用于光存储介质的分析的装置和方法制造方法及图纸

公开了能够检测光存储介质上的表面缺陷的各种装置和相关方法。装置的一个示例构造成将可来自一个或两个激光器的至少一个光信号引导到光存储介质的外表面，该光存储介质为包括编码数据的诸如ＣＤ、ＤＶＤ或其它介质。光遇到光存储介质表面以及其上的任意污迹、划痕、凹痕或其它缺陷。从缺陷和表面反射的一些或全部的光由可为光电二极管的一个或多个检测器检测。检测器产生与检测到的反射光相当的输出信号，其输出被处理以确定是否可从光存储介质精确地读出编码数据。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术的各方面涉及用于分析光存储介质的表面的装置和方法。 本专利技术的各方面还涉及确定给定的各种可能类型的光存储介质 ("OSM")是否可以在各种可能类型的光存储装置("OSD")中处理的装 置和方法，该光存储装置可以基于对会妨碍或抑制处理的各种可能缺 陷的检测进行数据读取或将数据写入到OSM上。根据本专利技术的各方 面的各种方法和装置可以结合到现有的OSD中，可以结合到其主要 目的为分析OSM的独立设备中，并且可在其它实施例中呈现。背景信息存储工业在市场需求的驱动下不断增加存储信息的装置的 容量和性能。其中的一个需求是发行信息(空间通信(spatial communication))到各个位置并保存之后将被存取的信息(临时信息)。 一种用于信息存储的流行应用是视频信息的存储，例如电影、电视节目和家庭视频。还有另一种流行应用是音乐信息的存储。另一种应用 是软件到终端用户的存储和发行。在这种市场需求的驱动下并反应该 需求，市场已经引入了各种存储格式来满足各种需要。有大量存储信息的方法，例如通过印刷品(例如书和杂志)、基于半导体的RAM和FLASH存储器、基于磁的MRAM或磁泡本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于分析光存储介质的表面的方法，包括：　将至少一个光信号引导到光存储介质的外表面上，所述光存储介质包括编码的数据；　检测从所述光存储介质的所述外表面反射的至少一个光信号的若干部分；以及　与检测从所述外表面反射的至少一个光信号的若干部分相关地判定所述编码的数据是否可以与准确地读取。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：JA奥夫德黑德，JH埃克曼，IB弗里曼，JC迈尔，CCB帕蒂，TJ斯克威奥特，
申请(专利权)人：切克弗里克斯公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]