非接触纳米薄膜张力测试系统和方法技术方案

本申请公开一种非接触纳米薄膜张力测试系统和方法。非接触纳米薄膜张力测试系统包括测量组件、位移测量部、直流电源以及采集数据模块。测量组件包括电极板、定位板以及支撑部，支撑部设于电极板和定位板之间，用于组装纳米薄膜，使纳米薄膜平行于电极板，定位板形成有定位孔，定位孔被配置为处于纳米薄膜的正上方。位移测量部设于定位孔的正上方，用于测量纳米薄膜的扰度。直流电源被配置为电压可调，且直流电源的正极用于连接纳米薄膜，直流电源的负极连接电极板。采集数据模块与位移测量部连接。本申请提供的技术方案能够以低成本、高测试可靠性、保证精确度地测试纳米薄膜张力性能。

【技术实现步骤摘要】
非接触纳米薄膜张力测试系统和方法
本申请涉及纳米薄膜性能测试
，具体而言，涉及一种非接触纳米薄膜张力测试系统和方法。
技术介绍
自从纳米材料发展以来，纳米薄膜材料具有独特的力学、电磁学、光学等性能，极大的改变了光电子功能器件的基本物理性质，在电子领域表现出巨大应用潜力。由于高质量纳米薄膜在可加工性、韧性、耐磨性及振荡性等方面性能较差，使其在某些方面不能表现出足够的应用价值，限制了纳米薄膜的应用范围。因此需要测试纳米薄膜的特性。然而，采用传统的力学方法测试薄膜的张力性能在技术上存在很大困难，目前测试薄膜张力方法主要使用接触式、激励式的，但这些方法的装置成本高、测试可靠性低，精确度难以得到保证，在实际工程中仍多以理论和实验相结合的方式进行测量。为此，设计一种无接触式、易操作、精度高、对薄膜无损伤，适用于现场实测的膜张力测量装置,成为本领域研究人员迫切需要解决的技术问题。
技术实现思路
本申请提供了一种非接触纳米薄膜张力测试系统和方法，其能够以低成本、高测试可靠性、保证精确度地测试纳米薄膜张力性能。>第一方面，本专利技本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种非接触纳米薄膜张力测试系统，其特征在于，包括：/n测量组件，所述测量组件包括电极板、定位板以及支撑部，所述支撑部设于所述电极板和所述定位板之间，用于组装纳米薄膜，使所述纳米薄膜平行于所述电极板，所述定位板形成有定位孔，所述定位孔被配置为处于所述纳米薄膜的正上方；/n位移测量部，设于所述定位孔的正上方，用于测量所述纳米薄膜的扰度；/n直流电源，被配置为电压可调，且所述直流电源的正极用于连接纳米薄膜，所述直流电源的负极连接所述电极板；以及/n采集数据模块，所述采集数据模块与所述位移测量部连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种非接触纳米薄膜张力测试系统，其特征在于，包括：
测量组件，所述测量组件包括电极板、定位板以及支撑部，所述支撑部设于所述电极板和所述定位板之间，用于组装纳米薄膜，使所述纳米薄膜平行于所述电极板，所述定位板形成有定位孔，所述定位孔被配置为处于所述纳米薄膜的正上方；
位移测量部，设于所述定位孔的正上方，用于测量所述纳米薄膜的扰度；
直流电源，被配置为电压可调，且所述直流电源的正极用于连接纳米薄膜，所述直流电源的负极连接所述电极板；以及
采集数据模块，所述采集数据模块与所述位移测量部连接。


2.根据权利要求1所述的非接触纳米薄膜张力测试系统，其特征在于，
所述支撑部包括上下层叠的第一绝缘支撑件和第二绝缘支撑件，所述纳米薄膜被所述第一绝缘支撑件和所述第二绝缘支撑件共同夹持。


3.根据权利要求2所述的非接触纳米薄膜张力测试系统，其特征在于，
所述第一绝缘支撑件的高度与所述第二绝缘支撑件的高度相等。


4.根据权利要求1所述的非接触纳米薄膜张力测试系统，其特征在于，
所述电极板的材料可以为金、银、铝或铜。


5.根据权利要求1所述的非接触纳米薄膜张力测试系统，其特征在于，
所述位移测量部包括激光位移计。


6.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘科海，杨秀华，杨方友，张超，陈益，王恩哥，
申请(专利权)人：松山湖材料实验室，
类型：发明
国别省市：广东;44