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本发明涉及一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统，属于无线电计量技术领域，解决了微波器件测试效率低下、无法满足自动化测试需求的问题。方法步骤为：配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令和测试子项；测试子项包括配置指令、数据获取指令...
该专利属于北京振兴计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京振兴计量测试研究所授权不得商用。

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