【技术实现步骤摘要】
一种金属电极结构的实现方法
[0001]本专利技术涉及半导体器件制造中的湿法腐蚀工艺领域,特别涉及一种金属电极结构的实现方法。
技术介绍
[0002]在半导体器件上,出于多种目的,常使用金属化工艺来在芯片上淀积导电金属薄膜。考虑金属材料是否合格主要有几点要求:导电性、粘附性、淀积难度、平坦化、可靠性、抗腐蚀性和应力,在这些方面,钛和铝都具有良好表现。钛金属因其功函数大、接触电阻小、粘附性好等特点,在肖特基接触、欧姆接触、阻挡层金属、金属互联、接触金属以及合金组分等方面被广泛使用。铝金属因其低电阻率、低成本以及工艺兼容性,是目前半导体制造业中最主要的材料之一,在金属互联、电极加厚、焊接金属、表面钝化以及欧姆接触等方面被广泛使用。钛铝双层金属,作为肖特基二极管的势垒金属、势垒金属的加厚金属,以及MOSFET欧姆金属的加厚金属,都是常见的金属电极结构。因此,对钛铝金属进行图形化处理,是一道半导体制程中有广泛需求的关键技术。
[0003]湿法腐蚀是半导体器件制程中广泛使用的一种工艺,在漂去金属或介质、去除残留物以及大尺寸图形 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种金属电极结构的实现方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)在金属表面涂覆光刻胶,并光刻形成掩膜;所述金属电极由钛金属和铝金属组成;(2)将光刻后的圆片传入单片式喷雾腐蚀系统,封闭腔体;(3)使用铝腐蚀液喷雾腐蚀铝金属;(4)使用去离子水将残留在圆片表面的铝腐蚀液冲洗干净;(5)使用稀释氢氟酸喷雾腐蚀钛金属;(6)使用去离子水将残留在圆片表面的稀释氢氟酸冲洗干净;(7)再次使用铝腐蚀液喷雾腐蚀铝金属;(8)使用去离子水将残留在圆片表面的铝腐蚀液冲洗干净;(9)将圆片甩干脱水;(10)打开腔体,将腐蚀后的圆片传出;(11)使用有机溶液去除圆片表面的光刻胶。2.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述钛金属在底层,厚度为50
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500nm;所述铝金属在顶层,厚度为1
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10um。3.根据权利要求2所述的制造方法,其特征在于,最终得到的电极结构,为底层钛金属边缘超出顶层铝金属边缘至少0.1um。4.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述光刻胶为正胶。5.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述铝腐蚀液为磷酸、硝酸、醋...
【专利技术属性】
技术研发人员:张宏伟,栗锐,陈征,柏松,杨勇,费晨曦,
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第五十五研究所,
类型:发明
国别省市:
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