检测系统技术方案

本申请实施例提供了一种检测系统，用于检测主板对PCH芯片的供电性能，主板包括供电模块和PCH固定端，供电模块通过PCH固定端为PCH芯片供电，检测系统包括：连接组件，连接组件包括第一连接部和第二连接部，第一连接部用于设置在PCH固定端上；加载模块，加载模块通过第二连接部连接于第一连接部，加载模块通过连接组件和PCH固定端与供电模块电连接，加载模块用于输出静态载荷或动态载荷。该检测系统可以同时检测测试主板在静态状态和动态状态下为PCH芯片供电的性能，无需进行设备的更换，能够大大缩短检测周期，且由于测试时间短，测试过程中出现温漂的概率大大降低，能够进一步提高测试结果的准确度。

【技术实现步骤摘要】
检测系统
本专利技术涉及服务器
，具体而言，涉及一种检测系统。
技术介绍
随着用户对服务器需求的提高，对服务器上PCH芯片的功耗及性能的要求也越来越严格，因此需要测试主板在静态状态和动态状态下为PCH芯片供电的性能以确保服务器的稳定运行。目前，在静态状态下检测主板为PCH芯片的供电性能主要是依赖于电子负载仪，而在动态状态下检测主板为PCH芯片的供电性能主要是依赖于Intel提供的Minislammer治具。而在测试过程中，静态状态的测量结果会作为动态状态的测试结果的参考，由于两个测试设备不一致，测试过程中需要更换设备，会导致所需时间太长、测试周期长，且探棒在长时间使用下会产生一定的温漂，会导致测试结果不准确。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。有鉴于此，根据本申请实施例提出了一种检测系统，用于检测主板对PCH芯片的供电性能，主板包括供电模块和PCH固定端，供电模块通过PCH固定端为PCH芯片供电，检测系统包括：连接组件，连接组件包括第一连接部和第二连接部，第一连本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测系统，其特征在于，用于检测主板对PCH芯片的供电性能，所述主板包括供电模块和PCH固定端，所述供电模块通过所述PCH固定端为所述PCH芯片供电，所述检测系统包括：/n连接组件，所述连接组件包括第一连接部和第二连接部，所述第一连接部用于设置在所述PCH固定端上；/n加载模块，所述加载模块通过所述第二连接部连接于所述第一连接部，所述加载模块通过所述连接组件和所述PCH固定端与所述供电模块电连接，所述加载模块用于输出静态载荷或动态载荷。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测系统，其特征在于，用于检测主板对PCH芯片的供电性能，所述主板包括供电模块和PCH固定端，所述供电模块通过所述PCH固定端为所述PCH芯片供电，所述检测系统包括：
连接组件，所述连接组件包括第一连接部和第二连接部，所述第一连接部用于设置在所述PCH固定端上；
加载模块，所述加载模块通过所述第二连接部连接于所述第一连接部，所述加载模块通过所述连接组件和所述PCH固定端与所述供电模块电连接，所述加载模块用于输出静态载荷或动态载荷。


2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述加载模块包括：
控制器；
信号控制单元，连接于所述控制器，用于向所述控制器输出控制信息，所述控制器基于所述控制信息生成模拟信号；
脉冲波产生单元，连接于所述信号控制单元和所述控制器，所述脉冲波产生单元基于所述控制信息生成脉冲驱动信号；
加载电路，所述加载电路连接于所述控制器，所述加载电路通过所述连接组件和所述PCH固定端与所述供电模块电连接，所述加载电压用于响应所述模拟信号输出静态载荷，所述加载电压还用于响应所述脉冲驱动信号输出动态载荷。


3.根据权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述加载电路包括：
三极管，连接于所述控制器，用于接收所述模拟信号或所述脉冲驱动信号；
MOS管，所述MOS管的栅极连接于所述三极管；所述MOS管的源极或漏级中的一者连接于所述PCH固定端上的正极端；
电阻，所述MO...

【专利技术属性】
技术研发人员：施秋云，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32