透光性器件检测系统技术方案

技术编号:28135477 阅读:17 留言:0更新日期:2021-04-21 19:02
本发明专利技术提供了一种透光性器件检测系统,包括托盘、摄像组件和光源组件,托盘包括呈平面的承载面,承载面用于承载透光性器件,光源组件包括第一光源和第二光源,第一光源朝向承载面发射垂直的第一光线,第二光源朝向承载面发射倾斜的第二光线,第一光线和第二光线在透光性器件上反射,摄像组件接收透光性器件反射的光线而形成图像,根据图像检测透光性器件的缺陷。通过采用第二光源作为补偿光源,增加倾斜于待测的透光性器件的第二光线,从而使得发生在透光性器件的漫反射更多,使得透光性器件的内部以及表面缺陷显现出来。内部以及表面缺陷显现出来。内部以及表面缺陷显现出来。

【技术实现步骤摘要】
透光性器件检测系统


[0001]本专利技术属于光学成像的检测领域,尤其涉及一种透光性器件检测系统。

技术介绍

[0002]随着社会的发展,彩色滤光片的市场也越来越大,比如手机摄像头模组,数码相机,液晶显示器,车载系统,电脑摄像头,视频电话等彩色显示电器都离不开彩色滤光片,因此对于彩色滤光片的品质把控也越来越重要。
[0003]目前,滤光片供应商出厂检测/公司检测滤光片的方法为:日光源配合X20倍放大率的显微镜,在肉眼条件下观察滤光片的表面形貌。
[0004]若使用现有检测滤光片的方法,许多内部结构及镀膜缺陷难以判断,另外上述方法也无法同时检测滤光片的正面、反面以及内部。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种透光性器件检测系统,解决上述传统的透光性器件检测方法的技术问题。
[0006]为实现本专利技术的目的,本专利技术提供了如下的技术方案:
[0007]本专利技术提供了一种透光性器件检测系统,包括托盘、摄像组件和光源组件,所述托盘包括呈平面的承载面,所述承载面用于承载透光性器件,所述光源组件包括第一光源和第二光源,所述第一光源朝向所述承载面发射垂直的第一光线,所述第二光源朝向所述承载面发射倾斜的第二光线,所述第一光线和所述第二光线在所述透光性器件上反射,所述摄像组件接收所述透光性器件反射的光线而形成图像,根据所述图像检测所述透光性器件的缺陷。
[0008]通过采用第二光源作为补偿光源,增加倾斜于待测的透光性器件的第二光线,从而使得发生在透光性器件的漫反射更多,使得透光性器件的内部以及表面缺陷显现出来。
[0009]其中,所述承载面上设有镀膜层,所述承载面为硅材质,所述镀膜层为氮化硅材质。通过在硅材质的承载面上镀有黑色的、吸光能力强的氮化硅薄膜,使得光源组件发出的、透过透光性器件的光线能够被吸收,减少了光线反射、散射干扰,增加了检测的精密度。
[0010]其中,所述承载面上设有多个凸起,所述透光性器件的两端分别搭载在相邻的两个所述凸起上,以使所述透光性器件与所述承载面具有第一间隔距离。通过在承载面上设置多个凸起,有利于承载面更好地吸收多余光线。同时设置第一间隔距离,承载面能够进行二次吸收(光源组件发射的光线通过透光性器件但承载面未吸收完的,剩余光线将反射至透光性器件,然后再次反射回来)。
[0011]其中,所述凸起呈“凸”字形而形成台阶结构,所述透光性器件设置在所述台阶结构上。通过将透光性器件放置在凸起中部的台阶结构,减少了外部光源的干扰,以减少检测误差。
[0012]其中,所述第一间隔距离为0.1~1mm。合理设置透光性器件与承载面的第一间隔
距离,增强承载面的吸光能力,同时排除外部光线的干扰,减少了检测误差。
[0013]其中,所述第一光源和所述第二光源均为环形,所述第二光源围合形成第一空间,所述第一空间用于容置所述第一光源,所述第一光源围合形成第二空间,所述摄像组件通过所述第二空间拍摄所述透光性器件的图像。合理设置第一光源和第二光源的结构,使得第一光线和第二光线的光线强度得以有效叠加,使得抵达透光性器件的光线的范围以及强度符合检测的要求。
[0014]其中,所述第一光源包括红、绿和蓝三个发光部,所述三个发光部用于调节所述第一光源发出的光线颜色。通过在第一光源上设置上述的三个发光部,从而可以检测透光性器件在不同颜色下的像素缺陷。
[0015]其中,所述第二光线与所述第一光线相交,所述第二光线相较所述承载面倾斜的角度为30~85
°
。合理设置倾斜角度的大小,能够更好地在透光性器件表面提供漫反射。
[0016]其中,所述第一光源与所述承载面的距离为第二间隔距离,所述第二间隔距离为50~150mm。合理设置第一光源与承载面的第二间隔距离,降低第一光线的能量损失的同时,使得第一光源具有较大的照射范围。
[0017]其中,所述摄像组件包括显微镜和摄像头,所述显微镜的光轴垂直于所述承载面,所述摄像头设置于所述显微镜的目镜。通过将显微镜与摄像头配合使用,放大缺陷以及将缺陷转化成图像的形式,以便于工作人员进行检测工作,减少失误,增加检测的精密度。
[0018]其中,所述透光性器件检测系统还包括显示器和控制装置,所述显示器与所述摄像组件电连接,用于显示所述摄像组件拍摄的图像,所述控制装置用于控制所述光源组件和/或所述摄像组件相对所述托盘移动。设置显示器,将检测的图像显示在其中,有利于系统化的检测,增加检测的效率;设置控制装置,能够在不同情况下(外部光线的条件不同、透光性器件的材质和尺寸等不同)调节光源组件以及摄像组件至承载面的距离,增强系统的适应性。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为一种实施例中透光性器件检测系统的结构示意图;
[0021]图2为一种实施例中托盘的正视图;
[0022]图3为一种实施例中托盘的俯视图;
[0023]图4为一种实施例中托盘与透光性器件的位置关系图;
[0024]图5为一种实施例中透光性器件检测系统的部分结构示意图;
[0025]图6a为一种实施例中第一种第一光源的结构示意图;
[0026]图6b为一种实施例中第二种第一光源的结构示意图;
[0027]图7为一种实施例中光源组件的工作示意图。
具体实施方式
[0028]下面将结合本专利技术实施方式中的附图,对本专利技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施方式仅仅是本专利技术一部分实施方式,而不是全部的实施方式。基于本专利技术中的实施方式,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式,都属于本专利技术保护的范围。
[0029]请参阅图1,本专利技术实施例提供了一种透光性器件检测系统1000,该透光性器件检测系统1000可检测透光性器件11的正面、反面及内部的缺陷。透光性器件11例如为彩色滤光片、触摸屏模组、玻璃盖板等可应用在屏幕上的器件,也可以为透镜等光学元件。
[0030]透光性器件检测系统1000包括托盘1、摄像组件3和光源组件2。光源组件2提供检测所需的光线,摄像组件3收集透光性器件11的图像信息,托盘1提供放置透光性器件11的空间。
[0031]托盘1包括呈平面的承载面10,承载面10用于承载透光性器件11。托盘1设置在光源组件2的光线的照射方向,使得光源组件2能够将光线投射到托盘1的承载面10,同时摄像组件3能够接受透光性器件11反射回来的光线。
[0032]光源组件2包括第一光源21和第二光源22,第一光源21提供垂直于承载面10的第一光线,第二光源22提供倾斜于承载面10的第二光线,第一光线与第二光线均能投本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种透光性器件检测系统,其特征在于,包括托盘、摄像组件和光源组件,所述托盘包括呈平面的承载面,所述承载面用于承载透光性器件,所述光源组件包括第一光源和第二光源,所述第一光源朝向所述承载面发射垂直的第一光线,所述第二光源朝向所述承载面发射倾斜的第二光线,所述第一光线和所述第二光线在所述透光性器件上反射,所述摄像组件接收所述透光性器件反射的光线而形成图像,根据所述图像检测所述透光性器件的缺陷。2.如权利要求1所述的透光性器件检测系统,其特征在于,所述承载面上设有镀膜层,所述承载面为硅材质,所述镀膜层为氮化硅材质。3.如权利要求1所述的透光性器件检测系统,其特征在于,所述承载面上设有多个凸起,所述透光性器件的两端分别搭载在相邻的两个所述凸起上,以使所述透光性器件与所述承载面具有第一间隔距离。4.如权利要求3所述的透光性器件检测系统,其特征在于,所述凸起呈“凸”字形而形成台阶结构,所述透光性器件设置在所述台阶结构上。5.如权利要求3所述的透光性器件检测系统,其特征在于,所述第一间隔距离为0.1~1mm。6.如权利要求1所述的透光性器件检测系统,其特征在于,所述第一光源和所述第二光源均为环...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡伟鹏
申请(专利权)人:江西晶润光学有限公司
类型:发明
国别省市:

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