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一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置制造方法及图纸

技术编号:28370705 阅读:19 留言:0更新日期:2021-05-07 23:57
本发明专利技术涉及芯片制造技术领域,且公开了一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,包括外壳,所述外壳的外侧活动连接有风扇,自动对芯片进行夹持固定,避免其在检测过程中发生移动,有利于检测操作的进行,并且利用固定操作的运行情况,触发散热操作和翻转操作,增大结构之间的联动性,操作便捷,具有较高的自动化程度,通过风扇的作用,在检测的同时利用风力作用对芯片进行时散热,避免由于芯片检测过程中,长时间运作产生的热量堆积导致芯片被烧坏,使芯片保持正常工作,检测操作顺利进行,通过夹块、转杆、非全齿轮和第二转动组件的共同作用,自动间歇翻转芯片,实现芯片的双面检测,增大芯片检测的全面性,工作效果更高。

【技术实现步骤摘要】
一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置
本专利技术涉及芯片制造
,具体为一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置。
技术介绍
芯片一种微型电子器件或部件,作用集成电路的载体安装于各种电子设备的内部。芯片在制造的过程中,需要对芯片成品进行综合测试及各种电流电压的测试,以此来确定芯片的性能是否达标。目前对芯片进行检测时,通常有工作人员借助电气检测箱对其进行检测。由于芯片较小,在检测的过程中,非常容易发生移动,影响检测操作的进行,并且对其进行双面检测时,需要工作人员对其进行翻转,操作不够便捷,工作效率比较低,同时芯片的构造大多较为复杂,检测量比较大,这就需要芯片在检测过程中一直保持工作状态,芯片工作产生的热量在芯片的堆积,存在烧坏芯片的情况,不利于检测操作的进行。针对现有技术的不足,本专利技术提供了一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,具备自动翻转、散热和操作便捷的优点。
技术实现思路
(一)技术方案为实现上述自动翻转、散热和操作便捷的目的,本专利技术提供如下技术方案:解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置包括、外壳、风扇、夹块、夹杆、第一旋杆、第二旋杆、扇齿轮、第三旋杆、滑板、转柱、第一转动组件、绝缘管、金属滑片、转杆、非全齿轮、第二转动组件其中:上述各结构之间的位置及连接关系如下:一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,包括外壳,外壳的外侧活动连接有风扇,风扇的表面活动连接有夹块,夹块有两个并且规格相同,夹块的外侧活动连接有夹杆,夹杆远离夹块的一侧活动连接有活动杆,活动杆远离夹杆的一侧与第二旋杆活动连接,夹杆远离夹块的一侧活动连接有第一旋杆,第一旋杆有两个并且规格相同,第一旋杆的外侧固定连接有底板,底板的表面开设有卡槽,底板的表面活动连接有扇齿轮,第一旋杆的下方活动连接有第二旋杆,第二旋杆的外侧固定连接有扇齿轮,扇齿轮有两个并且规格相同,扇齿轮的表面活动连接有第三旋杆,第三旋杆靠近滑板的一侧固定连接有卡柱,第三旋杆的外侧活动连接有滑板,滑板有两个并且规格相同,滑板的表面开设有卡槽,左侧滑板的左侧固定连接有螺杆。滑板的左侧活动连接有转柱,转柱的表面开设有X状槽道,转柱的表面开设有四个规格相同的凹口,转柱的上方活动连接有第一转动组件,第一转动组件由主盘、支杆和T型杆构成,支杆和T型杆均有两个并且规格相同,扇齿轮的下方固定连接有绝缘管,绝缘管的外侧固定连接有电阻线圈,电阻线圈与风扇和第二转动组件电连接,绝缘管的表面活动连接有金属滑片,金属滑片为铜材质,金属滑片的外侧固定连接有连杆,连杆远离金属滑片的一侧与右侧滑板固定连接,夹块的内部活动连接有转杆,转杆贯穿两个夹块,转杆的左侧固定连接有第一锥轮,第一锥轮的外侧活动连接有第二锥轮,第二锥轮固定连接有非全齿轮的表面,转杆的左侧活动连接有非全齿轮,非全齿轮的表面固定连接有挡杆,非全齿轮的锯齿分为两组,非全齿轮两组锯齿之间的区域呈现弧状,非全齿轮的下方活动连接有第二转动组件,第二转动组件由扇板和扇形齿轮构成。(二)有益效果与现有技术相比,本专利技术提供了一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,具备以下有益效果:1、该解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,通过夹块、夹杆、第一旋杆、第二旋杆、扇齿轮、第三旋杆、滑板、转柱和第一转动组件的共同作用,自动对芯片进行夹持固定,避免其在检测过程中发生移动,有利于检测操作的进行,并且利用固定操作的运行情况,触发散热操作和翻转操作,增大结构之间的联动性,操作便捷,具有较高的自动化程度。2、该解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,通过风扇的作用,在检测的同时利用风力作用对芯片进行时散热,避免由于芯片检测过程中,长时间运作产生的热量堆积导致芯片被烧坏,使芯片保持正常工作,检测操作顺利进行。3、该解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,通过夹块、转杆、非全齿轮和第二转动组件的共同作用,自动间歇翻转芯片,实现芯片的双面检测,增大芯片检测的全面性,解放双手,减少人为介入,工作效果更高。附图说明图1为本专利技术结构示意图;图2为本专利技术图1剖视图;图3为本专利技术结构非全齿轮和第二转动组件连接关系示意图。图中:1、外壳;2、风扇;3、夹块;4、夹杆;5、第一旋杆;6、第二旋杆;7、扇齿轮;8、第三旋杆;9、滑板;10、转柱;11、第一转动组件;12、绝缘管;13、金属滑片;14、转杆;15、非全齿轮;16、第二转动组件。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-3,一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,包括外壳1,外壳1的外侧活动连接有风扇2,风扇2的表面活动连接有夹块3,夹块3有两个并且规格相同,两个夹块3以风扇2的中轴线参考呈现对称分布,夹块3的外侧活动连接有夹杆4,夹杆4远离夹块3的一侧活动连接有活动杆,活动杆远离夹杆4的一侧与第二旋杆6活动连接,夹杆4远离夹块3的一侧活动连接有第一旋杆5,第一旋杆5有两个并且规格相同,第一旋杆5的外侧固定连接有底板,底板的表面开设有卡槽,第一旋杆5靠近底板的一侧固定连接有卡块,其卡块活动卡在底板的卡槽内,底板的表面活动连接有扇齿轮7,第一旋杆5的下方活动连接有第二旋杆6,第二旋杆6的外侧固定连接有扇齿轮7,扇齿轮7有两个并且规格相同,两个扇齿轮7相啮合,扇齿轮7的表面活动连接有第三旋杆8,第三旋杆8靠近滑板9的一侧固定连接有卡柱,其尺寸与滑板9卡槽的尺寸相适配,第三旋杆8的外侧活动连接有滑板9,滑板9有两个并且规格相同,滑板9的表面开设有卡槽,左侧滑板9的左侧固定连接有螺杆,滑板9的外侧且位于外壳1内壁的内部开设有卡槽,滑板9活动卡在其卡槽内。滑板9的左侧活动连接有转柱10,转柱10的表面开设有X状槽道,转柱10的表面开设有四个规格相同的凹口,每两个凹口为一组,每组的两个凹口位于同一直线,两组凹口以转柱10的中轴线为参考呈现对称分布,转柱10的内部开设有螺孔,其尺寸与左侧滑板9螺杆的尺寸相适配,转柱10的上方活动连接有第一转动组件11,第一转动组件11由主盘、支杆和T型杆构成,支杆和T型杆均有两个并且规格相同,两个支杆等距穿插在两个T型杆之前,支杆的尺寸与转柱10X状槽道的尺寸相适配,T型杆远离第一转动组件11主盘的一侧呈现弧状,其尺寸与转柱10凹口的尺寸相适配。扇齿轮7的下方固定连接有绝缘管12,绝缘管12的外侧固定连接有电阻线圈,电阻线圈与风扇2和第二转动组件16电连接,绝缘管12的表面活动连接有金属滑片13,金属滑片13为铜材质,金属滑片13的外侧固定连接有连杆,连杆远离金属滑片13的一侧与右侧滑板9固定连接,金属滑片13与绝缘管12外侧的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,包括外壳(1),其特征在于:所述外壳(1)的外侧活动连接有风扇(2),风扇(2)的表面活动连接有夹块(3),夹块(3)的外侧活动连接有夹杆(4),夹杆(4)远离夹块(3)的一侧活动连接有第一旋杆(5),第一旋杆(5)的下方活动连接有第二旋杆(6),第二旋杆(6)的外侧固定连接有扇齿轮(7),扇齿轮(7)的表面活动连接有第三旋杆(8),第三旋杆(8)的外侧活动连接有滑板(9),滑板(9)的左侧活动连接有转柱(10),转柱(10)的上方活动连接有第一转动组件(11),扇齿轮(7)的下方固定连接有绝缘管(12),绝缘管(12)的表面活动连接有金属滑片(13),夹块(3)的内部活动连接有转杆(14),转杆(14)的左侧活动连接有非全齿轮(15),非全齿轮(15)的下方活动连接有第二转动组件(16)。/n

【技术特征摘要】
1.一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,包括外壳(1),其特征在于:所述外壳(1)的外侧活动连接有风扇(2),风扇(2)的表面活动连接有夹块(3),夹块(3)的外侧活动连接有夹杆(4),夹杆(4)远离夹块(3)的一侧活动连接有第一旋杆(5),第一旋杆(5)的下方活动连接有第二旋杆(6),第二旋杆(6)的外侧固定连接有扇齿轮(7),扇齿轮(7)的表面活动连接有第三旋杆(8),第三旋杆(8)的外侧活动连接有滑板(9),滑板(9)的左侧活动连接有转柱(10),转柱(10)的上方活动连接有第一转动组件(11),扇齿轮(7)的下方固定连接有绝缘管(12),绝缘管(12)的表面活动连接有金属滑片(13),夹块(3)的内部活动连接有转杆(14),转杆(14)的左侧活动连接有非全齿轮(15),非全齿轮(15)的下方活动连接有第二转动组件(16)。


2.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,其特征在于:所述夹块(3)有两个并且规格相同,夹杆(4)远离夹块(3)的一侧活动连接有活动杆,活动杆远离夹杆(4)的一侧与第二旋杆(6)活动连接,第一旋杆(5)有两个并且规格相同,第一旋杆(5)的外侧固定连接有底板,底板的表面开设有卡槽,底板的表面活动连接有扇齿轮(7)。


3.根据权利要求1所述的一种解决易烧坏和检测面单一问题的芯片检测辅助装置,其特征在于:所述扇齿轮(7)有两个并且规格相同,...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄乾坤
申请(专利权)人:黄乾坤
类型:发明
国别省市:安徽;34

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