一种获取无基准位置度的方法技术

本发明专利技术涉及一种获取无基准位置度的方法，用于获取加工件上多个孔的位置度，包括：步骤1，所述加工件的加工面上被加工出多个均匀布置的孔；步骤2，通过三坐标测量机测量所述加工件的加工面；步骤3，通过所述加工面构建坐标系；步骤4，通过所述坐标系来修改所述孔在所述加工面上理论值；步骤5，通过Rational

【技术实现步骤摘要】
一种获取无基准位置度的方法


[0001]本专利技术涉及三坐标测量机软件应用
，特别是涉及一种获取无基准位置度的方法。

技术介绍

[0002]形位公差中有位置度公差，位置度三要素分别是基准、理论位置、公差。其中基准的选择，坐标系建立是本文的说明重点。对于多个均匀分布要素的工件，常常使用不带基准标准位置度，其只是控制要素之间的相对位置，与边界位置尺寸没有要求。
[0003]如果直接任意选择两个孔建立坐标系，会造成被选的小孔极角偏差为0，但却把极角偏差以及相对距离偏差累积到了其他圆上，离坐标原点越远，距离累积误差越大。选择不同圆建立坐标系，同一个孔每次的位置度都不同，甚至矛盾，无法正确反映出被测要素相互位置关系。
[0004]因此，专利技术人提供了一种获取无基准位置度的方法。

技术实现思路

[0005](1)要解决的技术问题
[0006]本专利技术实施例提供了一种获取无基准位置度的方法，通过将每行圆元素以及每列圆元素采用拟合公式产生拟合线，以拟合线建立坐标系，此坐标系的建立均衡了各方向上的圆元素的极角与极径误差，减少了不同位置的圆元素的误差累积，可以正确反映出被测圆元素的相互位置关系。
[0007](2)技术方案
[0008]第一方面，本专利技术的实施例提出了一种获取无基准位置度的方法，用于获取加工件上多个孔的位置度，包括步骤1，所述加工件的加工面上被加工出多个均匀布置的所述孔；步骤2，通过三坐标测量机测量所述加工件的加工面；步骤3，通过所述加工面构建坐标系；步骤4，通过所述坐标系来修改所述孔在所述加工面上理论值；步骤5，通过Rational
‑
DMIS测量软件根据该理论值得出所述位置度。
[0009]进一步地，所述步骤3中的所述坐标系的构建步骤包括步骤31，以所述加工面作为基准面，将各所述孔投影到所述基准面上，形成多个均匀布置于所述基准面上的圆元素，多个所述圆元素呈多行以及多列的形式分布在所述基准面上；步骤32，将同一行的多个所述圆元素的圆心通过拟合公式拟合到第一直线上，将同一列的多个所述圆元素的圆心通过所述拟合公式将拟合到第二直线上；步骤33，将首尾两行的第一直线进行拟合得到行中分直线，将首尾两列的第二直线进行拟合得到列中分直线，所述行中分直线与所述列中分直线相交得到交点；步骤34，以所述基准面的垂直方向为第一轴方向，以所述行中分直线所在的方向以及所述列中分直线所在的方向分别作为第二轴方向与第三轴方向，且该所述交点为所述第一轴方向、第二轴方向以及第三轴方向的共同原点构建所述坐标系。
[0010]进一步地，所述步骤4还包括步骤41，根据所述行中分直线的位置修改所述第一直
线的位置，将同一行上的多个所述圆元素的圆心修改至所述第一直线上，根据所述列中分直线的位置修改所述第二直线的位置，将同一列上的多个所述圆元素的圆心修改至所述第二直线上；步骤42，将步骤41中的内容绘制到图纸上，并在所述图纸上对各所述圆元素的理论值进行修改。
[0011]进一步地，在所述步骤42中，在所述图纸上标注同一行上的相邻两个圆元素的圆心之间的距离以及同一列上的相邻两个圆元素的圆心之间的距离值。
[0012]进一步地，在所述步骤42中，在所述图纸上标注各所述圆元素的圆心到同一列上相邻所述圆元素的圆心的连线与到同一行上相邻所述圆元素的圆心的连线的角度值。
[0013]进一步地，所述步骤5包括将所述图纸导入用于测量位置度的所述Rational
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DMIS测量软件中，得出各所述圆元素的所述位置度。
[0014]进一步地，所述步骤31中的多个所述圆元素呈两行以及两列分布在所述基准面上，所述两行圆元素相互平行，各行所述圆元素均包括四个，所示两列圆元素相互平行，各单列所述圆元素包括两个。
[0015]进一步地，在所述基准面内，各所述圆元素相互平行且高度相同，且各所述圆元素的向量与所述基准面的向量一致。
[0016]进一步地，所述拟合公式为最小二乘法。
[0017]进一步地，所述Rational
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DMIS测量软件还能够输出具有各圆元素的理论坐标与所述位置度的图形报告。
[0018](3)有益效果
[0019]综上，本专利技术通过将每行圆元素以及每列圆元素采用拟合公式产生拟合线，以拟合线建立坐标系，此坐标系的建立均衡了各方向上的圆元素的极角与极径误差，减少了不同位置的圆元素的误差累积，可以正确反映出被测圆元素的相互位置关系。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1是本专利技术无基准位置度的测量流程示意图。
[0022]图2是本专利技术构建坐标系的流程示意图。
[0023]图3是本专利技术理论值修改的流程示意图。
[0024]图4是本专利技术的无基准位置度的测量过程示意图。
[0025]图5是本专利技术的无基准位置度各元素的位置分布图。
[0026]图6是本专利技术的Rational
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DMIS测量软件的输出报告。
[0027]图中：
[0028]1‑
第一圆元素；2
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第二圆元素；3
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第三圆元素；4
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第四圆元素；5
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第五圆元素；6
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第六圆元素；7
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第七圆元素；8
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第八圆元素；9
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上行第一直线；10
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下行第一直线；11
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行中分直线；12
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首列第二直线；13
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尾列第二直线；14
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列中分直线；15
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交点。
具体实施方式
[0029]下面结合附图和实施例对本专利技术的实施方式作进一步详细描述。以下实施例的详细描述和附图用于示例性地说明本专利技术的原理，但不能用来限制本专利技术的范围，即本专利技术不限于所描述的实施例，在不脱离本专利技术的精神的前提下覆盖了零件、部件和连接方式的任何修改、替换和改进。
[0030]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参照附图并结合实施例来详细说明本申请。
[0031]图1是本专利技术实施例的一种获取无基准位置度的方法的测量位置度过程示意图，如图1、图2和图3所示，该方法包括步骤1即S1，所述加工件的加工面上被加工出多个均匀布置的所述孔；步骤2即S2，通过三坐标测量机测量所述加工件的加工面；步骤3即S3，通过所述加工面构建坐标系；步骤4即S4，通过所述坐标系来修改所述孔在所述加工面上理论值；步骤5即S5，通过Rational
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种获取无基准位置度的方法，用于获取加工件上多个孔的位置度，其特征在于，包括：步骤1，所述加工件的加工面上被加工出多个均匀布置的所述孔；步骤2，通过三坐标测量机测量所述加工件的加工面；步骤3，通过所述加工面构建坐标系；步骤4，通过所述坐标系来修改所述孔在所述加工面上理论值；步骤5，通过Rational
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DMIS测量软件根据该理论值得出所述位置度。2.根据权利要求1所述的获取无基准位置度的方法，其特征在于，所述步骤3中的所述坐标系的构建步骤包括：步骤31，以所述加工面作为基准面，将各所述孔投影到所述基准面上，形成多个均匀布置于所述基准面上的圆元素，多个所述圆元素呈多行以及多列的形式分布在所述基准面上；步骤32，将同一行的多个所述圆元素的圆心通过拟合公式拟合到第一直线上，将同一列的多个所述圆元素的圆心通过所述拟合公式将拟合到第二直线上；步骤33，将首尾两行的第一直线进行拟合得到行中分直线，将首尾两列的第二直线进行拟合得到列中分直线，所述行中分直线与所述列中分直线相交得到交点；步骤34，以所述基准面的垂直方向为第一轴方向，以所述行中分直线所在的方向以及所述列中分直线所在的方向分别作为第二轴方向与第三轴方向，且该所述交点为所述第一轴方向、第二轴方向以及第三轴方向的共同原点构建所述坐标系。3.根据权利要求2所述的获取无基准位置度的方法，其特征在于，所述步骤4还包括：步骤41，根据所述行中分直线的位置修改所述第一直线的位置，将同一行上的多个所述圆元素的圆心修改至所述第一直线上，根据所述列中分直线的位置修改所述第二直线的位置，将同一列上的多个所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶逸卿，王碧青，张红磊，王帼媛，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：