一种主控芯片电路测试装置制造方法及图纸

技术编号:28343407 阅读:31 留言:0更新日期:2021-05-04 13:40
本实用新型专利技术公开了一种主控芯片电路测试装置,包括检测装置龙门架和移载平台,检测装置龙门架顶部设置有顶部支架,顶部支架上设置有超声检测装置和X射线检测装置,移载平台上设置有测试架,测试架上设置有芯片测试仓,芯片测试仓匹配设置有芯片限位槽,芯片限位槽可拆卸设置,芯片限位槽上设置有引脚槽。能够对电路板及主控芯片进行检测,发电破损及断路点,便于修复,可同时检测电路板并测试主控芯片,检测效率及准确度高。

【技术实现步骤摘要】
一种主控芯片电路测试装置
本技术涉及电路测试领域,具体为一种主控芯片电路测试装置。
技术介绍
随着电路板集成度的提高,电路板及芯片的测试也更加繁琐,在通路较多的情况下,人工测试容易遗漏,印刷电路的断路点也不容易发现,需要专利技术一种较为方便的测试装置。
技术实现思路
本技术提供了一种主控芯片电路测试装置,以解决上述
技术介绍
中出现的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:包括检测装置龙门架和移载平台,所述检测装置龙门架顶部设置有顶部支架,所述顶部支架上设置有超声检测装置和X射线检测装置,所述移载平台上设置有测试架。进一步,所述测试架上设置有芯片测试仓,所述芯片测试仓匹配设置有芯片限位槽,所述芯片限位槽可拆卸设置。进一步,所述芯片限位槽上设置有引脚槽。进一步,所述顶部支架上设置有移动架,所述超声检测装置和X射线检测装置设置于所述移动架上。进一步,所述移载平台包括运动台、导轨和底座,所述运动台在所述导轨上运动,所述运动台由电机和/或气缸驱动,所述测试架设置于所述运动台。与现有技术相本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种主控芯片电路测试装置,其特征在于:包括检测装置龙门架(1)和移载平台(6),所述检测装置龙门架(1)顶部设置有顶部支架(2),所述顶部支架(2)上设置有超声检测装置(4)和X射线检测装置(5),所述移载平台(6)上设置有测试架(7)。/n

【技术特征摘要】
1.一种主控芯片电路测试装置,其特征在于:包括检测装置龙门架(1)和移载平台(6),所述检测装置龙门架(1)顶部设置有顶部支架(2),所述顶部支架(2)上设置有超声检测装置(4)和X射线检测装置(5),所述移载平台(6)上设置有测试架(7)。


2.根据权利要求1所述的一种主控芯片电路测试装置,其特征在于:所述测试架(7)上设置有芯片测试仓(8),所述芯片测试仓(8)匹配设置有芯片限位槽(9),所述芯片限位槽(9)可拆卸设置。


3.根据权利要求2所述的一种主...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨杰
申请(专利权)人:九天创新南昌设备制造有限公司
类型:新型
国别省市:江西;36

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