【技术实现步骤摘要】
一种基准坐标动态补偿的测量设备及坐标动态补偿方法
本专利技术属于坐标测量
,具体涉及一种利用二维基准板进行动态实时补偿的坐标测量方法。
技术介绍
现代制造业生产过程中,零部件的几何尺寸测量是不可或缺的重要环节。坐标测量仪是广泛应用的几何尺寸测量设备,包括配置接触式探针的三坐标测量仪和配置影像测头的影像测量仪。其中,XY二维运动系统是坐标测量仪的基本配置,通常为两个一维运动系统的叠加,每个一维运动系统均采用光栅尺或磁栅尺作为反馈元件。然而,在坐标测量仪的生产过程中,需要对XY运动系统进行精密调整装配,并进行定位精度、直线度、垂直度等几何误差的检定与补偿,延长了生产周期;而且,在影像仪的使用过程中,设备精度可能发生变化,需要对上述几何误差进行重新检定与补偿。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足,本专利技术的目的在于提供一种基准坐标动态补偿的测量设备及坐标动态补偿方法,其能解决在坐标测量仪生产及使用过程中需进行几何误差检定与补偿的问题。本专利技术的目的采用以下技术方案实现:一种基准坐标动态补偿的测量设备,设备包括底座、二维基准板、定位影像系统、测量系统和控制器,所述二维基准板、定位影像系统和测量系统自下而上依次设置,所述定位影像系统和测量系统均与所述控制器电讯连接;其中,所述定位影像系统瞄准二维基准板,捕捉二维基准板上的图案,实时获取所述测量系统在二维基准板坐标系中的位置并反馈给控制器,以此实时补偿测量系统的基准坐标;所述测量系统瞄准被测件,基于实时补偿而修正的基 ...
【技术保护点】
1.一种基准坐标动态补偿的测量设备,其特征在于:设备包括底座(1)、二维基准板(10)、定位影像系统、测量系统和控制器,所述二维基准板(10)、定位影像系统和测量系统自下而上依次设置,所述定位影像系统和测量系统均与所述控制器电讯连接;/n其中,所述定位影像系统瞄准二维基准板,捕捉二维基准板上的图案,实时获取所述测量系统在二维基准板坐标系中的位置并反馈给控制器,以此实时补偿测量系统的基准坐标;/n所述测量系统瞄准被测件,基于实时补偿而修正的基准坐标捕捉被测特征,进行几何尺寸测量。/n
【技术特征摘要】
1.一种基准坐标动态补偿的测量设备,其特征在于:设备包括底座(1)、二维基准板(10)、定位影像系统、测量系统和控制器,所述二维基准板(10)、定位影像系统和测量系统自下而上依次设置,所述定位影像系统和测量系统均与所述控制器电讯连接;
其中,所述定位影像系统瞄准二维基准板,捕捉二维基准板上的图案,实时获取所述测量系统在二维基准板坐标系中的位置并反馈给控制器,以此实时补偿测量系统的基准坐标;
所述测量系统瞄准被测件,基于实时补偿而修正的基准坐标捕捉被测特征,进行几何尺寸测量。
2.根据权利要求1所述的测量设备,其特征在于:所述测量系统包括Y轴导轨(2)、立柱(3)、X轴横梁(4)、Z轴底板(5)、Z轴滑台(6)、和测量相机组件(7);
两根Y轴导轨(2)平行的设置在底座(1)两侧,两根立柱(3)的底部匹配的设置在两根Y轴导轨(2)上;所述X轴横梁(4)的底面两端部固定设置在两根所述立柱(3)的顶部;在所述X轴横梁(4)上设置被控的沿X轴向移动的Z轴底板(5),在所述Z轴底板(5)上设置被控的沿Z轴向移动的Z轴滑台(6),所述测量相机组件(7)设置在所述Z轴滑台(6)上;以此实现测量相机组件(7)在X、Y和Z轴向相对于所述二维基准板(10)可控的移动。
3.根据权利要求2所述的测量设备,其特征在于:所述Z轴滑台(6)为L型,Z轴滑台(6)的X板的背面通过滑轨和Z轴电机驱动的安装在所述Z轴底板(5)上;Z轴滑台(6)的Y板安装所述测量相机组件(7)。
4.根据权利要求3所述的测量设备,其特征在于:所述测量相机组件(7)包括测量相机(71)、微调电机(72)、连接筒(73)、远心镜头(74)和测量光源(75);其中,在所述测量相机(71)和远心镜头(74)之间设置弹性伸缩的连接筒(73);所述测量相机(71)由所述微调电机(72)驱动的上下移动以调节与远心镜头(74)之间的距离;所述测量光源(75)设置在所述远心镜头(74)侧边下方。
5.根据权利要求4所述的测量设备,其特征在于:所述测量相机组件(7)还包括复检相机,所述复检相机设置在测量相机(71)侧边,并共用所述测量光源(75)。
6.根据权利要求1所述的测量设备,其特征在于:所述二维基准板(1...
【专利技术属性】
技术研发人员:王志伟,谷孝东,王艳,潘瑞丰,曹葵康,蔡雄飞,
申请(专利权)人:苏州天准科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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