一种电缆无损检测装置制造方法及图纸

技术编号:28293217 阅读:32 留言:0更新日期:2021-04-30 16:15
本发明专利技术公开了一种电缆无损检测装置,包括X射线发射单元,用于向待测的电缆发出X射线,产生X射线穿透区域;探测单元,设置在所述待测的电缆后方,用于接受由所述X射线发射单元发出的X射线,该探测单元包括闪烁晶体阵列层和硅光电倍增管阵列层,所述闪烁晶体阵列层包括多个闪烁晶体,每个所述闪烁晶体被配置为在所述X射线激发下能够产生光子,所述硅光电倍增管阵列层包括与该闪烁晶体阵列层的每个闪烁晶体一一对应的硅光电倍增管,每个所述硅光电倍增管被配置为当对应的闪烁晶体产生光子时,该硅光电倍增管输出一电流信号;处理器,用于接收和处理所述电流信号,并根据该电流信号生成检测结果。

【技术实现步骤摘要】
一种电缆无损检测装置
本专利技术属于电缆检测领域,具体涉及一种电缆电缆无损检测装置。
技术介绍
随着城市电网电缆化的程度不断提高,电缆供电可靠性的要求也不断提高,在实际的线路运行过程中,由于施工、老化、制造缺陷、安装缺陷等因素,导致电缆故障几率非常高。电缆故障导致无法正常供电,严重影响到企业生产、日常生活、城市建设等多方面,给用户造成巨大的损失。准确掌握电缆的内部状态,制定正确的检修对策,避免因电缆质量问题导致突发性事故的发生,十分重要,现有的带电检测技术不能及时有效进行检测。如果不能及时发现,运行过程中可能会产生局部过热、甚至烧坏电缆,严重影响电网和人身安全。通常,只能通过停电检修的离线的方法进行电缆解体分析,进而了解电缆内部的缺陷。不同的离线条件,导致高压电缆的部分绝缘隐患难以发现,同时停电试验检修会造成一定的经济损失以及负面的社会影响。此方法检测成本高,时效性滞后,效果较差。因此,在不破坏电力电缆外观的情况下采用有效的检测方法,对电缆行实时准确地检查是非常有必要的。传统的检测手段因其较低的精度、可靠性以及安全性,越来越难以对故障做本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电缆无损检测装置,其特征在于:/nX射线发射单元,用于向待测的电缆发出X射线,产生X射线穿透区域;/n探测单元,设置在所述待测的电缆后方,用于接受由所述X射线发射单元发出的X射线,该探测单元包括闪烁晶体阵列层和硅光电倍增管阵列层,/n所述闪烁晶体阵列层包括多个闪烁晶体,每个所述闪烁晶体被配置为在所述X射线激发下能够产生光子,/n所述硅光电倍增管阵列层包括与该闪烁晶体阵列层的每个闪烁晶体一一对应的硅光电倍增管,每个所述硅光电倍增管被配置为当对应的闪烁晶体产生光子时,该硅光电倍增管输出一电流信号;/n处理器,用于接收和处理所述电流信号,并根据该电流信号生成检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种电缆无损检测装置,其特征在于:
X射线发射单元,用于向待测的电缆发出X射线,产生X射线穿透区域;
探测单元,设置在所述待测的电缆后方,用于接受由所述X射线发射单元发出的X射线,该探测单元包括闪烁晶体阵列层和硅光电倍增管阵列层,
所述闪烁晶体阵列层包括多个闪烁晶体,每个所述闪烁晶体被配置为在所述X射线激发下能够产生光子,
所述硅光电倍增管阵列层包括与该闪烁晶体阵列层的每个闪烁晶体一一对应的硅光电倍增管,每个所述硅光电倍增管被配置为当对应的闪烁晶体产生光子时,该硅光电倍增管输出一电流信号;
处理器,用于接收和处理所述电流信号,并根据该电流信号生成检测结果。


2.根据权利要求1所述的电缆无损检测装置,其特征在于:所述硅光电倍增管输出的电流信号包括强度信息,该电流信号中的强度信息与所述闪烁晶体发出的光子强度成正比,所述处理器根据所述强度信息,判断所述待测的电缆中有无破损。


3.根据权利要求1所述的电缆无损检测装置,其特征在于:所述硅光电倍增管输出的电流信号包括位置信息,该电流信号中的位置信息为带有所述闪烁晶体在该闪烁晶体阵列层的位置坐标和与该闪烁晶体对应的硅光电倍增管在所述硅光电倍增管阵列层的位置坐标,所述处理器根据所述位置信息,判断所述待测的电缆缺陷的具体位置。

【专利技术属性】
技术研发人员:郭锴悦赵天琦金尚忠周亚东赵春柳
申请(专利权)人:中国计量大学
类型:发明
国别省市:浙江;33

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