【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】保持件及带电粒子束装置
[0001]本专利技术涉及保持件及带电粒子束装置,尤其是能够适用于使用保持件进行光的检测时。
技术介绍
[0002]为了在试样上扫描电子束从试样得到期望的透射电子像,例如使用扫描透射型电子显微镜(STEM:Scanning Transmission Electron Microscope)或扫描型电子显微镜(SEM:Scanning Electron Microscope)等带电粒子束装置。在扫描型电子显微镜中,即使是几十kV这样的较低的加速电压,也能够得到极高的对比度且高的分辨率的透射电子像。
[0003]例如,图21示出了现有技术的带电粒子束装置。如图21所示,在设于带电粒子束装置内的保持件HL的网状体MS上搭载有试样SAM,在试样SAM的下方,在保持件HL设有反射板RF。在此,向试样SAM照射带电粒子束EB1,使透射到试样SAM的下方的透射电子EB4在倾斜的反射板RF反射。然后,反射的二次电子EB5由称为埃弗哈特
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索恩利(Everhart Thornley)检测器的检测器ETD检测。
[0004]另外,在专利文献1中公开了以下的技术:向试样照射电子束,使透射到试样的下方的透射电子与倾斜的闪烁体碰撞,从而使从闪烁体放出的光沿水平方向的通过孔通过,射入设于通过孔的出口的光电倍增管。
[0005]另外,在专利文献2中公开了如下技术,即在控制为1Pa~3000Pa左右的低真空的腔室内产生基于气体闪烁的发光现象,检测具有图像信息的激发光,并且公开了可检测 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种保持件,其特征在于,具有:上部件,其具有用于使带电粒子束穿过的第一孔,且在上述第一孔内能够搭载试样;底部件,其设置成与上述上部件在俯视下重叠;侧部件,其以使上述上部件及上述底部件在剖视下互相分离的方式连接于上述上部件的一部分及上述底部件的一部分;开口部,其是被上述上部件、上述侧部件以及上述底部件包围的区域;以及第一闪烁体,其设于上述开口部内。2.根据权利要求1所述的保持件,其特征在于,还具有第一光学部件,该第一光学部件包括:第一导光体,其具备使光透射且不能使X射线透射的功能;以及第二孔,其设于上述第一导光体内,上述第一光学部件以使上述第一导光体的侧面的一部分从上述侧部件露出的方式设于上述开口部内,上述第二孔与上述第一孔在俯视下重叠,上述第一闪烁体以一部分在上述第二孔内露出的方式设于上述第一导光体与上述底部件之间。3.根据权利要求1所述的保持件,其特征在于,还具有第二光学部件,该第二光学部件包括:第二导光体及第三导光体,其分别具备使光透射且不能使X射线透射的功能;遮断层,其设于上述第二导光体与上述第三导光体之间,且具备不能使光及X射线透射的功能;第三孔,其设于上述第二导光体内;以及第四孔,其设于上述第二导光体内、上述遮断层内以及上述第三导光体内,与上述第三孔连通,且具有比上述第三孔小的口径,上述第二光学部件以使上述第二导光体及上述第三导光体各自的侧面的一部分从上述侧部件露出的方式设于上述开口部内,上述第三孔及上述第四孔分别与上述第一孔在俯视下重叠,上述第一闪烁体在上述第三孔内设于位于上述第四孔的周围的上述第二导光体上,第二闪烁体以一部分在上述第四孔内露出的方式设于上述第三导光体与上述底部件之间。4.根据权利要求3所述的保持件,其特征在于,上述遮断层局部地覆盖上述第二导光体及上述第三导光体各自的侧面,从上述遮断层及上述侧部件露出的上述第二导光体及上述第三导光体各自的侧面互相位于相反侧。5.根据权利要求3所述的保持件,其特征在于,上述第二光学部件的平面形状是在圆形或椭圆形的一部分设有切口的形状,上述第二光学部件以上述切口与上述侧部件相接的方式设于上述开口部内。6.根据权利要求3所述的保持件,其特征在于,能够透射上述第二导光体及上述第三导光体的每一个的上述光及不能透射上述遮断
层的上述光分别为从真空紫外光区域到可见光区域的光,构成上述第二导光体及上述第三导光体的每一个的材料为玻璃或丙烯酸树脂,构成上述遮断层、上述上部件、上述侧部件以及上述底部件的每一个的材料为金属或合金。7.根据权利要求1所述的保持件,其特征在于,还具备第二光学部件,该第二光学部件包括:第二导光体及第三导光体,其分别具备使光透射且不能使X射线透射的功能;遮断层,其设于上述第二导光体与上述第三导光体之间,且具备不能使光及上述X射线透射的功能;第三孔,其设于上述第二导光体内;以及第四孔,其设于上述第二导光体内及上述遮断层内,与上述第三孔连通,且具有比上述第三孔狭小的口径,上述第二光学部件以使上述第二导光体及上述第三导光体各自的侧面的一部分从上述侧部件露出的方式设于上述开口部内,上述第三孔及上述第四孔分别与上述第一孔在俯视下重叠,上述第一闪烁体在上述第三孔内设于位于上述第四孔的周围的上述第二导光体上,第二闪烁体以其一部分在上述第四孔内露出的方式设于上述第三导光体与上述底部件之间。8.一种带电粒子束装置,其特征在于,具有:腔室;带电粒子光学镜框,其安装于上述腔室的上部,且能够放出带电粒子束;载物台,其安装于上述腔室的下部;保持件,其设于上述载物台上;以及第一检测器,其以从上述保持件分离的方式位于上述保持件的上方,且安装于上述腔室的上部,上述保持件包括:上部件,其具有第一孔,且在上述第一孔内能够搭载试样;底部件,其设置成与上述上部件在俯视下重叠;侧部件,其以使上述上部件及上述底部件在剖视下互相分离的方式连接于上述上部件的一部分及上述底部件的一部分;开口部,其是被上述上部件、上述侧部件以及上述底部件包围的区域;以及第一闪烁体,其设于上述开口部内,上述第一光检测器具备能够检测出第一光的功能,在上述试样搭载于上述上部件,且从上述带电粒子光学镜框放出的上述带电粒子束在上述第一孔内照射上述试样且透射上述试样的透射带电粒子与上述第一闪烁体碰撞的情况下,上述第一光检测器能够检测出从上述第一闪烁体放出且从上述开口部射出的上述第一光。9.根据权利要求8所述的带电粒子束装置,其特征在于,还具有X射线检测器,该X射线检测器以从上述保持件分离的方式位于上述保持件的上方,且安装于上述腔室的上部,
上述保持件还具有第一光学部件,该第一光学部件包括:第一导光体;以及设于上述第一导光体内的第二孔,上述第一光学部件以使上述第一导光...
【专利技术属性】
技术研发人员:细谷幸太郎,
申请(专利权)人:株式会社日立高新技术,
类型:发明
国别省市:
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