一种天线近场数据采集方法和系统技术方案

本发明专利技术涉及一种天线近场数据采集方法和系统，方法包括近场测试系统将收发通道位置信息和频点信息打包成第一数据包，对第一数据包和同步脉冲信号进行累加计数，分别得到对应的计数值，将同步脉冲信号和第二数据包发送给模拟器，第二数据包包括第一数据包和对应的计数值；模拟器分别对第一数据包和同步脉冲信号进行累加计数，并对对应的计数值进行检验，当检验通过时，将同步脉冲信号和第一数据包发送给波束控制系统；波束控制系统根据第一数据包和同步脉冲信号更新相控阵天线的工作状态；近场测试系统采集当前收发通道的频点信息对应的相位和幅度信息，可以避免丢包的现象发生，可以极大地降低天线近场测试时间，保证了天线近场数据的快速采集。场数据的快速采集。场数据的快速采集。

【技术实现步骤摘要】
一种天线近场数据采集方法和系统


[0001]本专利技术涉及天线
，具体涉及一种天线近场数据采集方法和系统。

技术介绍

[0002]天线近场数据包括所有收发通道所有工作频点的初始相位和初始幅度等参数，通过对这些参数的采集以及处理，可以及时发现故障通道并对天线整体性能进行有效评估。
[0003]对于小规模相控阵天线，近场数据规模不大，可以对每个收发通道进行单频点测试，如果中间出现失误，重新开始测试即可，可以忽略测试效率等因素；但是随着相控阵天线规模的逐步扩大，通道数量和频点数量均日益增加，这种情况下传统的测试效率低下的弊端被放大，日益成为制约天线测试的瓶颈，如果测试过程中出现单点失误，则从失误点开始的测试数据都是无效数据，这都会造成人力物力的极大浪费，严重制约着工程进度的顺利开展，使得天线近场数据的采集时间消耗较大。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种天线近场数据采集方法和系统，通过数据包和同步脉冲信号双重计数，可以避免丢包的现象发生，通过校验保证测试结果正确性，进而可以极大地降低天线近场测试时间，保证了天线近场参数的快速采集。
[0005]本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种天线近场数据采集方法，应用于一种天线近场数据采集系统，所述天线近场数据采集系统包括近场测试系统、模拟器、波束控制系统和相控阵天线；所述天线近场数据采集方法包括：
[0006]所述近场测试系统将收发通道位置信息和频点信息打包成第一数据包，对所述第一数据包和同步脉冲信号进行累加计数，得到第一数据包计数值和第一同步脉冲信号计数值，将所述同步脉冲信号和第二数据包发送给所述模拟器，所述第二数据包包括所述第一数据包、第一数据包计数值和第一同步脉冲信号计数值；
[0007]所述模拟器分别对所述第一数据包和同步脉冲信号进行累加计数，并对所述第一数据包计数值和第一同步脉冲信号计数值进行检验，当检验通过时，将所述同步脉冲信号和第一数据包发送给所述波束控制系统；
[0008]所述波束控制系统根据所述第一数据包和同步脉冲信号更新相控阵天线的工作状态；
[0009]所述近场测试系统采集当前收发通道的频点信息对应的相位和幅度信息。
[0010]本专利技术的有益效果是：由近场测试系统将收发通道位置信息和频点信息打包成第一数据包，近场测试系统和模拟器分别进行第一数据包和同步脉冲信号的双重计数，再由模拟器对近场测试系统的计数值进行校验，在校验通过时，由波束控制系统根据第一数据包和同步脉冲信号更新相控阵天线的工作状态，近场测试系统采集当前收发通道的频点信息对应的相位和幅度信息；通过第一数据包和同步脉冲信号双重计数，可以避免丢包的现象发生，通过校验保证测试结果正确性，进而可以极大地降低天线近场测试时间，保证了天
线近场参数的快速采集。
[0011]在上述技术方案的基础上，本专利技术还可以做如下改进：
[0012]进一步，所述模拟器分别对所述第一数据包和同步脉冲信号进行累加计数，并对所述第一数据包计数值和第一同步脉冲信号计数值进行检验包括：
[0013]所述模拟器分别对所述第一数据包和同步脉冲信号进行累加计数，得到第二数据包计数值和第二同步脉冲信号计数值，当确定第一数据包计数值与所述第二数据包计数值相同，且第一同步脉冲信号计数值和第二同步脉冲信号计数值相同时，确定校验通过。
[0014]采用上述进一步方案的有益效果是：通过近场测试系统和模拟器对第一数据包和同步脉冲信号进行双重计数，由模拟器对近场测试系统的计数进行校验，可以避免丢包的现象发生，通过校验保证测试结果正确性。
[0015]进一步，所述将所述同步脉冲信号和第一数据包发送给所述波束控制系统包括：
[0016]将所述第一数据包、第二数据包计数值和第二同步脉冲信号计数值填入控制字，将所述控制字和所述同步脉冲信号发送给所述波束控制系统。
[0017]采用上述进一步方案的有益效果是：通过将第一数据包、同步脉冲信号、第二数据包计数值和第二同步脉冲信号计数值发送给波束控制系统，便于后续波束控制系统利用计数纠错机制进行验证。
[0018]进一步，所述波束控制系统根据所述第一数据包和同步脉冲信号更新相控阵天线的工作状态包括：
[0019]所述波束控制系统分别对所述第一数据包和同步脉冲信号进行累加计数，得到第三数据包计数值和第三同步脉冲信号计数值，当确定所述第二数据包计数值与所述第三数据包计数值相同，且第二同步脉冲信号计数值和第三同步脉冲信号计数值相同时，更新相控阵天线的工作状态。
[0020]采用上述进一步方案的有益效果是：波束控制系统通过对第一数据包计算值和同步脉冲信号计数值进行验证，避免过程中出现失误，进而保证相控阵天线的工作状态更新的可靠性。
[0021]进一步，所述天线近场数据采集方法还包括：
[0022]所述模拟器确定流程异常时，将流程异常标志位、所述第二同步脉冲信号计数值与所述第二数据包计数值发送给所述近场测试系统。
[0023]采用上述进一步方案的有益效果是：当流程异常时，通过将流程异常标志位、所述同步脉冲信号计数值与所述第二数据包计数值发生给近场测试系统，便于近场测试系统后续进行判断是否重复发送。
[0024]进一步，所述模拟器确定流程异常包括：
[0025]当所述第二数据包计数值与所述第三数据包计数值不同，或/和，第二同步脉冲信号计数值和第三同步脉冲信号计数值不同时，所述波束控制系统确定流程异常，将异常消息发送给所述模拟器，所述模拟器确定流程异常；
[0026]或，当所述第一数据包计数值与所述第二数据包计数值不同，和/或，第一同步脉冲信号计数值与第二同步脉冲信号计数值不同时，所述模拟器确定流程异常。
[0027]采用上述进一步方案的有益效果是：通过波束控制系统和模拟器各自对数据包计数值和同步脉冲信号计数值进行校验，双重计数及时确定流程异常，节约测试时间。
[0028]进一步，所述将流程异常标志位、所述第二同步脉冲信号计数值与所述第二数据包计数值发送给所述近场测试系统之后包括：
[0029]所述近场测试系统对异常次数进行计数，当异常次数未超过设定的退出门限，重复发送当前通道的位置信息以及频点信息。
[0030]采用上述进一步方案的有益效果是：通过对异常次数进行计数并判定是否超出设定的退出门限，以保证测试的快速进行。
[0031]进一步，所述将流程异常标志位、所述第二同步脉冲信号计数值与所述第二数据包计数值发送给所述近场测试系统包括：
[0032]所述模拟器将流程异常标志位、所述第二同步脉冲信号计数值与所述第二数据包计数值通过UDP网络发送给所述近场测试系统。
[0033]采用上述进一步方案的有益效果是：通过UDP通信无需执行TCP握手，UDP通信简洁灵活。
[0034]进一步，所述将所述同步脉冲信号和第二数据包发送给所述模拟器包括：
[0035]所述近场测试系统本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种天线近场数据采集方法，其特征在于，应用于一种天线近场数据采集系统，所述天线近场数据采集系统包括近场测试系统、模拟器、波束控制系统和相控阵天线；所述天线近场数据采集方法包括：所述近场测试系统将收发通道位置信息和频点信息打包成第一数据包，对所述第一数据包和同步脉冲信号进行累加计数，得到第一数据包计数值和第一同步脉冲信号计数值，将所述同步脉冲信号和第二数据包发送给所述模拟器，所述第二数据包包括所述第一数据包、第一数据包计数值和第一同步脉冲信号计数值；所述模拟器分别对所述第一数据包和同步脉冲信号进行累加计数，并对所述第一数据包计数值和第一同步脉冲信号计数值进行检验，当检验通过时，将所述同步脉冲信号和第一数据包发送给所述波束控制系统；所述波束控制系统根据所述第一数据包和同步脉冲信号更新相控阵天线的工作状态；所述近场测试系统采集当前收发通道的频点信息对应的相位和幅度信息。2.根据权利要求1所述的天线近场数据采集方法，其特征在于，所述模拟器分别对所述第一数据包和同步脉冲信号进行累加计数，并对所述第一数据包计数值和第一同步脉冲信号计数值进行检验包括：所述模拟器分别对所述第一数据包和同步脉冲信号进行累加计数，得到第二数据包计数值和第二同步脉冲信号计数值，当确定第一数据包计数值与所述第二数据包计数值相同，且第一同步脉冲信号计数值和第二同步脉冲信号计数值相同时，确定校验通过。3.根据权利要求2所述的天线近场数据采集方法，其特征在于，所述模拟器将所述同步脉冲信号和第一数据包发送给所述波束控制系统包括：将所述第一数据包、第二数据包计数值和第二同步脉冲信号计数值填入控制字，将所述控制字和所述同步脉冲信号发送给所述波束控制系统。4.根据权利要求3所述的天线近场数据采集方法，其特征在于，所述波束控制系统根据所述第一数据包和同步脉冲信号更新相控阵天线的工作状态包括：所述波束控制系统分别对所述第一数据包和同步脉冲信号进行累加计数，得到第三数据包计数值和第三同步脉冲信号计数值，当确定所述第二数据包计数值与所述第三数据包计数值相...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜立贺，孙健，
申请(专利权)人：北京无线电测量研究所，
类型：发明
国别省市：