突波发生点检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种突波发生点检测装置及方法，该方法应用以检测待测电路中的至少一突波发生点，该方法的一实施例包含下列步骤：获取集成电路设计文件，以进一步获取对应集成电路设计文件的待测电路的多个输入节点、至少一输出节点以及多个电源节点；对输入节点以及电源节点进行信号馈入，以对待测电路的多个内部电路节点进行直流分析，并根据直流分析获取内部电路节点中不具有任何充电及放电路径的多个候选浮接点；以及确定候选浮接点中具有在待测电路运作时触发输出节点的能力者作为突波发生点。

【技术实现步骤摘要】
突波发生点检测装置及方法
本专利技术涉及电路的突波发生点检测技术，尤其是涉及一种突波发生点检测装置及方法。
技术介绍
在集成电路的运作中，可能会在内部的电路节点产生突波，进而造成错误的输出结果。举例而言，如果在特定输入信号的馈入下，正常的电路在输出节点应输出第一状态，然而一旦有较大的突波发生时，将可能使电路在特定节点上原本应为低态的电压抬高为高态，使得受到此特定节点控制的电路组件改变运作，进而使输出节点输出完全相反的第二状态。常见的突波错误检测方式，除了要将所有可能的输入信号组合馈入待测电路外，更需要将各组输入信号以不同的顺序馈入，才能完整的观察信号变化的可能性。这样的方式由于需要大量的信号馈入而非常耗时，对于讲求效率的电路设计与侦错程序来说相当不利。
技术实现思路
鉴于先前技术的问题，本专利技术的一目的在于提供一种突波发生点检测装置及方法，以改善先前技术。本专利技术的一目的在于提供一种突波发生点检测装置及方法，以快速检测突波发生点，进而提升待测电路的优良率。本专利技术包含一种突波(glitch)发生点检测装置，应用以检测待测电路中的至少一突波发生点，其一实施例包含：存储器以及处理电路。存储器配置以储存对应于待测电路的集成电路设计文件以及多个计算机可读取指令。处理电路配置以自存储器获取并执行计算机可读取指令，以执行突波发生点检测方法。突波发生点检测方法包含：自存储器获取集成电路设计文件，以进一步获取待测电路的多个输入节点、至少一输出节点以及多个电源节点；对输入节点以及电源节点进行信号馈入，以对待测电路的多个内部电路节点进行直流分析，并根据直流分析获取内部电路节点中不具有任何充电及放电路径的多个候选浮接点；以及确定候选浮接点中具有在待测电路运作时触发(toggle)输出节点的能力者作为突波发生点。本专利技术还包含一种突波发生点检测方法，应用以检测待测电路中的至少一突波发生点，其一实施例包含下列步骤：获取集成电路设计文件，以进一步获取对应集成电路设计文件的待测电路的多个输入节点、至少一输出节点以及多个电源节点；对输入节点以及电源节点进行信号馈入，以对待测电路的多个内部电路节点进行直流分析，并根据直流分析获取内部电路节点中不具有任何充电及放电路径的多个候选浮接点；以及确定候选浮接点中具有在待测电路运作时触发输出节点的能力者作为突波发生点。有关本专利技术的特征、实际操作与效果，配合图式作优选实施例详细说明如下。附图说明图1显示本专利技术的一实施例中，一种突波发生点检测装置的方框图；图2显示本专利技术的一实施例中，一种突波发生点检测方法的流程图；以及图3显示本专利技术的一实施例中，对应集成电路设计文件的待测电路的电路图。具体实施方式本专利技术的一目的在于提供一种突波发生点检测装置及方法，通过直流分析筛选出候选浮接点，并确定具有在待测电路运作时触发输出节点的能力者作为突波发生点，达到快速检测突波发生点的效果。请参照图1。图1为本专利技术的一实施例中，一种突波发生点检测装置100的方框图。突波发生点检测装置100包含：存储器110、处理器120、网络单元130、储存单元140及输入输出单元150。上述的组件可通过例如，但不限于总线160与彼此进行通信。存储器100为可用以储存数据的任何储存装置，可为例如，但不限于随机存取存储器(randomaccessmemory；RAM)、只读存储器(readonlymemory；ROM)、闪存、硬盘或其他可用以储存数据的储存装置。存储器100配置以至少储存集成电路设计文件113以及多个计算机可读取指令115。于一实施例中，存储器110亦可用以储存处理器120进行运算时产生的暂存数据。处理器120电性耦接于存储器110，配置以自存储器110存取计算机可读取指令115，以控制突波发生点检测装置100中的组件执行突波发生点检测装置100的功能，对集成电路设计文件113中对应的待测电路进行突波发生点的检测。其中，网络单元130配置以在处理器120的控制下进行网络的存取。储存单元140可为例如，但不限于磁盘或光盘，以在处理器120的控制下储存数据或是指令。输入输出单元150为可由用户操作以与处理器120通信，进行数据的输入与输出。请参照图2。图2为本专利技术一实施例中，一种突波发生点检测方法200的流程图。突波发生点检测方法200可应用于图1所示的突波发生点检测装置100中，或由其他硬件组件如数据库、一般处理器、计算器、服务器、或其他具有特定逻辑电路的独特硬件装置或具特定功能的设备来实作，如将程序代码和处理器/芯片整合成独特硬件。更详细地说，突波发生点检测方法200可使用计算机程序实现，以控制突波发生点检测装置100的各组件。计算机程序可储存于一非瞬时计算机可读取记录介质中，例如只读存储器、闪存、软盘、硬盘、光盘、随身碟、磁带、可由网络存取的数据库或熟悉此技术者可轻易考虑到具有相同功能的计算机可读取记录介质。突波发生点检测方法200包含下列步骤(应了解到，在本实施方式中所提及的步骤，除特别叙明其顺序者外，均可依实际需要调整其前后顺序，甚至可同时或部分同时执行)。S210：获取集成电路设计文件113中，以进一步获取对应集成电路设计文件113的待测电路的多个输入节点、至少一输出节点以及多个电源节点。于一实施例中，集成电路设计文件113可包含例如，但不限于集成电路重点仿真软件(simulationprogramwithintegratedcircuitemphasis；SPICE)网表以及电源节点(power/ground；PG)网表。然而本专利技术并不为此所限。请同时参照图3。图3为本专利技术一实施例中，对应集成电路设计文件113的待测电路300的电路图。如图3所示，待测电路300为与门(ANDgate)，并包含多个电路组件，例如但不限于N型晶体管M1～M10及P型晶体管P1～P9。N型晶体管M1～M10及P型晶体管P1～P9彼此之间电性耦接，以形成待测电路300的多个内部电路节点。待测电路300包含两个输入节点I及输入节点E以及一个输出节点Z。输入节点I对应于N型晶体管M1以及P型晶体管P1的栅极，输入节点E对应于P型晶体管P4的栅极。输出节点Z对应于N型晶体管M10及P型晶体管P9的漏极。由于在本实施例中，待测电路300为与门，因此仅有在输入节点I以及输入节点E均为高态时，输出节点Z才会输出为高态。需注意的是，上述待测电路300的结构、输出入节点的数目以及功能仅为一范例。在其他实施例中，待测电路300可包含不同的结构及输出入节点的数目，或是可用以执行不同的功能。本专利技术并不为其所限。待测电路300还包含多个电源节点。其中，电源节点包含非接地电源节点VDD以及接地电源节点VSS。因此，通过集成电路设计文件113，待测电路300所包含的输入节点I及输入节点E、输出节点Z以及包含非接地电源节点VDD以及接地电源节点VSS的电源节点将可被获取。S220：对输入本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种突波发生点检测装置，应用以检测一待测电路中的至少一突波发生点，该突波发生点检测装置包含：/n存储器，配置以储存对应于该待测电路的一集成电路设计文件以及多个计算机能读取指令；/n处理电路，配置以自该存储器获取并执行该多个计算机能读取指令，以执行一突波发生点检测方法，该突波发生点检测方法包含：/n自该存储器获取该集成电路设计文件，以进一步获取该待测电路的多个输入节点、至少一输出节点以及多个电源节点；/n对这些输入节点以及这些电源节点进行信号馈入，以对该待测电路的多个内部电路节点进行一直流分析，并根据该直流分析获取这些内部电路节点中不具有任何充电及放电路径的多个候选浮接点；以及/n确定这些候选浮接点中能够在该待测电路运作时触发该输出节点的能力者作为该突波发生点。/n

【技术特征摘要】
1.一种突波发生点检测装置，应用以检测一待测电路中的至少一突波发生点，该突波发生点检测装置包含：
存储器，配置以储存对应于该待测电路的一集成电路设计文件以及多个计算机能读取指令；
处理电路，配置以自该存储器获取并执行该多个计算机能读取指令，以执行一突波发生点检测方法，该突波发生点检测方法包含：
自该存储器获取该集成电路设计文件，以进一步获取该待测电路的多个输入节点、至少一输出节点以及多个电源节点；
对这些输入节点以及这些电源节点进行信号馈入，以对该待测电路的多个内部电路节点进行一直流分析，并根据该直流分析获取这些内部电路节点中不具有任何充电及放电路径的多个候选浮接点；以及
确定这些候选浮接点中能够在该待测电路运作时触发该输出节点的能力者作为该突波发生点。


2.根据权利要求1所述的突波发生点检测装置，其中，对这些输入节点以及这些电源节点进行信号馈入，以进行该直流分析并获取这些候选浮接点的步骤还包含：
设定电路组件的一驱动参数；
对这些电源节点馈入一电源信号，其中该电源信号为一非接地电源信号或一接地电源信号；
对这些输入节点馈入多组输入信号，该多组输入信号中的各组为对应这些输入节点的一信号排列组合；
使该待测电路包含的多个电路组件依据该电源信号以及该多组输入信号运作，以在这些电路组件间的多个内部电路节点传递该电源信号以及该多组输入信号；以及
确定这些内部电路节点中，无法传递该电源信号和/或该多组输入信号的多个浮接节点，并使这些浮接节点作为这些候选浮接点。


3.根据权利要求2所述的突波发生点检测装置，其中，这些电路组件包含至少一N型晶体管和/或至少一P型晶体管，该驱动参数为该N型晶体管以及该P型晶体管的一栅极电压。


4.根据权利要求1所述的突波发生点检测装置，确定该突波发生点的步骤还包含：
设定该待测电路中分别由一晶体管的源极至漏极或栅极至漏极导通的多个路径；以及
自该输出节点回溯这些路径，以使在这些路径上所找到最接近该输出节点的这些候选浮接点的至少一个作为该突波发生点。


5.根据权利要求4所述的突波发生点检测装置，其中，自该输出节点回溯这些路径的步骤还包含：
设定这些候选浮接点、这些电源节点以及这些输入节点为多个...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈英杰，余美俪，罗幼岚，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71