【技术实现步骤摘要】
存储器系统和存储器系统的操作方法相关申请的交叉引用本申请要求于2019年10月30日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请10-2019-0136769的优先权，其全部内容通过引用合并于此
本公开总体上涉及一种电子设备，并且更具体地涉及一种存储器系统以及存储器系统的操作方法。
技术介绍
最近的计算机环境上的范例已经转变为无处不在的计算环境，在该环境中，可以在任何地方在任何时间使用计算系统。这促进了诸如移动电话、数码相机、笔记本计算机等便携式电子设备的使用的增加。这样的便携式电子设备通常可以包括使用存储器设备(即，数据存储设备)的存储器系统。数据存储设备用作便携式电子设备的主存储器设备或辅助存储器设备。由于没有机械驱动部件，因此使用存储器设备的数据存储设备具有优异的稳定性和耐久性、高信息访问速度和低功耗。在具有这样的优点的存储器系统的示例中，数据存储设备包括通用串行总线(USB)存储器设备、具有各种接口的存储卡、固态驱动器(SSD)等。存储器设备通常被分类为易失性存储器设备和非易失性存储器设备。
【技术保护点】
1.一种存储器系统，包括：/n存储器设备，包括多个半导体存储器；以及/n控制器，被配置为控制所述存储器设备对所述多个半导体存储器中的所选择的半导体存储器中包括的多个存储器块中的空闲块执行坏块检测操作，/n其中所述控制器选择与基于所述坏块检测操作的结果而检测到的坏块相邻的存储器块作为目标存储器块，并且控制所述存储器设备对所述目标存储器块执行所述坏块检测操作。/n
【技术特征摘要】
20191030 KR 10-2019-01367691.一种存储器系统，包括：
存储器设备，包括多个半导体存储器；以及
控制器，被配置为控制所述存储器设备对所述多个半导体存储器中的所选择的半导体存储器中包括的多个存储器块中的空闲块执行坏块检测操作，
其中所述控制器选择与基于所述坏块检测操作的结果而检测到的坏块相邻的存储器块作为目标存储器块，并且控制所述存储器设备对所述目标存储器块执行所述坏块检测操作。
2.根据权利要求1所述的存储器系统，其中所述多个存储器块被划分为多个平面，并且每个平面中包括的第一存储器块在第一方向上彼此相邻。
3.根据权利要求2所述的存储器系统，其中每个平面中包括的所述第一存储器块在第二方向上与不同于所述平面的平面中包括的第二存储器块相邻。
4.根据权利要求3所述的存储器系统，其中所述控制器选择与检测到的坏块被包括在同一平面中的所述第一存储器块作为所述目标存储器块，或者所述控制器选择与所述检测到的坏块的平面不同的平面中包括的所述第二存储器块作为所述目标存储器块。
5.根据权利要求1所述的存储器系统，其中所述控制器选择具有与所述检测到的坏块的块地址相邻的块地址的存储器块作为所述目标存储器块。
6.根据权利要求1所述的存储器系统，其中所述控制器控制所述存储器设备通过读取所述目标存储器块中存储的有效数据来在所述多个半导体存储器中除了所选择的半导体存储器之外的另一半导体存储器中进行存储。
7.根据权利要求6所述的存储器系统，其中当所述目标存储器块作为对所述目标存储器块的所述坏块检测操作的结果而被确定为正常存储器块时，所述控制器读取所述另一半导体存储器中存储的所述有效数据并且将所读取的有效数据存储在所述目标存储器块中。
8.根据权利要求6所述的存储器系统，其中当所述目标存储器块作为对所述目标存储器块的所述坏块检测操作的结果而被确定为坏块时，所述控制器控制所述存储器设备通过选择与所述目标存储器块相邻的存储器块作为所述目标存储器块来执行所述坏块检测操作。
9.一种存储器系统，包括：
存储器设备，包括第一半导体存储器和第二半导体存储器，其中所述第一半导体存储器和所述第二半导体存储器中的每一者包括多个平面；以及
控制器，被配置为控制所述存储器设备对所述第一半导体存储器的所述多个平面中包括的多个存储器块中的空闲块执行坏块检测操作，
其中所述控制器选择包括作为所述坏块检测操作的结果而检测到的坏块的平面的存储器块作为目标存储器块，并且控制所述半导体存储器对所选择的目标存储器块执行所述坏块检测操作。
10.根据权利要求9所述的存储器系统，其中所述多个平面中的每个平面的存储器块在第一方向上...
【专利技术属性】
技术研发人员：崔汀实，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR
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