一种基于三极管设计的导通测试电路制造技术

本发明专利技术提供一种基于三极管设计的导通测试电路，包括四个电阻R1、R2、R3和R4，两个发光二极管D1和D2，三极管Q1、两个测试点1号、2号和电源，通过测试点1号、2号连接待测线束，三极管Q1的发射极串联发光二极管D2和电阻R3后连接在电源上，三极管Q1的集电极接地，三极管Q1的基极串联电阻R4后连接在测试点1号，测试点2号接地，电阻R2串联发光二极管D1后整体并联在发光二极管D2和测试点2号上，电阻R1并联在发光二极管D1两端。通过三极管的特性，将待检测的电路接入导通测试电路的测试点之间，检测出待检测电路是否导通，并且无需较高的成本，结构简单，装配方便，通过实际测试，方案可行，经济实用。实用。实用。

【技术实现步骤摘要】
一种基于三极管设计的导通测试电路


[0001]本技术涉及电路导通检测
，尤其涉及一种基于三极管设计的导通测试电路。

技术介绍

[0002]目前在产品在工作时，一般会使用电路对其进行控制，而目前在电路工作前，需要对电路进行导通检测，而目前对于电路进行导通检测，一般会使用万用表的导通档或者专用的导通测试台进行检测，但是上述设备的购买成本较高，而且在检测时需要使用者了解整个待检测电路，对需要检测的电路位置进行确定后才能进行导通检测，效率较低。因此，解决电路导通检测成本较高且效率较低的问题就显得尤为重要了。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的不足，本技术的目的是提供了一种基于三极管设计的导通测试电路，通过三极管的特性，将待检测的电路接入导通测试电路的测试点之间，方便快捷的检测出待检测电路是否导通，并且无需较高的成本，解决了电路导通检测成本较高且效率较低的问题。
[0004]本专利技术提供一种基于三极管设计的导通测试电路，包括四个电阻R1、R2、R3和R4，两个发光二极管D1和D2，三极管Q1、两个测试点1号、2号和电源，通过测试点1号、2号连接待测线束，所述三极管Q1的发射极串联发光二极管D2和电阻R3后连接在电源上，所述三极管Q1的集电极接地，所述三极管Q1的基极串联电阻R4后连接在测试点1号，测试点2号接地，所述电阻R2串联发光二极管D1后整体并联在发光二极管D2和测试点2号上，所述电阻R1并联在发光二极管D1两端。
[0005]进一步改进在于：所述发光二极管D1发射红光，发光二极管D2发射绿光。
[0006]进一步改进在于：所述电阻R1的阻值为1KΩ，电阻R2的阻值为1KΩ，电阻R3的阻值为1KΩ，电阻R4的阻值为1KΩ。
[0007]进一步改进在于：所述电源使用12V电源。
[0008]本技术的有益效果是：通过三极管的特性，将待检测的电路接入导通测试电路的测试点之间，方便快捷的检测出待检测电路是否导通，并且无需较高的成本，结构简单，装配方便，通过实际测试，方案可行，经济实用。
附图说明
[0009]图1是本技术的电路结构图。
具体实施方式
[0010]为了加深对本技术的理解，下面将结合实施例对本技术作进一步的详述，本实施例仅用于解释本技术，并不构成对本技术保护范围的限定。
[0011]如图1所示，本实施例提供了一种基于三极管设计的导通测试电路，包括四个电阻R1、R2、R3和R4，两个发光二极管D1和D2，三极管Q1、两个测试点1号、2号和电源，通过测试点1号、2号连接待测线束，所述三极管Q1的发射极串联发光二极管D2和电阻R3后连接在电源上，所述三极管Q1的集电极接地，所述三极管Q1的基极串联电阻R4后连接在测试点1号，测试点2号接地，所述电阻R2串联发光二极管D1后整体并联在发光二极管D2和测试点2号上，所述电阻R1并联在发光二极管D1两端。所述发光二极管D1发射红光，发光二极管D2发射绿光。所述电阻R1的阻值为1KΩ，电阻R2的阻值为1KΩ，电阻R3的阻值为1KΩ，电阻R4的阻值为1KΩ。所述电源使用12V电源。通过三极管的特性，将待检测的电路接入导通测试电路的测试点之间，方便快捷的检测出待检测电路是否导通，并且无需较高的成本，结构简单，装配方便，通过实际测试，方案可行，经济实用。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于三极管设计的导通测试电路，其特征在于：包括四个电阻R1、R2、R3和R4，两个发光二极管D1和D2，三极管Q1、两个测试点1号、2号和电源，通过测试点1号、2号连接待测线束，所述三极管Q1的发射极串联发光二极管D2和电阻R3后连接在电源上，所述三极管Q1的集电极接地，所述三极管Q1的基极串联电阻R4后连接在测试点1号，测试点2号接地，所述电阻R2串联发光二极管D1后整体并联在发光二极管D2和测试点2号上，所述电...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵灵君，
申请(专利权)人：芜湖德鑫智控有限公司，
类型：新型
国别省市：