减振结构、检测系统和测序系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种减振结构、检测系统和测序系统。减振结构用于检测系统中，所述减振结构包括本体和支撑体，所述本体通过所述支撑体与所述检测系统连接，所述本体包括成像模块、上层结构、下层结构和中间结构，所述成像模块安装在所述上层结构上，所述下层结构通过所述中间结构承载所述上层结构，所述本体包括载物模块，所述载物模块用于承载和移动反应装置，所述载物模块安装在所述下层结构上，所述反应装置可拆卸地安装在所述载物模块上。上述减振结构、检测系统和测序系统中，考虑到在本体上有X/Y方向上的二维运动，因此主体采用上下双层结构，可有效抑制整个平台的振动，进而提升整个减振结构的减振效果。提升整个减振结构的减振效果。提升整个减振结构的减振效果。

【技术实现步骤摘要】
减振结构、检测系统和测序系统


[0001]本技术涉及机械领域，尤其涉及一种减振结构、检测系统和测序系统。

技术介绍

[0002]机械振动是一种普遍存在的自然物理现象，机构自身内部相互运动能够产生，外部激励传导也会引起。在大在多数情况下，机械振动带来的影响都是负面效果，严重时甚至会引起安全故障。
[0003]包含成像模块的检测系统，基于采集图像、分析图像数据实现检测，一般对振动较敏感。在检测系统设计和测试时，包括硬件组成模块和系统集成的设计和测试，一般都要考虑抑制振动、隔振设计等以及进行振动评价，以期设计出的组成模块和/或系统能够有效隔绝和/或衰减外部和内部振动因素的干扰。
[0004]在基于光学成像系统检测反应装置中的待测核酸分子的测序系统/测序平台中，测序系统包括成像模块，利用成像模块对测序反应时的反应装置(例如芯片)中的核酸分子进行拍摄，并分析拍摄所得的图像进而得到测序结果。
[0005]一般地，由于成像模块拍摄的是来自核酸单个分子或者分子簇的信号，因而成像模块和/或测序系统对振动非常敏感。在成像过程/测序过程中，需要有效地隔绝和衰减成像模块或测序系统外部和/或内部振动因素的干扰，以确保成像/测序过程能够稳定地获得清晰的核酸分子图像，使得测序结果的准确性和可靠性得到保障。
[0006]因此，有必要提供一种减振结构、一种检测系统和/或一种测序系统。

技术实现思路

[0007]为此，本技术实施方式提供一种减振结构、检测系统和测序系统。
[0008]本技术实施方式的一种减振结构，用于检测系统中，所述减振结构包括本体和支撑体，所述本体通过所述支撑体与所述检测系统连接，所述本体包括成像模块、上层结构、下层结构和中间结构，所述成像模块安装在所述上层结构上，所述下层结构通过所述中间结构承载所述上层结构，所述本体包括载物模块，所述载物模块用于承载和移动反应装置，所述载物模块安装在所述下层结构上，所述反应装置可拆卸地安装在所述载物模块上。
[0009]上述减振结构中，考虑到在本体上有X/Y方向上的二维运动，因此主体采用上下双层结构，可有效抑制整个平台的振动，进而提升整个减振结构的减振效果。
[0010]本技术实施方式的一种检测系统，包括上述任一实施方式的减振结构。
[0011]本技术实施方式的一种测序系统，包括上述任一实施方式的减振结构。
[0012]上述检测系统和测序系统中，考虑到在本体上有X/Y方向上的二维运动，因此主体采用上下双层结构，可有效抑制整个平台的振动，进而提升整个减振结构的减振效果。
[0013]本技术实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术实施方式的实践了解到。
附图说明
[0014]本技术实施方式的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0015]图1是本技术实施方式的减振结构的结构示意图；
[0016]图2是本技术实施方式的减振结构的另一结构示意图；
[0017]图3是本技术实施方式的减振结构的再一结构示意图；
[0018]图4是本技术实施方式的减振结构的又一结构示意图；
[0019]图5是本技术实施方式的成像模块对光源进行成像的光源亮斑图；
[0020]图6是本技术实施方式的测序系统的结构示意图；
[0021]图7至图11是本技术实施方式对减振结构进行振动分析的相关图；
[0022]图12至图23是本技术实施方式利用图像对载物模块是否发生振动进行评估的相关图；
[0023]图24是本技术实施方式的成像模块的结构示意图；
[0024]图25是本技术实施方式的第一光源的结构示意图；
[0025]图26是本技术实施方式的成像模块的另一结构示意图；
[0026]图27是本技术实施方式的第二光源的结构示意图；
[0027]图28是本技术实施方式的成像模块在不包含第一分光器时的成像光束的光斑尺寸仿真结果示意图；
[0028]图29是本技术实施方式的成像模块在包含第一分光器的成像光束的光斑的尺寸仿真结果示意图；
[0029]图30是本技术实施方式的成像模块在引入补偿镜片的成像光束的光斑的尺寸仿真结果示意图；
[0030]图31是本技术实施方式的成像模块的部分立体示意图；
[0031]图32是图31的成像模块的主视图；
[0032]图33是图31的成像模块的俯视图；
[0033]图34是本技术实施方式的分光模组在调试时的结构示意图；
[0034]图35是本技术实施方式的分光模组在调试时的另一结构示意图；
[0035]图36是本技术实施方式的载物模块的立体示意图；
[0036]图37是本技术实施方式的载物模块的另一立体示意图；
[0037]图38是本技术实施方式的载物模块的截面示意图；
[0038]图39是图38的载物模块V部分的放大示意图；
[0039]图40是本技术实施方式的支撑件和第一调节件的连接示意图；
[0040]图41是本技术实施方式的载物模块的另一截面示意图；
[0041]图42是图41的载物模块VI部分的放大示意图；
[0042]图43是本技术实施方式的一级调节结构和承载模块的连接示意图；
[0043]图44是本技术实施方式的一级调节结构和承载模块的另一连接示意图；
[0044]图45是本技术实施方式的一级调节结构和承载模块的平面示意图。
具体实施方式
[0045]下面详细描述本技术的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
[0046]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者顺序。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0047]在本实用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种减振结构，用于检测系统中，其特征在于，所述减振结构包括本体和支撑体，所述本体通过所述支撑体与所述检测系统连接，所述本体包括成像模块、上层结构、下层结构和中间结构，所述成像模块安装在所述上层结构上，所述下层结构通过所述中间结构承载所述上层结构，所述本体包括载物模块，所述载物模块用于承载和移动反应装置，所述载物模块安装在所述下层结构上，所述反应装置可拆卸地安装在所述载物模块上。2.根据权利要求1所述的减振结构，其特征在于，所述中间结构包括第一连接件和第二连接件，所述上层结构和所述下层结构均具有左侧和右侧，所述第一连接件和第二连接件分别为板状结构和柱状结构，所述第一连接件和所述第二连接件中的一个连接所述下层结构的左侧和所述上层结构的左侧，另一个连接所述下层结构的右侧和所述上层结构的右侧。3.根据权利要求1所述的减振结构，其特征在于，所述中间结构包括第一连接件和第二连接件，所述上层结构和所述下层结构均具有左侧和右侧，所述第一连接件和第二连接件均为板状结构，所述第一连接件和所述第二连接件中的一个连接所述下层结构的左侧和所述上层结构的左侧，另一个连接所述下层结构的右侧和所述上层结构的右侧。4.根据权利要求3所述的减振结构，其特征在于，所述中间结构包括第三连接件，所述第三连接件为板状结构，所述上层结构和所述下层结构均具有后侧，所述第三连接件连接所述下层结构的后侧和所述上层结构的后侧。5.根据权利要求4所述的减振结构，其特征在于，所述第一连接件、所述第二连接件和所述第三连接件均为一个一体化结构的一部分。6.根据权利要求3所述的减振结构，其特征在于，所述本体具有中心线，所述第一连接件和所述第二连接件沿所述中心线对称设置。7.根据权利要求4所述的减振结构，其特征在于，所述本体具有中心线，所述第一连接件和所述第二连接件沿所述中心线对称设置。8.根据权利要求3或4或6所述的减振结构，其特征在于，所述减振结构包括加强件，所述加强件能够增强所述本体的强度，所述加强件连接所述第一连接件和所述下层结构，和/或所述加强件连接所述第一连接件和所述第二连接件。9.根据权利要求8所述的减振结构，其特征在于，所述加强件连接所述第一连接件的外侧和所述下层结构的上侧。10.根据权利要求8所述的减振结构，其特征在于，所述加强件连接所述第一连接件的内侧、所述上层结构的下侧和所述第二连接件的内侧。11.根据权利要求1所述的减振结构，其特征在于，所述支撑体包括减振件和支撑脚，所述检测系统包括基板，所述本体安装在所述减振件上，所述减振件通过所述支撑脚安装在所述基板上。12.根据权利要求11所述的减振结构，其特征在于，所述减振件的主轴平行于所述成像模块的光轴。13.根据权利要求11或12所述的减振结构，其特征在于，所述减振件为防振凝胶座。14.根据权利要求1所述的减振结构，其特征在于，所述上层结构包括上层板，所述下层结构包括下层板，所述下层板采用的材料的密度和/或所述中间结构采用的材料的密度比
所述上层板采用的材料的密度大。15.根据权利要求14所述的减振结构，其特征在于，所述下层板较所述上层板重。16.根据权利要求14所述的减振结构，其特征在于，所述上层板采用的材料包括铝合金，所述下层板和/或所述中间结构采用的材料包括钢材。17.根据权利要求1所述的减振结构，其特征在于，所述减振结构的固有频率不等于外部激励频率。18.一种检测系统，其特征在于，包括权利要求1
‑
17任一项所述的减振结构。19.一种测序系统，其特征在于，包括权利要求1
‑
17任一项所述的减振结构。20.根据权利要求19所述的测序系统，其特征在于，所述成像模块包括第一光源、第一透镜和分光模块，所述分光模块包括第一分光器、第二透镜、第一相机和第二相机，所述第一透镜用于接收来自所述第一光源的第一光束并使该第一光束准直后入射至样品上，以及用于接收来自所述样品的光束并使该光束准直，所述第二透镜用于使来自所述第一透镜的准直光束会聚，所述第一分光器用于将来自所述第二透镜的会聚光束分为第二光束和第三光束，所述第一相机用于接收所述第二光束，所述第二相机用于接收所述第三光束。21.根据权利要求20所述的测序系统，其特征在于，所述第一光源包括第一发光器和第三透镜，所述成像模块包括第四透镜，所述第一光束为所述第一发光器发出的光束经过所述第三透镜后的准直光束，所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑焦，姜泽飞，周志良，王光明，张松振，
申请(专利权)人：深圳市真迈生物科技有限公司，
类型：新型
国别省市：