基于面元均化的拟三维处理方法及系统技术方案

公开了一种基于面元均化的拟三维处理方法及系统。该方法可以包括：根据目标工区的二维测线资料，确定检波点道距，进而确定测线覆盖次数；确定三维网格面元，建立拟三维观测系统；根据三维网格面元，确定覆盖次数不均匀的测线；针对覆盖次数不均匀的测线进行面元均化，获得均化后的拟三维观测系统。本发明专利技术通过面元均化的拟三维方法，解决了面元不一致的问题，按照拟三维的方式处理二维测线，统一进行静校正计算和速度分析，提高了处理效率，减少了二维测线的闭合差，处理剖面信噪比和保真度有所提高，为解释人员提供拟三维资料，使三维解释技术可以应用到二维。解释技术可以应用到二维。解释技术可以应用到二维。

【技术实现步骤摘要】
基于面元均化的拟三维处理方法及系统


[0001]本专利技术涉及地球物理勘探地震资料处理领域，更具体地，涉及一种基于面元均化的拟三维处理方法及系统。

技术介绍

[0002]同一工区不同年份采集的多条二维线资料，由于观测系统的差异，会造成面元大小不一致的问题，进行连片统一面元处理，会出现资料覆盖次数不均匀的现象，对振幅保真等带来不利影响。
[0003]并且，在进行同一工区多条二维线连片处理时，由于静校正量、速度分析等差异，往往会造成严重的交点闭合差，有时可达几十毫秒，处理人员需要对每条线进行闭合平差处理，这样往往会造成构造失真问题，影响解释人员的构造解释等。
[0004]对于面元不一致的二维测线资料，每条测线分别采用的不同面元处理，不能同时解决工区资料面元不一致、覆盖次数不均匀和交点闭合差等问题，不利于三维处理、解释技术作用的发挥，不利于二维资料潜力的挖掘。因此，有必要开发一种基于面元均化的拟三维处理方法及系统。
[0005]公开于本专利技术
技术介绍
部分的信息仅仅旨在加深对本专利技术的一般
技术介绍
的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路

[0006]本专利技术提出了一种基于面元均化的拟三维处理方法及系统，其能够通过面元均化的拟三维方法，解决了面元不一致的问题，按照拟三维的方式处理二维测线，统一进行静校正计算和速度分析，提高了处理效率，减少了二维测线的闭合差，处理剖面信噪比和保真度有所提高，为解释人员提供拟三维资料，使三维解释技术可以应用到二维。
[0007]根据本专利技术的一方面，提出了一种基于面元均化的拟三维处理方法。所述方法可以包括：根据目标工区的二维测线资料，确定检波点道距，进而确定测线覆盖次数；确定三维网格面元，建立拟三维观测系统；根据三维网格面元，确定覆盖次数不均匀的测线；针对所述覆盖次数不均匀的测线进行面元均化，获得均化后的拟三维观测系统。
[0008]优选地，还包括：针对目标工区的所有二维线分别进行观测系统定义，进而确定三维网格面元。
[0009]优选地，针对所述覆盖次数不均匀的测线进行面元均化，获得均化后的拟三维观测系统包括：确定面元搜索范围；在所述覆盖次数不均匀的测线的相邻面元中确定面元缺失的炮检距组，进而进行均化处理，获得搜索均化后的拟三维观测系统。
[0010]优选地，还包括：针对所述均化后的拟三维观测系统，计算静校正量与速度。
[0011]优选地，所述三维网格面元为5-30m。
[0012]根据本专利技术的另一方面，提出了一种基于面元均化的拟三维处理系统，其特征在
于，该系统包括：存储器，存储有计算机可执行指令；处理器，所述处理器运行所述存储器中的计算机可执行指令，执行以下步骤：根据目标工区的二维测线资料，确定检波点道距，进而确定测线覆盖次数；确定三维网格面元，建立拟三维观测系统；根据三维网格面元，确定覆盖次数不均匀的测线；针对所述覆盖次数不均匀的测线进行面元均化，获得均化后的拟三维观测系统。
[0013]优选地，还包括：针对目标工区的所有二维线分别进行观测系统定义，进而确定三维网格面元。
[0014]优选地，针对所述覆盖次数不均匀的测线进行面元均化，获得均化后的拟三维观测系统包括：确定面元搜索范围；在所述覆盖次数不均匀的测线的相邻面元中确定面元缺失的炮检距组，进而进行均化处理，获得搜索均化后的拟三维观测系统。
[0015]优选地，还包括：针对所述均化后的拟三维观测系统，计算静校正量与速度。
[0016]优选地，所述三维网格面元为5-30m。
[0017]本专利技术的方法和装置具有其它的特性和优点，这些特性和优点从并入本文中的附图和随后的具体实施方式中将是显而易见的，或者将在并入本文中的附图和随后的具体实施方式中进行详细陈述，这些附图和具体实施方式共同用于解释本专利技术的特定原理。
附图说明
[0018]通过结合附图对本专利技术示例性实施例进行更详细的描述，本专利技术的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显，其中，在本专利技术示例性实施例中，相同的参考标号通常代表相同部件。
[0019]图1示出了根据本专利技术的基于面元均化的拟三维处理方法的步骤的流程图。
[0020]图2示出了根据本专利技术的一个实施例的20米道距的测线定义为15米*15米面元的覆盖次数的分布示意图。
[0021]图3示出了根据图2的面元均化后的覆盖次数分布示意图。
[0022]图4示出了根据本专利技术的一个实施例的均化后的拟三维观测系统的检波点层析静校正量的示意图。
[0023]图5示出了根据本专利技术的一个实施例的拟三维观测系统的炮点层析静校正量的示意图。
[0024]图6示出了根据本专利技术的一个实施例的相交测线交点闭合差质量控制的示意图。
[0025]图7示出了根据本专利技术的一个实施例的二维处理后的叠加剖面的示意图。
[0026]图8示出了根据本专利技术的一个实施例的拟三维处理后的叠加剖面的示意图。
具体实施方式
[0027]下面将参照附图更详细地描述本专利技术。虽然附图中显示了本专利技术的优选实施例，然而应该理解，可以以各种形式实现本专利技术而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了使本专利技术更加透彻和完整，并且能够将本专利技术的范围完整地传达给本领域的技术人员。
[0028]图1示出了根据本专利技术的基于面元均化的拟三维处理方法的步骤的流程图。
[0029]在该实施例中，根据本专利技术的基于面元均化的拟三维处理方法可以包括：步骤
101，根据目标工区的二维测线资料，确定检波点道距，进而确定测线覆盖次数；步骤102，确定三维网格面元，建立拟三维观测系统；步骤103，根据三维网格面元，确定覆盖次数不均匀的测线；步骤104，针对覆盖次数不均匀的测线进行面元均化，获得均化后的拟三维观测系统。
[0030]在一个示例中，还包括：针对目标工区的所有二维线分别进行观测系统定义，进而确定三维网格面元。
[0031]在一个示例中，针对覆盖次数不均匀的测线进行面元均化，获得均化后的拟三维观测系统包括：确定面元搜索范围；在覆盖次数不均匀的测线的相邻面元中确定面元缺失的炮检距组，进而进行均化处理，获得搜索均化后的拟三维观测系统。
[0032]在一个示例中，还包括：针对均化后的拟三维观测系统，计算静校正量与速度。
[0033]在一个示例中，三维网格面元为5-30m。
[0034]具体地，根据本专利技术的基于面元均化的拟三维处理方法可以包括：
[0035]根据目标工区的二维测线资料，确定检波点道距，进而确定测线覆盖次数；针对目标工区的所有二维线分别进行观测系统定义，确定三维网格面元为5-30m，建立拟三维观测系统。根据三维网格面元，确定覆盖次数不均匀的测线，拟三维网格定义所有测线的面元必须一致，如检波点道距分别为20m、30m的二维测线资料，若统一定义拟三维网格面元为15m，则道距为20m的测线本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于面元均化的拟三维处理方法，其特征在于，包括：根据目标工区的二维测线资料，确定检波点道距，进而确定测线覆盖次数；确定三维网格面元，建立拟三维观测系统；根据三维网格面元，确定覆盖次数不均匀的测线；针对所述覆盖次数不均匀的测线进行面元均化，获得均化后的拟三维观测系统。2.根据权利要求1所述的基于面元均化的拟三维处理方法，其中，还包括：针对目标工区的所有二维线分别进行观测系统定义，进而确定三维网格面元。3.根据权利要求1所述的基于面元均化的拟三维处理方法，其中，针对所述覆盖次数不均匀的测线进行面元均化，获得均化后的拟三维观测系统包括：确定面元搜索范围；在所述覆盖次数不均匀的测线的相邻面元中确定面元缺失的炮检距组，进而进行均化处理，获得搜索均化后的拟三维观测系统。4.根据权利要求1所述的基于面元均化的拟三维处理方法，其中，还包括：针对所述均化后的拟三维观测系统，计算静校正量与速度。5.根据权利要求1所述的基于面元均化的拟三维处理方法，其中，所述三维网格面元为5-30m。6.一种基于面元均化的拟三维处理系统，其特征在于，该系统包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹少峰，余青露，王猛，陈林谦，马江林，刘晗，邬达理，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司石油物探技术研究院，
类型：发明
国别省市：