一种T型网络测量方法和系统技术方案

本发明专利技术公开一种T型网络测量方法和系统，解决现有方法中系统测量误差大和频率覆盖范围小的问题。所述方法，包含：将被测T型网络的第三端口与匹配负载连接，选定被测频率范围内的被校频率点，通过所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号，记录其第二端口在所述被校频率点的输出幅度值为第一测量值；将被测T型网络的第二端口与匹配负载连接，在所述被校频率点，保持所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号，记录其第三端口在所述被校频率点的输出幅度值为第二测量值；计算所述被测T型网络的在每个所述被校频率的插入损耗和电容值。所述系统使用所述方法，可实现大范围、高精度T型网络电容测量。容测量。容测量。

【技术实现步骤摘要】
一种T型网络测量方法和系统


[0001]本专利技术涉及杆天线校准领域，尤其涉及一种T型网络测量方法和系统。

技术介绍

[0002]T型网络是一种小型化的三端口网络测量装置，用于校准电磁辐射测量用杆天线的天线系数。现阶段，对于T型网络的测量方法多采用数字电桥测量T型网络的电容值，采用该方法测量时因器件、电路分布参数等因素影响，对测量的电容值影响较大，通常数字电桥的测量频点为100Hz、1kHz、10kHz、40kHz、100kHz，即采用数字电桥测量时受测量频点的限制，而且这些频点不能完全覆盖实际使用的频率范围10kHz～30MHz，无法满足10kHz～30MHz频率范围杆天线的天线系数的校准需求。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种T型网络测量方法和系统，解决现有方法中系统测量误差大和频率覆盖范围小的问题。
[0004]为解决上述问题，本专利技术是这样实现的：
[0005]第一方面，本专利技术实施例指出一种T型网络测量方法，包含以下步骤：将被测T型网络的第三端口与匹配负载连接，选定被测频率范围内的被校频率点，通过所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号，记录其第二端口在所述被校频率点的输出幅度值为第一测量值；将被测T型网络的第二端口与匹配负载连接，在所述被校频率点，保持所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号，记录其第三端口在所述被校频率点的输出幅度值为第二测量值；计算所述被测T型网络在每个所述被校频率的插入损耗和电容值：
[0006]IL
i
＝P
2i
‑
P
1i
[0007][0008]其中，i是被测频率范围内的被校频率点的序号，i是大于等于1的整数，IL
i
是第i个被校频率点的所述插入损耗，P
1i
、P
2i
分别为第i个被校频率点的第一测量值、第二测量值，C
i
是第i个被校频率点的电容值，f
i
是第i个被校频率点的频率值。
[0009]优选地，将所述被测T型网络的第一端口与信号发生器连接，通过所述信号发生器输入所述预设幅度值的正弦连续波信号。
[0010]优选地，通过频谱分析仪记录所述第一测量值和第二测量值。
[0011]优选地，所述被测频率范围大于等于10kHz且小于等于30MHz。
[0012]优选地，所述匹配电阻的阻值为50欧姆。
[0013]优选地，所述被测T型网络为ANSI C63标准中的T型网络或GJB/J 5410
‑
2005标准中的T型网络。
[0014]优选地，所述被测T型网络的电容为CAP
‑
10pF。
[0015]优选地，所述被校频率点为0.01MHz、0.02MHz、0.05MHz、0.08MHz、0.1MHz、0.2MHz、0.5MHz、0.8MHz、1MHz、2MHz、5MHz、8MHz、10MHz、20MHz和30MHz中的任意一个或多个。
[0016]第二方面，本专利技术实施例还提供一种T型网络测量系统，使用所述方法，包含：信号产生模块、幅度测量模块、匹配电阻和被测T型网络；所述信号产生模块，用于在被测频率范围内的被校频率点产生预设幅度值的正弦连续波信号，从所述被测T型网络输入；所述幅度测量模块，用于记录被测T型网络第二端口输出的第一测量值和第三端口输出的第二测量值；所述匹配负载，用于在测量时与被测T型网络对应的端口连接。
[0017]本专利技术有益效果包括：本专利技术采用的测量方法对T型网络的频率测量范围为10kHz～30MHz；有效的避免了因器件、电路分布参数等因素的影响，解决了对T型网络电容值测量影响较大的问题；本专利技术应用了频谱分析仪、信号发生器和50欧匹配负载解决了频率范围的限制，可以满足10kHz～30MHz频率范围内用于杆天线天线系数校准用的T型网络的校准需求；本专利技术采用的方法较常规方法对T型网络特性参数的测量具有较好的适应性和完整性。
附图说明
[0018]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0019]图1(a)为被测T型网络实施例的ANSI C63标准中的T型网络；
[0020]图1(b)为被测T型网络实施例的GJB/J 5410
‑
2005标准中的T型网络；
[0021]图1(c)为被测T型网络实施例的现有方法连接示意图；
[0022]图2为本专利技术T型网络测量方法流程实施例；
[0023]图3(a)为本专利技术T型网络测量系统实施例的第一连接示意图；
[0024]图3(b)为本专利技术T型网络测量系统实施例的第二连接示意图。
具体实施方式
[0025]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术具体实施例及相应的附图对本专利技术技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0026]T型网络是一种小型化的三端口网络测量装置，用于校准电磁辐射测量用杆天线的天线系数。在国军标电磁兼容试验中广泛使用的杆天线的天线杆长度为1.04m，半径为0.003m，由此参数计算得到的天线有效长度为0.52m，等效电容为10.43pF。为统一电参数，一般认定天线有效长度为0.5m，等效电容为10pF，在T型网络中放置一个10pF的电容，电容通过接口连接至杆天线的接口，信号在第一端口注入信号，频谱仪分别在第二端口和天线基座输出端口测量以分贝为单位的信号幅度，幅度差加上T型网络参数，得到杆天线的天线系数。
[0027]本专利技术创新点如下：本专利技术T型网络测量方法通过测量计算插入损耗的方式得到T型网络的电容，对T型网络的频率测量范围可达到10kHz～30MHz，插入损耗测量范围为
‑
100dB～
‑
20dB，避免了传统数字电桥计算方法测量精度差的问题，可用于杆天线校准。
[0028]以下结合附图，详细说明本专利技术各实施例提供的技术方案。
[0029]图1(a)为被测T型网络实施例的ANSI C63标准中的T型网络，图1(b)为被测T型网络实施例的GJB/J 5410
‑
2005标准中的T型网络，图1(c)为被测T型网络实施例的现有方法连接示意图。
[0030]图1(a)为被测T型网络实施例的ANSI C63标准中的T型网络，提供了一种现有的T型网络，被测T型网络1，包含被测等效电容11。
[0031]需要说明的是，被测T型网络用于校准电测辐射测量用杆天线的天线系数，采用等效电容法，所述被测等效电容放置在被测T型网络中，所述被测等效电容一端与T型网本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种T型网络测量方法，其特征在于，包含以下步骤：将被测T型网络的第三端口与匹配负载连接，选定被测频率范围内的被校频率点，通过所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号，记录其第二端口在所述被校频率点的输出幅度值为第一测量值；将被测T型网络的第二端口与匹配负载连接，在所述被校频率点，保持所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号，记录其第三端口在所述被校频率点的输出幅度值为第二测量值；计算所述被测T型网络在每个所述被校频率的插入损耗和电容值：IL
i
＝P
2i
‑
P
1i
其中，i是被测频率范围内的被校频率点的序号，i是大于等于1的整数，IL
i
是第i个被校频率点的所述插入损耗，P
1i
、P
2i
分别为第i个被校频率点的第一测量值、第二测量值，C
i
是第i个被校频率点的电容值，f
i
是第i个被校频率点的频率值。2.如权利要求1所述的T型网络测量方法，其特征在于，将所述被测T型网络的第一端口与信号发生器连接，通过所述信号发生器输入所述预设幅度值的正弦连续波信号。3.如权利要求1所述的T型网络测量方法，其特征在于，通过频谱分析仪记录所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨金涛，吴红森，马永光，张磊，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：