一种FPC折弯疲劳寿命S-N曲线的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种FPC折弯疲劳寿命S‑N曲线的测试方法，包括以下步骤，获得板状测试样条；根据测试样条的尺寸建立物理模型；调整物理模型的折弯角度，得到不同折弯角度时物理模型所受到的最大应力；选取多个测试样条，将多个测试样条折弯相同的角度多次直至测试样条损坏，记录每个测试样条的折弯次数并在除去极大值和极小值后取平均值获得折弯循环次数；选取多组测试样条重复上一步，每组测试样条折弯的角度互不相同；将物理模型不同折弯角度测得的最大应力作为横坐标、测试样条在相应折弯角度测得的折弯循环次数作为纵坐标进行拟合，拟合得到的曲线即为S‑N曲线。FPC折弯疲劳寿命S‑N曲线的测试方法缩短了获取数据的周期，提高效率，可操作性强。

【技术实现步骤摘要】
一种FPC折弯疲劳寿命S-N曲线的测试方法
本专利技术涉及柔性电路板
，尤其涉及一种FPC折弯疲劳寿命S-N曲线的测试方法。
技术介绍
随着移动终端设备的发展，折叠屏手机因其显示面在不同使用场景下可灵活变换的特点成为主流设备厂商未来主要的开发方向。在折叠屏手机折叠和打开的过程中，手机内部的FPC射频天线随手机一同折弯，随着FPC射频天线的折叠次数增加FPC射频天线受到损伤甚至断裂的风险也随之增大，因此FPC射频天线的折弯疲劳寿命极大的影响了用户使用折叠屏手机的体验，而预测FPC射频天线基材材料的寿命的关键因素是获取其S-N曲线(应力-寿命曲线)。现有技术中获取FPC基材材料的S-N曲线的传统方法是将原材料做成圆棒形的、在指定加工精度等级和热处理工艺下获得的标准试件，并分别经过拉、压、弯曲和扭转等多种测试后分别获得其疲劳寿命，从而得到相应的S-N曲线，且得到的S-N曲线所适用的范围也通常是这几种受力方式的组合，而现有的测试方法中需要分别对多个标准试件进行多种受力测试，流程复杂且测试周期较长，导致FPC射频天线基材的研发周期长，不利于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种FPC折弯疲劳寿命S-N曲线的测试方法，其特征在于：包括以下步骤，/n获得板状测试样条；/n根据所述测试样条的尺寸建立物理模型；/n调整所述物理模型的折弯角度，得到不同折弯角度时所述物理模型所受到的最大应力；/n选取多个所述测试样条，将多个所述测试样条折弯相同的角度多次直至所述测试样条损坏，记录每个所述测试样条的折弯次数并在除去极大值和极小值后取平均值获得折弯循环次数；/n选取多组所述测试样条重复上一步，每组所述测试样条折弯的角度互不相同；/n将所述物理模型不同折弯角度测得的最大应力作为横坐标、所述测试样条在相应折弯角度测得的折弯循环次数作为纵坐标进行拟合，拟合得到的曲线即为S-N曲线...

【技术特征摘要】
1.一种FPC折弯疲劳寿命S-N曲线的测试方法，其特征在于：包括以下步骤，
获得板状测试样条；
根据所述测试样条的尺寸建立物理模型；
调整所述物理模型的折弯角度，得到不同折弯角度时所述物理模型所受到的最大应力；
选取多个所述测试样条，将多个所述测试样条折弯相同的角度多次直至所述测试样条损坏，记录每个所述测试样条的折弯次数并在除去极大值和极小值后取平均值获得折弯循环次数；
选取多组所述测试样条重复上一步，每组所述测试样条折弯的角度互不相同；
将所述物理模型不同折弯角度测得的最大应力作为横坐标、所述测试样条在相应折弯角度测得的折弯循环次数作为纵坐标进行拟合，拟合得到的曲线即为S-N曲线。


2.根据权利要求1所述的FPC折弯疲劳寿命S-N曲线的测试方法，其特征在于：所述测试样条由单层铜箔与单层LCP基材压合制成。


3.根据权利要求2所述的FPC折弯疲劳寿命S-N曲线的测试方法，其特征在于：调整所述物理模型的折弯角度，得到不同折弯角度时所述物理模型所受到的最大应力，包括以下步骤，
分别记录铜箔层受到的最大应力和LCP基材受到的最大应力。

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【专利技术属性】
技术研发人员：吴远丽，徐颖龙，付松，张昕，虞成城，
申请(专利权)人：深圳市信维通信股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44