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成品包装箱缺件检测装置及其检测方法制造方法及图纸

技术编号:2831872 阅读:291 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种成品包装箱缺件的检测装置,安装在成品包装箱的输送机上,包括:至少一检测单元,所述每个检测单元包括:至少一X光源和至少一X射线探测器;至少一位置探测器,其安装在输送机的输送带两侧,用于监测包装箱进入/离开测试区,并输出信号给数据采集控制系统;一数据采集控制系统,其连接所述X射线探测器和所述位置探测器,接收所述X射线探测器和所述位置探测器的探测数据进行处理并提供控制信号。该装置为无损、快速检测装置,可在线检测成品包装箱是否缺件并可在线剔除不合格包装箱。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及辐射在线检测技术,尤其是成品包装箱缺件(如烟箱缺条、条烟缺包)在线检测。
技术介绍
中国申请号02100306.8,名称为“规则包装物品箱缺件在线检测装置”及中国申请号200410073695.2,名称“条烟缺包在线检测装置及其检测方法”的专利技术专利,均采用γ射线源和γ射线探测器,对成品箱缺件和条烟缺包进行检测。现有检测装置由于采用了γ射线进行检测,尚存在以下缺陷 (1)γ射线检测装置发射出的γ射线是由放射性原子核衰变而产生的,原子核按其自有规律衰变,不管装置工作与否,都不停地产生γ射线,一旦管理不善,发生放射源丢失或失控就可能造成严重的责任事故或造成人身伤害。 (2)γ射线的能量较高,不易防护(屏蔽); (3)γ射线的能量较高相对于能量较低的射线,同样重量的同一物质吸收的γ射线就比能量较低的射线吸收要少,采用γ射线的检测比采用能量较低的射线的检测准确度要低。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于提供一种成品包装箱缺件的检测装置及检测方法。该装置采用X光源与X射线探测器对成品包装箱进行检测,其为无损、快速检测装置,可在线检测成品包装箱是否缺件并可在线剔除不合格包装箱。 为了达到上述目的,本专利技术提供的成品包装箱缺件的检测装置,安装在成品包装箱的输送机上,其特征在于,包括 至少一检测单元,所述每个检测单元包括至少一X光源和至少一X射线探测器; 至少一位置探测器,其安装在输送机的输送带两侧,用于监测包装箱进入/离开测试区,并输出信号给数据采集控制系统; 一数据采集控制系统,其连接所述X射线探测器和所述位置探测器,接收所述X射线探测器和所述位置探测器的探测数据进行处理并提供控制信号。 上述检测装置,其特征在于,还包括一安装框架,相对于包装箱的输送带横/竖跨接安装在所述输送带上,该框架包括 一X光源箱,用于安装所述X光源; 一X射线探测器箱,用于安装所述X射线探测器; 连接板,用于连接所述X光源箱和X射线探测器箱构成框架。 上述检测装置,其特征在于,还包括一屏蔽防护板,其安装在所述X射线探测箱内的X射线探测器后面。 上述检测装置,其特征在于,还包括一准直板,其安装在所述X射线探测箱内的X射线探测器前面,在对准所述X射线探测器的位置开有射线准直孔,X光源发出的X射线经所述准直孔射到X射线探测器上。 上述检测装置,其特征在于,还包括一剔除装置,安装在所述输送带测试区的出口处,该剔除装置包括机座、驱动器、推杆、剔除滑道及位置探测器,当所述数据采集控制系统接收到位置探测器发出的信号后,启动驱动器驱动推杆将不合格包装箱剔除。 上述检测装置,其特征在于,还包括一导流板,安装在所述输送带上方,用于将输送带上的包装箱导流到测试区的固定位置。 上述检测装置,其特征在于,所述X光源由电源系统、X射线发生器和冷却系统组成,所述X射线发生器采用X光管,所述X光管的阴极和阳极间的高压是可调节的,用以改变X射线强度。 上述检测装置,其特征在于,所述位置探测器选用光电式位置探测器或接触式开关或电控限位装置。 上述检测装置,其特征在于,所述X射线探测器是闪烁计数器、或电离室、或正比计数管、或G-M管。 为进一步的实现专利技术目的,本专利技术还提供了一种成品包装箱缺件的检测方法,用于包括检测单元、位置探测器、数据采集控制系统构成的检测装置,其特征在于,包括 步骤1,预先标定检测参数确定判断标准在无包装箱空载运行时,标定在一定时间间隔内所述检测单元输出信号的平均值;在有包装箱负载运行时标定在一定时间间隔内所述检测单元输出信号的平均值;根据二次标定结果计算并确定判断标准; 步骤2,在线检测在生产运行条件下,当包装箱运行到检测单元的检测区时,所述数据采集控制系统对包装箱进行检测; 步骤3,缺件判断根据所述在线检测结果与所述判断标准进行比较,判断所测包装箱是否缺件。 上述检测方法,其特征在于,所述步骤1进一步包括 步骤101,建立检测单元的数学模型其中 Pi为成品箱装件的面密度(g/cm2), Ni为有载运行时探测器输出的信号(V或个/秒), NO为空带运行时探测器输出的信号(V或个/秒); 步骤102,当空带运行时,标定出在一定时间间隔内检测单元输出信号Ni的平均值NOi; 步骤103,当有载运行时,分别标定出一定时间间隔内包装箱不缺件和缺件两种条件下,检测单元输出的信号Ni的平均值Ni1(不缺件)和Ni1′(缺件);所述数据采集控制系统根据NOi、Ni1、Ni1′,按所述步骤101的数学模型计算,得出 P1标=P-K(P1-P1′); 式中P1标-判断标准参数,即判断成品箱缺件与否的标准, P1-当包装箱不缺件时,检测单元测量的装件面密度, P1′-当包装箱缺件时,检测单元测量的装件面密度, K-选择系数 上述检测方法,其特征在于,所述步骤2进一步包括 步骤201,数据采集当包装箱移至所述位置探测器时,所述探测器发出信号,数据采集控制系统开始采集检测单元输出的信号并计算出检测时间间隔内输出信号的平均值Ni; 步骤202,所述数据采集控制系统根据所述步骤102标定的NOi及所述步骤201在线测得的Ni,计算出 上述检测方法,其特征在于,所述步骤3进一步包括 步骤301,根据所述步骤103确定的判断标准参数P1标及所述步骤202所得到的Pi进行判断,当Pi≤P1标时,包装箱不缺件判断为合格,当Pi>P1标包装箱缺件判断为不合格; 步骤302,当不合格包装箱移至剔除位置探测器时,数据采集控制系统发出信号启动剔除装置,将不合格包装箱剔除。 与现有技术相比,本专利技术能带来如下有益效果 (1)与采用γ射线检测装置相比,由于γ射线是由放射性原子核衰变而产生的,原子核按其自有规律衰变,不管装置工作与否,都不停地产生γ射线,一旦管理不善,发生放射源丢失或失控可能造成严重的责任事故或造成人身伤害。而本专利技术的X光检测装置发出的X射线,是在高压条件下形成的高速电子束轰击阳极靶材而激发出的X射线,装置工作时加高压就产生X射线,装置不工作时不加高压就不产生X射线,就象灯泡一样,一旦丢失或失控也不会造成对人身的伤害,因此X光检测装置具有较高安全性; (2)本专利技术采用的X射线的能量较γ射线的能量低,因而X射线更易防护(屏蔽),致使X光检测装置框架外部的X射线泄露率接近于0,框架外射线的剂量率仍保持原有的天然本底水平; (3)由于X射线能量较γ射线能量低,致使同样重量的同一物质吸收的X射线比吸收的γ射线多,因而具有较高的灵敏度,所以X光检测装置判断有无缺条或缺包的准确度更高; (4)X射线的流强与加在X光管阴极-阳极间高压大小有关,增加高压值,便可提高X射线强度和信号/噪声比,可减少统计涨落影响,因而X光检测装置具有较高的稳定性。 附图说明 图1a为本专利技术实施例成品烟箱缺条检测单元左右安装正视示意图; 图1b为本专利技术实施例成品烟箱缺条检测单元左右安装俯视示意图; 图2为本专利技术实施例成品烟箱缺条检测单元装置上下安装示意图; 图3为X光管示意图; 图4a为本专利技术实施例中屏蔽防护板正视示意图; 图4b为本发本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种成品包装箱缺件检测装置,安装在成品包装箱的输送机上,其特征在于,包括:至少一检测单元,所述每个检测单元包括:至少一X光源和至少一X射线探测器;至少一位置探测器,其安装在输送机的输送带两侧,用于监测包装箱进入/离开测试区,并输出信号给数据采集控制系统;一数据采集控制系统,其连接所述X射线探测器和所述位置探测器,接收所述X射线探测器和所述位置探测器的探测数据进行处理并提供控制信号。

【技术特征摘要】
CN 2007-2-16 200710064025.81.一种成品包装箱缺件检测装置,安装在成品包装箱的输送机上,其特征在于,包括至少一检测单元,所述每个检测单元包括至少一X光源和至少一X射线探测器;至少一位置探测器,其安装在输送机的输送带两侧,用于监测包装箱进入/离开测试区,并输出信号给数据采集控制系统;一数据采集控制系统,其连接所述X射线探测器和所述位置探测器,接收所述X射线探测器和所述位置探测器的探测数据进行处理并提供控制信号。2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,还包括一安装框架,相对于包装箱的输送带横/竖跨接安装在所述输送带上,该框架包括一X光源箱,用于安装所述X光源;一X射线探测器箱,用于安装所述X射线探测器;连接板,用于连接所述X光源箱和X射线探测器箱构成框架。3.根据权利要求1或2所述的检测装置,其特征在于,还包括一屏蔽防护板,其安装在所述X射线探测箱内的X射线探测器后面。4.根据权利要求1或2所述的检测装置,其特征在于,还包括一准直板,其安装在所述X射线探测箱内的X射线探测器前面,在对准所述X射线探测器的位置开有射线准直孔,X光源发出的X射线经所述准直孔射到X射线探测器上。5.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,还包括一剔除装置,安装在所述输送带的出口处,该剔除装置包括机座、驱动器、推杆、剔除滑道及位置探测器,当所述驱动器接收到位置探测器发出剔除信号后驱动推杆将不合格包装箱剔除。6.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,还包括一导流板,安装在所述输送带上方,用于将输送带上的包装箱导流到测试区的固定位置。7.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述X光源由电源系统、X射线发生器和冷却系统组成,所述X射线发生器采用X光管,所述X光管的阴极和阳极间的高压是可调节的,用以改变X射线强度。8.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述位置探测器选用光电式位置探测器、接触式开关、电控限位装置。9.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述X射线探测器是闪烁计数器、或电离室、或正比计数管、或G-M管。10.一种成品包装箱缺件的检测方法,用于包括检测单元、位置探测器、数据采集控...

【专利技术属性】
技术研发人员:邸生才
申请(专利权)人:邸生才
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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