一种复杂电子系统嵌入式诊断方法技术方案

本发明专利技术公开了一种复杂电子系统嵌入式诊断方法，确定复杂电子系统的结构以及功能；对复杂电子系统进行约定层次划分，其中，约定层次为结构层次以及故障层次；通过对结构层次以及故障层次进行FMECA分析建立层次化故障诊断模型；通过层次化故障诊断模型进行故障诊断。本发明专利技术能对诊断过程做出合理的指导和解释，并使用层次化故障诊断模型来体现故障模式间的逻辑因果关系，在其中进行相应的具体诊断推理任务。

【技术实现步骤摘要】
一种复杂电子系统嵌入式诊断方法
本专利技术辅助电子系统领域，尤其涉及一种复杂电子系统嵌入式诊断方法。
技术介绍
电子系统特别是复杂的电子系统出现故障时往往无法清楚识别问题所在，维修人员在繁复的系统中往往无法找出故障的源头，因此急需一种诊断方法能对诊断过程做出合理的指导和解释，并用该模型来体现故障模式间的逻辑因果关系，在其中进行相应的具体诊断推理任务。
技术实现思路
本专利技术为了解决以上问题，提供了一种复杂电子系统嵌入式诊断方法。为实现上述目的，本专利技术所采用的技术方案如下：一种复杂电子系统嵌入式诊断方法，包括：确定复杂电子系统的结构以及功能；对复杂电子系统进行约定层次划分，其中，约定层次为结构层次以及故障层次；通过对结构层次以及故障层次进行FMECA分析建立层次化故障诊断模型；通过层次化故障诊断模型进行故障诊断。。可选的，所述结构层次以及故障层次包括元器件级/零件级、电路级/组件级、SRU级、LRU级/LRC级以及系统级。可选的，所述对结构层次以及故障层次进本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种复杂电子系统嵌入式诊断方法，其特征在于，包括：/n确定复杂电子系统的结构以及功能；/n对复杂电子系统进行约定层次划分，其中，约定层次为结构层次以及故障层次；/n通过对结构层次以及故障层次进行FMECA分析建立层次化故障诊断模型；/n通过层次化故障诊断模型进行故障诊断。/n

【技术特征摘要】
1.一种复杂电子系统嵌入式诊断方法，其特征在于，包括：
确定复杂电子系统的结构以及功能；
对复杂电子系统进行约定层次划分，其中，约定层次为结构层次以及故障层次；
通过对结构层次以及故障层次进行FMECA分析建立层次化故障诊断模型；
通过层次化故障诊断模型进行故障诊断。


2.根据权利要求1所述的复杂电子系统嵌入式诊断方法，其特征在于：所述结构层次以及故障层次包括元器件级/零件级、电路级/组件级、SRU级、LRU级/LRC级以及系统级。


3.根据权利要求2所述的复杂电子系统嵌入式诊断方法，其特征在于：所述对结构层次以及故障层次进行FMECA分析包括：故障模式分析、故障原因分析、故障影响分析、故障率分析以及故障模式频数比分析。


4.根据权利要求3所述的复杂电子系统嵌入式诊断方法，其特征在于：所述故障模式分析包括：
根据复杂电子系统的结构对故障模式进行初步分析；
建立温度场模型，对受试对象进行热失效分析，发现其薄弱部位，分析由热失效导致的故障模式；
计算受试对象部件的灵敏度，补充热失效分析中缺失的灵敏度较高部分的故障模式。


5.根据权利要求4所述的复杂电子系统嵌入式诊断方法，其特征在于：所述对故障模式进行初步分析包括：明确分析范围、明确任务与功能分析、明确故障判断、故障模式分析、确定故障原因、故障影响分析、得出分析结果。


6.根据权利要求5所述的复杂电子系统嵌入式诊断方法，其特征在于：所述层次化故障诊断模型包括故障推理机，故障特征库、算法库、整机、若干分机组合以及若干分机，其中，所述故障推理...

【专利技术属性】
技术研发人员：连光耀，闫鹏程，孙江生，张西山，李会杰，张连武，吕艳梅，李万领，梁冠辉，邱文昊，付久长，钟华，袁详波，宋秦松，
申请(专利权)人：中国人民解放军三二一八一部队，
类型：发明
国别省市：陕西;61