一种用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具制造技术

本实用新型专利技术涉及电子显微镜技术领域，具体地说，涉及一种用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具，包括底座，底座的顶部设置有载台，底座的一侧竖直安装有固定标尺，固定标尺为顶部开口且内部中空结构，固定标尺的顶部插接有延长段，延长段和固定标尺的外壁均设置有刻度线，底座的中心处开设有插孔，载台包括固定座，固定座为圆柱体结构且底端与插孔插接配合，固定座的内部为中空结构且顶部开口，固定座的顶部设置有螺纹杆。该用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具能够带动平台上下移动，能够对平台的高度进行上下微调，保证上下移动的精准，能够保证平台升降稳定不会晃动，能够实现对样品高度的精确识别，便于控制显微镜与样品间的距离。间的距离。间的距离。

【技术实现步骤摘要】
一种用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具


[0001]本技术涉及电子显微镜
，具体地说，涉及一种用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具。

技术介绍

[0002]扫描电子显微镜是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
[0003]现有的扫描电子显微镜拍摄与试样之间的工作距离以及试样上表面与极靴之间的距离，有是有严格的要求，然而对于不同形状、不同尺寸的块状试样在上样前需要估计试样放置在电子显微镜腔体内的初始工作距离。如果试样高度过高，试样有可能与电子显微镜的极靴发生碰撞而对设备造成损坏；如果试样高度过低，试样有可能无法调整到理想的工作距离，从而影响拍摄分辨率。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供了一种用于扫描电子显微镜试样高度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部设置有载台(3)，所述底座(1)的一侧竖直安装有固定标尺(2)，所述固定标尺(2)为顶部开口且内部中空结构，所述固定标尺(2)的顶部插接有延长段(21)，所述延长段(21)和固定标尺(2)的外壁均设置有刻度线(22)，所述底座(1)的中心处开设有插孔(12)，所述载台(3)包括固定座(31)，所述固定座(31)为圆柱体结构且底端与插孔(12)插接配合，所述固定座(31)的内部为中空结构且顶部开口，所述固定座(31)的顶部设置有螺纹杆(33)，所述螺纹杆(33)的顶部贯穿固定座(31)的外壁且紧密焊接有平台(32)，所述固定座(31)的一侧外壁设置有调节转盘(34)，所述调节转盘(34)的一侧紧密焊接有转轴(341)，所述转轴(341)的一端贯穿固定座(31)的外壁且紧密焊接有第一锥齿轮(342)，所述固定座(31)的内部设置有第二锥齿轮(35)，所述第二锥齿轮(35)的轴心处设置有螺纹口且与螺纹杆(33)螺纹连接，所述第二锥齿轮(35)的一侧与第一锥齿轮(342)啮合，所述固定座(31)的内部上方位于螺纹杆(33)的两侧对称紧密焊接有限位板(37)，所述限位板(37)的底端能够将第二锥齿轮(35)的外侧顶部...

【专利技术属性】
技术研发人员：张大梁，韦旎妮，娄宏刚，
申请(专利权)人：重庆市展未微科技服务有限公司，
类型：新型
国别省市：