孔深误差测量检具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种孔深误差测量检具，涉及测量检具技术领域，它包括外套、内套、测微仪和校准块，外套的一端为与加工工件的设计基准面对齐的测量定位面，内套从另一端沿轴向插入外套中，测微仪的套筒和测量杆插入内套沿轴向开设的测微仪安装孔内，测微仪、内套和外套通过紧固件相连接；内套具有插入加工工件的内孔的定位段，测量杆的头部与加工工件的内孔的测量台阶面相抵触；用于对测微仪进行调零的专用校准块可放置在外套内，校准块的高度为设计基准面和测量台阶面间距的设计平均值。本实用新型专利技术解决了现有孔深检具无法直接测量基准面在工件外表面的孔深误差，造成工件多尺寸精度要求高、加工难度大和成本高的问题。

【技术实现步骤摘要】
孔深误差测量检具
本技术涉及测量检具
，尤其是一种孔深误差测量检具。
技术介绍
一般孔的深度尺寸可以用深度尺进行直接测量，然而有的工件出于性能的需要，其内孔台阶面的深度尺寸的设计基准却是外表面，无法直接测量。如图1所示的具有轴向阶梯孔的台阶轴结构的加工工件，其设计基准面是位于台阶轴外表面的外台阶面，测量台阶面是位于阶梯孔的内台阶面，设计基准面和测量台阶面间距的检测尺寸A在设计平均值允许的误差范围内，工件才能符合使用要求。目前针对上述台阶轴基准尺寸的测量方法是测出台阶轴轴向的总长度B、台阶轴一端到阶梯孔内台阶的测量台阶面的孔深C、台阶轴到另一端到外台阶设计基准面的轴向距离D，再通过尺寸换算，得到检测尺寸A，再将检测尺寸A与设计值比较得到孔深加工的误差。如此就提高了对总长度B、孔深C、轴向距离D的尺寸精度要求，增加了加工难度，提高了产品成本。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种孔深误差测量检具，这种检具可以解决现有孔深检具无法直接测量基准面在工件外表面的孔深误差，造成工件多尺寸精度要求高、加工难度大和成本高的问题。为本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种孔深误差测量检具，其特征在于：包括外套、内套、测微仪和用于对所述测微仪进行调零的校准块，所述外套的一端为与加工工件的设计基准面对齐的测量定位面，所述内套从所述外套的另一端沿轴向插入所述外套中，所述内套沿轴向开设有测微仪安装孔，所述测微仪的套筒和测量杆插入所述测微仪安装孔内，所述测微仪、所述内套和所述外套通过紧固件相连接；所述内套具有插入所述加工工件的内孔的定位段，所述定位段的外周面与所述加工工件的内孔间隙配合；所述测量杆的头部与所述加工工件的内孔的测量台阶面相抵触；所述校准块的高度为所述设计基准面和所述测量台阶面间距的设计平均值。/n

【技术特征摘要】
1.一种孔深误差测量检具，其特征在于：包括外套、内套、测微仪和用于对所述测微仪进行调零的校准块，所述外套的一端为与加工工件的设计基准面对齐的测量定位面，所述内套从所述外套的另一端沿轴向插入所述外套中，所述内套沿轴向开设有测微仪安装孔，所述测微仪的套筒和测量杆插入所述测微仪安装孔内，所述测微仪、所述内套和所述外套通过紧固件相连接；所述内套具有插入所述加工工件的内孔的定位段，所述定位段的外周面与所述加工工件的内孔间隙配合；所述测量杆的头部与所述加工工件的内孔的测量台阶面相抵触；所述校准块的高度为所述设计基准面和所述测量台阶面间距的设计平均值。


2.根据权利要求1所述的孔深误差测量检具，其特征在于：所述加工工件放置于一底座上，所述底座开设有插入所述工件的工件定位孔，所述底座支撑所述工件的端面为与所述设计基准面相抵触的工件定位面。


3.根据权利要求1或2所述的孔深误差测量检具...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎国栋，梁镇，覃文林，
申请(专利权)人：广西南星科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广西;45