本发明专利技术提供一种可以同轴进行去往试样的光的照射和来自试样的检查光的检测、不易受杂散光的影响的小型光检测模块。本发明专利技术的光检测模块具有：光源，其出射去往试样的照射光；分束器，其朝输入输出口反射照射光，而且使通过输入输出口入射的来自试样的检查光透过；受光元件，其接收检查光；以及壳体，其内置分束器，而且具有第1开口、第2开口、第3开口以及第4开口，所述第1开口设置光源而供照射光传播，所述第2开口相当于输入输出口，所述第3开口设置受光元件，所述第4开口引导照射光当中透过了分束器的杂散光，第1开口至第4开口在分束器的位置上相互连通，第4开口沿与分束器的反射面正交的方向延伸。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光检测模块以及光检测装置
本专利技术涉及光检测模块以及光检测装置。
技术介绍
在光通信领域内，已知有使用分束器使光信号合成或分岔的光耦合器(例如参考专利文献1)。尤其是已知有如下光耦合器：具有分束器(半反射镜、分波滤光片或分光滤光片)、光源、受光器以及光波导，从光源经由分束器向光波导出射光，而且利用受光器接收从相同光波导入射并经过了分束器的光(例如参考专利文献2～5)。此外，已知有向试样照射光并接收(检测)根据该照射光从试样获得的荧光、反射光等检查光的光检测装置。例如，专利文献6中记载有一种接收向牙齿照射光而获得的响应光来检测牙垢等当中包含的荧光物质的牙科用检查装置。专利文献7中记载有一种通过向牙齿照射特定波长的激发光并检测荧光物质发出的荧光来对牙垢的量或者龋齿程度进行定量的荧光测定法。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利特开昭58-202423号公报专利文献2：日本专利特开昭61-262711号公报专利文献3：日本专利特开平6-160674号公报专利文献4：日本专利特开平8-160259号公报专利文献5：日本专利特开平8-234061号公报专利文献6：日本专利特开2005-324032号公报专利文献7：国际公开第2016/140199号
技术实现思路
在运用上述光耦合器的构成来实现同轴进行去往试样的光的照射和来自试样的检查光的检测的光检测装置的情况下，为了提高检测灵敏度，抑制分束器中可能产生的杂散光的影响是比较重要的。此外，例如考虑到在牙科用等的检查装置上的应用，还要求以小型光检测模块的方式来实现光检测装置。杂散光可通过引导至光检测模块的壳体内设置的专用吸收孔来加以去除，但尤其是在小型模块的情况下，由于空间的制约，难以在照射光及检查光的光路之外设置足够大小的杂散光吸收孔。本专利技术的目的在于提供一种可以同轴进行去往试样的光的照射和来自试样的检查光的检测、不易受杂散光的影响的小型光检测模块。本专利技术提供一种光检测模块，其特征在于，具有：光源，其出射去往试样的照射光；分束器，其朝输入输出口反射照射光，并使通过输入输出口入射的来自试样的检查光透过；受光元件，其接收检查光；以及壳体，其内置分束器，而且具有第1开口、第2开口、第3开口以及第4开口，所述第1开口供光源设置并供照射光传播，所述第2开口相当于输入输出口，所述第3开口供受光元件设置，所述第4开口引导照射光当中透过了分束器的杂散光，第1开口至第4开口在分束器的位置上相互连通，第4开口沿与分束器的反射面正交的方向延伸。在光检测模块中，优选第1开口设置在壳体的上表面，第2开口及第3开口分别设置在壳体的相互相对的侧面，分束器固定在支承构件上，受光元件固定在受光部基板上，支承构件配置在从壳体的上表面上的第1开口与第3开口侧的端部之间的位置起沿倾斜方向形成的槽部内，借助从第3开口侧的侧面插入的固定件与受光部基板一起固定在壳体上。在光检测模块中，优选第4开口设置在壳体的下表面，壳体的下部在第4开口周围没有朝下方突出，壳体的下表面在第1开口侧的端部、第4开口周围、第3开口侧的端部为同一平面。优选第3开口处的光路的内径比第2开口处的光路的内径大。在光检测模块中，优选光源安装在光源基板上，光检测模块还具有：透镜，其配置在第1开口内，会聚照射光；以及导热性的固定构件，其用于固定透镜，而且以接触光源基板和壳体的方式配置在光源基板与壳体之间，在光源基板的与固定构件接触的接触面上未设置有被覆膜，光源的布线图案露出。优选光检测模块还具有：另一透镜，其配置在第3开口内，会聚检查光；以及环状构件，其用于固定另一透镜，环状构件的开口面向检查光的传播方向，作为检查光的光圈发挥功能。本专利技术提供一种光检测装置，其具有：上述任一光检测模块；光纤，其连接于输入输出口；电路基板，其用于驱动光源并检测由受光元件接收到的检查光的强度；以及主体外壳，其内置光检测模块及电路基板。优选光检测装置还具有用于向使用者显示状态的发光部，第4开口和发光部分别配置在主体外壳的相互相对的面上。在光检测装置中，优选光源具有出射第1波长的光作为照射光的第1发光元件以及出射第2波长的光作为照射光的第2发光元件，在电路基板的上表面配置有用于检测照射第1波长的光时的检查光的强度的第1控制电路，在电路基板的下表面配置有用于检测照射第2波长的光时的检查光的强度的第2控制电路，第1控制电路及第2控制电路中的模拟元件分开安装在电路基板的上表面及下表面上的一侧，第1控制电路及第2控制电路中的数字元件分开安装在电路基板的上表面及下表面上的另一侧。上述光检测模块体型小，可以同轴进行去往试样的光的照射和来自试样的检查光的检测，不易受杂散光的影响。附图说明图1为荧光检测装置1的断裂立体图。图2为荧光检测装置1的框图。图3为荧光检测模块3的断裂立体图。图4为荧光检测模块3的纵截面图。图5的(A)及(B)为壳体10的立体图。图6的(A)及(B)为光源基板20及固定构件30的立体图。图7为反射镜架60的立体图。图8为在光路12b、12c中传播的光的概念图。图9的(A)～(C)为荧光检测装置1的电路构成的说明图。具体实施方式下面，使用附图，对光检测模块以及光检测装置进行详细说明。但请理解，本专利技术并不限定于附图或者以下实施方式。图1为荧光检测装置1的断裂立体图。荧光检测装置1具有主体外壳2、荧光检测模块3、探头光纤4、电路基板5、FPC(柔性印刷线路基板)6a、6c、状态显示LED(发光二极管)7、操作开关8以及电池9。荧光检测装置1为光检测装置的一例，从主体外壳2的顶端2A朝试样照射激发光，并同样从顶端2A接收根据该光在试样上产生的荧光(检查光)，从而检测试样的荧光物质。例如，荧光检测装置1可以用作检测以荧光物质的形式包含在牙垢中的原卟啉IX的牙科用检查装置。主体外壳2是内置荧光检测模块3、电路基板5等荧光检测装置1的其他构成要素的例如树脂制外壳。为了使得使用者易于用手握持，主体外壳2在整体上具有棒状的形状，在图示的例子中，朝向试样的顶端2A呈锥状。荧光检测模块3为光检测模块的一例，具有后文叙述的光源和受光元件，配置在主体外壳2内的顶端2A侧。荧光检测模块3通过探头光纤4向试样照射激发光并接收在试样上产生而通过探头光纤4入射的荧光，由此，高灵敏度地检测来自试样的微量荧光(例如来自牙垢的荧光物质的荧光)。探头光纤4是成为从荧光检测模块3出射的激发光以及入射至荧光检测模块3的荧光的波导的光纤，埋入在主体外壳2的顶端2A。探头光纤4的顶端4A是开放的，在荧光检测装置1的使用时朝向试样。探头光纤4的后端4B连接到荧光检测模块3。在图示的例子中，包含探头光纤4的主体外壳2的顶端2A是缓和地弯曲的，但探头光纤4也可呈直线状延伸。电路基板5具有用于驱动荧光检测模块3的光源并检测由受光元件接收到的本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种光检测模块，其特征在于，具有：/n光源，其出射去往试样的照射光；/n分束器，其朝输入输出口反射所述照射光，而且使通过所述输入输出口入射的来自试样的检查光透过；/n受光元件，其接收所述检查光；以及/n壳体，其内置所述分束器，而且具有第1开口、第2开口、第3开口以及第4开口，/n所述第1开口供所述光源设置并供所述照射光传播，/n所述第2开口相当于所述输入输出口，/n所述第3开口供所述受光元件设置，/n所述第4开口引导所述照射光当中透过了所述分束器的杂散光，/n所述第1开口至第4开口在所述分束器的位置上相互连通，/n所述第4开口沿与所述分束器的反射面正交的方向延伸。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180827 JP 2018-1582071.一种光检测模块，其特征在于，具有：
光源，其出射去往试样的照射光；
分束器，其朝输入输出口反射所述照射光，而且使通过所述输入输出口入射的来自试样的检查光透过；
受光元件，其接收所述检查光；以及
壳体，其内置所述分束器，而且具有第1开口、第2开口、第3开口以及第4开口，
所述第1开口供所述光源设置并供所述照射光传播，
所述第2开口相当于所述输入输出口，
所述第3开口供所述受光元件设置，
所述第4开口引导所述照射光当中透过了所述分束器的杂散光，
所述第1开口至第4开口在所述分束器的位置上相互连通，
所述第4开口沿与所述分束器的反射面正交的方向延伸。
2.根据权利要求1所述的光检测模块，其特征在于，
所述第1开口设置在所述壳体的上表面，所述第2开口及第3开口设置在所述壳体的相互相对的侧面，
所述分束器固定在支承构件上，所述受光元件固定在受光部基板上，
所述支承构件配置在从所述壳体的上表面上的所述第1开口与所述第3开口侧的端部之间的位置起沿倾斜方向形成的槽部内，通过从所述第3开口侧的侧面插入的固定件与所述受光部基板一起固定在所述壳体上。
3.根据权利要求2所述的光检测模块，其特征在于，
所述第4开口设置在所述壳体的下表面，
所述壳体的下部在所述第4开口周围没有朝下方突出，
所述壳体的下表面在所述第1开口侧的端部、所述第4开口周围、所述第3开口侧的端部为同一平面。
4.根据权利要求1～3中任一项所述的光检测模块，其特征在于，
所述第3开口处的光路的内径比所述第2开口处的光路的内径大。
5.根据权利要求1～4中任一项所述的光检测模块，其特征在于，
【专利技术属性】
技术研发人员：川田高弘，北田菜津子，武石贵明，野崎孝明，
申请(专利权)人：西铁城时计株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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