一种一体化微纳传感器封装测试设备制造技术

本发明专利技术涉及传感器封装测试技术领域，且公开了一种一体化微纳传感器封装测试设备，包括微纳传感器封装测试设备机壳，所述微纳传感器封装测试设备机壳底部的两侧均固定连接有万向轮。该一体化微纳传感器封装测试设备，通过活动板对显示屏进行防护，避免其在闲置过程中受异物等撞击发生损坏，然后手动将连接杆向上拨动，使得挡块位于凹槽的内部，此时将安装板和操作键盘推入第二防护腔的内部，通过活动门对操作键盘进行防护，避免操作键盘上掉落较多的异物，影响其后续的操作，当需要进行操作时，反之上述操作将显示屏和操作键盘漏出即可进行操作，从而达到了操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利的目的。加好且使用更加便利的目的。加好且使用更加便利的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种一体化微纳传感器封装测试设备


[0001]本专利技术涉及传感器封装测试
，具体为一种一体化微纳传感器封装测试设备。

技术介绍

[0002]传感器是一种检测装置，能感受到被测量的信息，并能将感受到的信息，按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出，以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求，传感器的特点包括：微型化、数字化、智能化、多功能化、系统化、网络化，它是实现自动检测和自动控制的首要环节，传感器的存在和发展，让物体有了触觉、味觉和嗅觉等感官，让物体慢慢变得活了起来，通常根据其基本感知功能分为热敏元件、光敏元件、气敏元件、力敏元件、磁敏元件、湿敏元件、声敏元件、放射线敏感元件、色敏元件和味敏元件等十大类，微纳传感器在生产过程中需要用测试设备对其进行封装测试。
[0003]现有技术中的一体化微纳传感器封装测试设备其显示屏和操作键盘一般是裸露在外进行操作，这就导致其在闲置时显示屏容易受外力而发生损坏，且操作键盘上也容易掉落较多的异物，影响后续操作，给其使用带来较大的不便，所以现在提出一种一体化微纳传感器封装测试设备来解决上述问题。

技术实现思路

[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种一体化微纳传感器封装测试设备，具备操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利等优点，解决了上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现上述操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利的目的，本专利技术提供如下技术方案：一种一体化微纳传感器封装测试设备，包括微纳传感器封装测试设备机壳，所述微纳传感器封装测试设备机壳底部的两侧均固定连接有万向轮，所述微纳传感器封装测试设备机壳的右侧固定连接有防护箱，所述防护箱的内部固定连接有隔板，所述隔板的顶部呈第一防护腔，所述隔板的底部呈第二防护腔，所述第一防护腔的内部固定连接有安装框，所述安装框的内部固定连接有显示屏，所述防护箱顶部的正面开设有通孔，所述通孔的内部滑动连接有活动板，所述活动板的顶部并位于防护箱的上方固定连接有限位板，所述防护箱的顶部活动连接有L型插板，所述活动板背面的底部开设有与L型插板对应的插槽，所述L型插板的底部固定连接有第二滑块，所述防护箱的顶部开设有与第二滑块对应的第二滑槽，所述第二滑块滑动连接于第二滑槽的内部，所述第二防护腔的内部活动连接有安装板，所述安装板的正面固定连接有操作键盘，所述安装板正面的底部固定连接有固定板，所述固定板的顶部活动连接有连接杆，所述连接杆的底端并位于固定板的底部固定连接有挡块，所述固定板的底部开设有与挡块对应的凹槽，所述挡块的顶部并位于连接杆的
表面固定连接有第二张紧弹簧，所述第二张紧弹簧的顶端与凹槽的内壁固定连接，所述第二防护腔的正面活动连接有活动门。
[0008]优选的，所述第二滑块的背面固定连接有第一张紧弹簧，所述第一张紧弹簧的一端与第二滑槽的内壁固定连接。
[0009]优选的，所述活动板正面的底部固定连接有借力块，所述借力块位于隔板的正面。
[0010]优选的，所述活动门正面的右侧固定连接有合页，所述活动门与防护箱之间通过合页铰接。
[0011]优选的，所述防护箱的底部固定连接有支撑板，所述支撑板的底部与微纳传感器封装测试设备机壳固定连接。
[0012]优选的，所述隔板顶部的正面开设有与活动板对应的限位槽，所述限位槽的内底壁固定连接有缓冲垫。
[0013]优选的，所述安装板背面的顶部和底部均固定连接有连接块，所述连接块的背面固定连接有防护垫。
[0014]优选的，所述安装板的顶部和底部均固定连接有第一滑块，所述隔板的底部与第二防护腔的内底壁均开设有第一滑槽，所述第一滑块滑动连接于第一滑槽的内部。
[0015](三)有益效果
[0016]与现有技术相比，本专利技术提供了一种一体化微纳传感器封装测试设备，具备以下有益效果：
[0017]1、该一体化微纳传感器封装测试设备，通过活动板对显示屏进行防护，避免其在闲置过程中受异物等撞击发生损坏，然后手动将连接杆向上拨动，使得挡块位于凹槽的内部，此时将安装板和操作键盘推入第二防护腔的内部，再将活动门关闭，通过活动门对操作键盘进行防护，避免操作键盘上掉落较多的异物，影响其后续的操作，当需要进行操作时，反之上述操作将显示屏和操作键盘漏出即可进行操作，从而达到了操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利的目的。
[0018]2、该一体化微纳传感器封装测试设备，通过第一张紧弹簧推动L型插板，使其能够更加稳固的插接在插槽的内部，通过L型插板对活动板进行限位，避免其在使用过程中向下掉落，通过借力块使得活动板的提起和放下更加便利，通过合页使得活动门的开启和关闭更为便利，通过支撑板对防护箱进行加固，使其安装更为稳固，通过限位槽和缓冲垫对活动板进行防护，避免其在向下移动时与隔板发生较大的撞击，造成其损坏，通过连接块和防护垫对操作键盘进行防护，避免其与第二防护腔的内壁发生较大的撞击，造成其损坏，通过第一滑槽和第一滑块对安装板进行限位，避免其在前后移动的过程中发生偏移。
附图说明
[0019]图1为本专利技术整体结构示意图；
[0020]图2为本专利技术防护箱侧面剖视图；
[0021]图3为本专利技术防护箱操作状态侧面剖视图；
[0022]图4为本专利技术图3内A部放大图；
[0023]图5为本专利技术防护箱与安装板连接侧面剖视图；
[0024]图6为本专利技术活动板立体示意图。
[0025]图中：1、微纳传感器封装测试设备机壳；2、万向轮；3、防护箱；4、活动板；5、限位板；6、借力块；7、隔板；8、合页；9、活动门；10、支撑板；11、L型插板；12、第一防护腔；13、显示屏；14、安装框；15、插槽；16、限位槽；17、缓冲垫；18、第二防护腔；19、连接杆；20、固定板；21、第一滑块；22、第一滑槽；23、连接块；24、安装板；25、操作键盘；26、防护垫；27、通孔；28、第二滑槽；29、第一张紧弹簧；30、第二滑块；31、凹槽；32、第二张紧弹簧；33、挡块。
具体实施方式
[0026]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0027]请参阅图1
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6，一种一体化微纳传感器封装测试设备，包括微纳传感器封装测试设备机壳1，微纳传感器封装测试设备机壳1底部的两侧均固定连接有万向轮2，微纳传感器封装测试设备机壳1的右侧固定连接有防护箱3，防护箱3的内部固定连接有隔板7，隔板7的顶部呈第一防护腔12，隔板7的底部呈第二防护腔18，第一防护腔12的内部固定连接有安装框14，安装框14的内部固定连接有显示屏13，防护箱3顶部的正面开设有本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种一体化微纳传感器封装测试设备，包括微纳传感器封装测试设备机壳(1)，其特征在于：所述微纳传感器封装测试设备机壳(1)底部的两侧均固定连接有万向轮(2)，所述微纳传感器封装测试设备机壳(1)的右侧固定连接有防护箱(3)，所述防护箱(3)的内部固定连接有隔板(7)，所述隔板(7)的顶部呈第一防护腔(12)，所述隔板(7)的底部呈第二防护腔(18)，所述第一防护腔(12)的内部固定连接有安装框(14)，所述安装框(14)的内部固定连接有显示屏(13)，所述防护箱(3)顶部的正面开设有通孔(27)，所述通孔(27)的内部滑动连接有活动板(4)，所述活动板(4)的顶部并位于防护箱(3)的上方固定连接有限位板(5)，所述防护箱(3)的顶部活动连接有L型插板(11)，所述活动板(4)背面的底部开设有与L型插板(11)对应的插槽(15)，所述L型插板(11)的底部固定连接有第二滑块(30)，所述防护箱(3)的顶部开设有与第二滑块(30)对应的第二滑槽(28)，所述第二滑块(30)滑动连接于第二滑槽(28)的内部，所述第二防护腔(18)的内部活动连接有安装板(24)，所述安装板(24)的正面固定连接有操作键盘(25)，所述安装板(24)正面的底部固定连接有固定板(20)，所述固定板(20)的顶部活动连接有连接杆(19)，所述连接杆(19)的底端并位于固定板(20)的底部固定连接有挡块(33)，所述固定板(20)的底部开设有与挡块(33)对应的凹槽(31)，所述挡块(33)的顶部并位于连接杆(19)的表面固定连接有第二张紧弹簧(32)，所述第二张紧弹簧(32)的顶端与凹槽(31)的内壁固定连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨潞霞，
申请(专利权)人：太原师范学院，
类型：发明
国别省市：