所述匀光单元被设置于所述发光元件的所述发光路径，用于均匀化处理经由所述发光元件发射的光束，以形成沿着所述发光路径传播的均匀光束。5.如权利要求3所述的用于多线激光雷达的一致性检测装置，进一步包括一反射单元，其中所述反射单元被设置于所述发光元件的所述发光路径，用于反射经由所述发光元件发射的光束，以使经由所述发光元件发射的光束先被所述反射单元反射后，再被该多个光电传感器接收。6.如权利要求5所述的用于多线激光雷达的一致性检测装置，其中，所述匀光单元被设置于所述反射单元的反射侧，用于均匀化处理经由所述反射单元反射后的光束。7.如权利要求6所述的用于多线激光雷达的一致性检测装置，其中，所述光源单元位于所述匀光单元和所述反射单元之间，用于使经由所述发光元件发射的光束先被所述反射单元反射后，再被所述匀光单元进行匀光化处理，以得到所述均匀光束。8.如权利要求7所述的用于多线激光雷达的一致性检测装置，其中，所述反射...
【专利技术属性】
技术研发人员：柴晨喜，李斌，聂成林，章炳刚，
申请(专利权)人：浙江舜宇智能光学技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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