【技术实现步骤摘要】
一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统
本专利技术涉及无线电计量
，尤其涉及一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统。
技术介绍
在射频微波技术的研制和生产过程中，需要焊接大量锁相源、点频源、混频器、放大器等微波器件。随着射频微波技术的发展，微波器件正逐渐向多频点方向发展。在微波器件测试过程中，需要根据待测频点配置待测微波器件多个管脚的高低电平，而该过程通常需要人工手动切换输入至对应管脚的电压，同时需要人工记录每一待测频点下的待测微波器件管脚的高低电平配置情况、频谱分析仪的配置要求、数据采集要求及技术指标，并对比采集到的数据与相应的技术指标，以此获得待测微波器件的测试结果。考虑到同一待测微波器件需要完成多个待测频点的测试工作，以上过程会明显增加工作量及工作难度；同时，当更换待测微波器件时，需要重新执行以上人工操作过程，导致测试过程费时费力；此外，人工操作容易造成失误，例如管脚电压过载或误操作短接等，可能会对器件造成不可逆转的损坏。综上，现有的多频点微波器件测试过程效率低下，无法满足多频点微波器件自
【技术保护点】
1.一种多频点微波器件自动化测试方法，其特征在于，包括如下步骤：/n配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令、一个或多个测试子项；所述测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标；/n对所述待测微波器件在每一待测频点下执行测试过程；若所述待测微波器件在每一待测频点下的测试均通过，则所述待测微波器件测试通过；其中，/n每一待测频点下执行的测试过程包括：/n所述待测微波器件基于所述电平控制指令及接收的参考微波信号，生成当前待测频点对应的变频微波信号；/n频谱分析仪基于每一测试子项中的配置指令及数据获取指令，从所述变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据；/n判断每一测试...
【技术特征摘要】
1.一种多频点微波器件自动化测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令、一个或多个测试子项；所述测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标；
对所述待测微波器件在每一待测频点下执行测试过程；若所述待测微波器件在每一待测频点下的测试均通过，则所述待测微波器件测试通过；其中，
每一待测频点下执行的测试过程包括：
所述待测微波器件基于所述电平控制指令及接收的参考微波信号，生成当前待测频点对应的变频微波信号；
频谱分析仪基于每一测试子项中的配置指令及数据获取指令，从所述变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据；
判断每一测试子项下的测试数据是否满足相应测试子项下的技术指标，若均满足，则所述待测微波器件在当前待测频点下的测试通过。
2.根据权利要求1所述的多频点微波器件自动化测试方法，其特征在于，所述测试子项包括输出功率测试子项、杂散抑制测试子项、谐波抑制测试子项及相位噪声测试子项中的一项或多项。
3.根据权利要求2所述的多频点微波器件自动化测试方法，其特征在于，所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述输出功率测试子项下的测试数据：
根据所述配置指令复位所述频谱分析仪、并将所述频谱分析仪的扫频宽度设置为第一扫频宽度；
根据所述数据获取指令，获取所述变频微波信号对应的频域信号在所述第一扫频宽度下的频域信号峰值和输出频率。
4.根据权利要求2所述的多频点微波器件自动化测试方法，其特征在于，所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述杂散抑制测试子项下的测试数据：
根据所述配置指令将所述频谱分析仪的扫频宽度设置为第二扫频宽度；
根据所述数据获取指令，获取所述变频微波信号下的杂散信号，在所述第二扫频宽度对应的带宽范围内搜索所述杂散信号的最大峰值，并获取所述最大峰值的左侧峰值及右侧峰值；将所述左侧峰值和右侧峰值中的较大值作为杂散抑制值。
5.根据权利要求3所述的多频点微波器件自动化测试方法，其特征在于，所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述谐波抑制测试子项下的测试数据：
根据配置指令设置所述频谱分析仪的中心频率为谐波抑制测试频率；所述谐波抑制测试频率为所述输出频率的2倍；
根据所述数据获取指令，获取所述谐波抑制测试频率下的频域信号峰值。
6.根据权利要求2所述的多频点微波器件自动化测试方法，其特征在于，所述频谱分析仪通过执行以下操作获取所述相位噪声测试子项下的测试数据：
根据所述配置指...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨博，李宗昆，李志超，
申请(专利权)人：北京振兴计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11
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