【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】辐射成像的方法和系统
技术介绍
辐射检测器是可用于测量辐射的通量、空间分布、光谱或其他特性的装置。辐射检测器可用于许多应用，其中一个重要的应用是成像。辐射成像是一种射线照相技术，可用于揭示非均匀组成和不透明物体，比如人体，的内部结构。用于成像的早期辐射检测器包括摄影板和摄影胶片。摄影板可以是具有光敏乳剂涂层的玻璃板。虽然摄影板被摄影胶片取代，但由于它们提供的优良品质和极端稳定性，使得它们仍可用于特殊情况。摄影胶片可以是具有光敏乳剂涂层的塑料薄膜(比如条状或片状)。在20世纪80年代，可光激发的磷光板(PSP板)开始可用。PSP板在其晶格中包含具有色心的磷光体材料。当PSP板暴露于辐射时，由辐射激发的电子被捕获在色心中，直到它们被在PSP板表面上扫描的激光束刺激。当激光扫描所述PSP板时，被捕获的激发电子发出光，这些光被光电倍增管收集，收集的光被转换成数字图像。与摄影板和摄影胶片相比，PSP版可重复使用。另一种辐射检测器是辐射图像增强器。辐射图像增强器的组件通常在真空中密封。与摄影板、摄影胶片以及PSP板相比，辐射图像增...
【技术保护点】
1.一种方法，其包括：/n在辐射检测器的像素阵列中的像素处获得信号，其中所述信号产生自入射在所述辐射检测器上的辐射；/n通过利用在所述像素阵列中的一组参考像素处从所述辐射产生的一组参考信号的组合来校正所述信号而获得校正信号，其中一组权重被分别应用于所述组合中的所述参考信号组；并且/n基于所述校正信号形成图像；/n其中所述权重组是所述像素相对于所述像素阵列的位置的函数。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种方法，其包括：
在辐射检测器的像素阵列中的像素处获得信号，其中所述信号产生自入射在所述辐射检测器上的辐射；
通过利用在所述像素阵列中的一组参考像素处从所述辐射产生的一组参考信号的组合来校正所述信号而获得校正信号，其中一组权重被分别应用于所述组合中的所述参考信号组；并且
基于所述校正信号形成图像；
其中所述权重组是所述像素相对于所述像素阵列的位置的函数。
2.如权利要求1所述的方法，其中所述像素阵列中的每个像素均包含所述辐射检测器的辐射吸收层的一部分。
3.如权利要求2所述的方法，其中所述权重组是所述辐射吸收层的厚度的函数。
4.如权利要求2所述的方法，其中所述辐射吸收层包含硅。
5.如权利要求2所述的方法，其中所述信号是由所述辐射在所述辐射吸收层中产生的载流子所产生的。
6.如权利要求1所述的方法，其中所述权重组是所述辐射在所述像素处的传播方向的函数。
7.如权利要求1所述的方法，其中所述权重组是所述参考像素组相对于所述像素的相对位置的函数。
8.如权利要求1所述的方法，其中所述像素是所述参考像素组的成员。
9.如权利要求1所述的方法，其中所述辐射是X射线或伽马射线。
10.如权利要求1所述的方法，其中所述信号和所述参考信号组产生于相同时间段内。
11.如权利要求1所述的方法，其中所述组合是所述参考信号组与应用其中的所述权重组的和。
12.如权利要求1所述的方法，其中所述信号表示在所述像素处的所述辐射的强度。
13.如权利要求1所述的方法，其中所述辐射检测器包括辐射吸收层和电子层；
其中所述辐射吸收层包括电极；
其中所述电子层包括电子系统；
其中所述电子系统包括：
第一电压比较器，其被配置为将所述电极的电压与第一阈值进行比较，
第二电压比较器，其被配置为将所述电压与第二阈值进行比较，
计数器，其被配置为记录到达所述辐射吸收层的多个辐射光子，以及
控制器；
其中所述控制器被配置为从所述第一电压比较器确定所述电压的绝对值等于或超过所述第一阈值的绝对值时启动时间延迟；
其中所述控制器被配置为在所述时间延迟期间启动所述第二电压比较器；
其中所述控制器被配置为如果所述第二电压比较器确定所述电压的绝对值等于或超过所述第二阈值的绝对值，则使所述计数器记录的数目增加一。
14.如权利要求13所述的方法，其中所述电子系统进一步包括电连接到所述电极的积分器，其中所述积分器被配置为从所述电极收集载流子。
15.如权利要求13所述的方法，...
【专利技术属性】
技术研发人员：曹培炎，刘雨润，
申请(专利权)人：深圳帧观德芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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