斜交镜、使用方法和制造方法技术

技术编号:28319302 阅读:37 留言:0更新日期:2021-05-04 12:59
本发明专利技术涉及斜交镜、使用方法和制造方法,具体提供了被称为斜交镜的光学反射设备,所述设备具有不需要被限制为表面法线的反射轴。斜交镜的示例被配置为在相对较宽的波长范围内关于基本恒定的反射轴反射光。在一些示例中,斜交镜在相对较宽的入射角范围内具有基本恒定的反射轴。还公开了用于制造和使用斜交镜的示例性方法。斜交镜包括光栅结构,其在一些示例中包括全息图。

【技术实现步骤摘要】
斜交镜、使用方法和制造方法本申请是申请号为201680055621.7,申请日为2016年8月24日,名称为“斜交镜、使用方法和制造方法”的专利技术专利申请的分案申请。
技术介绍
传统电介质反射镜是通过用其介电常数互不相同的多层材料来涂覆表面(通常是玻璃)而制造出来的。这些材料层通常被布置成使得来自层边界的Fresnel反射大大增强,从而得到大的净反射率。可以通过确保在相对宽的指定波长范围和入射角上实现该条件,来设计宽带电介质反射镜。然而,因为这些层是沉积于一个表面上,因此电介质反射镜的反射轴必然会与表面法线一致,即,反射轴与反射镜表面垂直。因为对反射轴的这种限制,所以电介质反射镜完全不适合用于某些用途。此外,玻璃电介质反射镜往往相对较重,使之不太适合或不适合用于要求反射部件相对轻质的应用。相反,传统光栅结构则可关于与光栅结构驻留的介质表面法线相差的反射轴反射光。然而,对于给定的入射角而言,传统光栅结构的反射角通常会随着入射光的波长一起变化。因此,采用传统的光栅结构来反射光避免了电介质反射镜所固有的反射轴必须与表面法线一致的限制。然而,在需要恒定反射轴的情况下,对于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学装置,包括:/n位于光栅介质中的光栅结构,其中:/n所述光栅结构被配置为反射第一入射光,所述第一入射光在特定位置处入射到所述光栅介质上,并且所述第一入射光相对于所述光栅介质的表面法线具有第一内入射角;/n所述第一入射光由所述光栅介质反射为第一反射光,所述第一反射光相对于所述表面法线具有第一内反射角;/n所述第一入射光和所述第一反射光被第一反射轴等分,所述第一反射轴相对于所述表面法线具有第一反射轴角度;/n所述光栅结构被进一步配置为反射第二入射光,所述第二入射光在所述特定位置处入射到所述光栅介质上,并且所述第二入射光相对于所述表面法线具有第二内入射角;/n所述第二入射光由所述光栅介质...

【技术特征摘要】
20150824 US 62/209,290;20160406 US 62/318,917;20161.一种光学装置,包括:
位于光栅介质中的光栅结构,其中:
所述光栅结构被配置为反射第一入射光,所述第一入射光在特定位置处入射到所述光栅介质上,并且所述第一入射光相对于所述光栅介质的表面法线具有第一内入射角;
所述第一入射光由所述光栅介质反射为第一反射光,所述第一反射光相对于所述表面法线具有第一内反射角;
所述第一入射光和所述第一反射光被第一反射轴等分,所述第一反射轴相对于所述表面法线具有第一反射轴角度;
所述光栅结构被进一步配置为反射第二入射光,所述第二入射光在所述特定位置处入射到所述光栅介质上,并且所述第二入射光相对于所述表面法线具有第二内入射角;
所述第二入射光由所述光栅介质反射为第二反射光,所述第二反射光相对于所述表面法线具有第二内反射角;
所述第二入射光和所述第二反射光被第二反射轴等分,所述第二反射轴相对于所述表面法线具有第二反射轴角度;
所述第一反射轴角度和第二反射轴角度分别相对于所述表面法线是非零的;以及
所述第一反射轴角度与所述第二反射轴角度相差0.25度或更小。


2.根据权利要求1所述的光学装置,其中所述第一内入射角和所述第二内反射角中的每一个都包括跨越一范围的多个角度。


3.根据权利要求1所述的光学装置,其中所述光栅结构包括多个体积全息图,并且其中所述多个体积全息图中的每一个体积全息图与所述多个体积全息图中的至少另一个体积全息图在空间上重叠。


4.根据权利要求1所述的光学装置,还包括:
波导,其中所述光栅结构被配置为将所述第一入射光和所述第二入射光耦合进所述波导。


5.根据权利要求1所述的光学装置,还包括:
波导,其中所述光栅结构被配置为将所述第一入射光和所述第二入射光耦合出所述波导。


6.根据权利要求1所述的光学装置,其中所述第一入射光处于第一波长,并且所述第二入射光处于第二波长。


7.根据权利要求1所述的光学装置,其中所述第一波长与所述第二波长相差至少0.005的波分率。


8.根据权利要求1所述的光学装置,其中所述第一入射光偏离所述第一反射轴至少1.0度。


9.根据权利要求1所述的光学装置,其中:
所述光栅结构包括多个体积全息图;
所述多个体积全息图中的每一个与所述多个体积全息图中的至少另一个在空间上重叠;并且
所述光栅介质为至少70μm厚。


10.一种光学装置,包括:
位于光栅介质中的光栅结构,其中:
所述光栅结构包括第一全息图组和第二全息图组,所述第一全息图组和所述第二全息图组中的每一个包括至少三个体积全息图;
所述第一全息图组被配置为关于第一反射轴反射具有第一波长的入射光,所述第一反射轴相对于所述光栅介质的表面法线具有第一平均反射轴角度;
所述第二全息图组被配置为关于第二反射轴反射具有第二波长的入射光,所述第二反射轴相对于所述表面法线具有第二平均反射轴角度;
所述第一平均反射轴角...

【专利技术属性】
技术研发人员:M·爱瑞斯K·安德森A·厄尼斯F·施罗陶
申请(专利权)人:阿科尼亚全息有限责任公司
类型:发明
国别省市:美国;US

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