自动分析装置及其控制方法制造方法及图纸

技术编号:41662401 阅读:41 留言:0更新日期:2024-06-14 15:22
本发明专利技术的目的在于提供一种能够利用静电电容方式的液面检测功能,判定探针在水平方向上的位置偏差的自动分析装置。为此,本发明专利技术的自动分析装置包括分注机构、静电电容测量部和控制部,所述控制部具有基于由所述静电电容测量部测量到的静电电容来检测所述液体的液面的液面检测部;分别计算在水平方向上驱动所述分注机构时由第一构件和第二构件引起的静电电容的峰值的峰值计算部;以及将由所述第一构件引起的第一峰值和由所述第二构件引起的第二峰值进行比较,来判定所述探针的水平方向位置的位置判定部,其中,在夹着所述探针的移动轨迹的一侧和另一侧且在移动方向上隔开规定间隔地设置第一构件和第二构件。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及一种自动分析装置及其控制方法


技术介绍

1、用于临床检查的自动分析装置中,具备用于分注试剂、检体的探针。为了提高探针的分注精度和清洗效率,需要调整探针以使其停在分注位置、清洗位置的中心。例如,专利文献1公开了转用自动分析装置所具备的液面检测功能所使用的静电电容检测机构来检测探针的下降位置的偏差的技术。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1:日本专利特开2011-033551号公报


技术实现思路

1、专利技术所要解决的技术问题

2、专利文献1所记载的技术中,虽然能够检测探针在高度方向上的位置偏差,但是难以检测探针在水平方向上的位置偏差。

3、本专利技术的目的在于提供一种在自动分析装置中能够利用静电电容式的液面检测功能,判定探针在水平方向上的位置偏差的自动分析装置及其控制方法。

4、用于解决技术问题的技术手段

5、为了解决上述问题,本专利技术所涉及的自动分析装置包括:分注机构,该分注机构能够在水平方向和高本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种自动分析装置,包括:

2.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,

3.如权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,

4.如权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,

5.如权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,

6.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,

7.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,

8.一种自动分析装置,包括:

9.一种自动分析装置的控制方法,所述自动分析装置包括:

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种自动分析装置,包括:

2.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,

3.如权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,

4.如权利要求3所述的自动分析装置,其特征在于,

5.如权利要求2所述的自动分...

【专利技术属性】
技术研发人员:田中伸哉舟桥良辅西墙宪一
申请(专利权)人:株式会社日立高新技术
类型:发明
国别省市:

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