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本实用新型公开了一种主控芯片电路测试装置，包括检测装置龙门架和移载平台，检测装置龙门架顶部设置有顶部支架，顶部支架上设置有超声检测装置和X射线检测装置，移载平台上设置有测试架，测试架上设置有芯片测试仓，芯片测试仓匹配设置有芯片限位槽，芯片限...
该专利属于九天创新(南昌)设备制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过九天创新(南昌)设备制造有限公司授权不得商用。

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