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本申请公开一种非接触纳米薄膜张力测试系统和方法。非接触纳米薄膜张力测试系统包括测量组件、位移测量部、直流电源以及采集数据模块。测量组件包括电极板、定位板以及支撑部，支撑部设于电极板和定位板之间，用于组装纳米薄膜，使纳米薄膜平行于电极板，定位...
该专利属于松山湖材料实验室所有，仅供学习研究参考，未经过松山湖材料实验室授权不得商用。

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