一种温度压力传感器测试方法、设备、装置和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种温度压力传感器测试方法、设备、装置和存储介质，所述温度压力传感器测试方法包括：获取用户输入的配置条件，根据所述配置条件配置测试设备，获取用户输入的检测指令，根据所述检测指令检测所述测试设备的连接状态，若所述测试设备连接成功，获取用户输入的测试指令，根据所述测试指令确定测试项，并基于所述测试项对预设温度压力传感器进行测试，在一个测试周期内对所述预设温度压力传感器的多个性能参数进行测试，提高了温度压力传感器的测试效率，同时确保在所述测试设备连接无误的情况下进行测试，提高了温度压力传感器的测试准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种温度压力传感器测试方法、设备、装置和存储介质
本专利技术涉及温度压力传感器领域，尤其涉及一种温度压力传感器测试方法、设备、装置和存储介质。
技术介绍
随着压力传感器压力传感器的应用越来越广泛，很多厂家在使用压力传感器之前，为确保自身产品的质量，都会对压力传感器的性能参数进行测试。目前对压力传感器的测试过程中，需要根据预设压力传感器的型号、需要测试的性能参数等调整或更换测试设备，且每个测试周期只能对压力传感器的一个性能参数进行测试，若测试过程中出现故障，需要对故障源进行排查后，再进行设备的调整或更换，导致测试效率较低，同时可能会在设备存在故障或连接不正确的情况下进行测试，进而得到错误的测试结果，导致测试准确性不高。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种温度压力传感器测试方法，旨在解决压力传感器测试效率和测试准确性较低的技术问题。为实现上述目的，本专利技术提供一种温度压力传感器测试方法，所述温度压力传感器测试方法包括以下步骤：获取用户输入的配置条件，根据所述配置条件配置测试设备；获取用户输入本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种温度压力传感器测试方法，其特征在于，所述温度压力传感器测试方法包括以下步骤：/n获取用户输入的配置条件，根据所述配置条件配置测试设备；/n获取用户输入的检测指令，根据所述检测指令检测所述测试设备的连接状态；/n若所述测试设备连接成功，获取用户输入的测试指令，根据所述测试指令确定测试项，并基于所述测试项对预设温度压力传感器进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种温度压力传感器测试方法，其特征在于，所述温度压力传感器测试方法包括以下步骤：
获取用户输入的配置条件，根据所述配置条件配置测试设备；
获取用户输入的检测指令，根据所述检测指令检测所述测试设备的连接状态；
若所述测试设备连接成功，获取用户输入的测试指令，根据所述测试指令确定测试项，并基于所述测试项对预设温度压力传感器进行测试。


2.如权利要求1所述的温度压力传感器测试方法，其特征在于，所述测试项包括电路性能测试、温度压力性能测试以及多性能测试，所述基于所述测试项对预设温度压力传感器进行测试的步骤，包括：
若所述测试项为多性能测试，根据所述测试指令对所述预设温度压力传感器进行第一测试；
若所述测试项为电路性能测试，根据所述测试指令对所述预设温度压力传感器进行第二测试；
若所述测试项为温度压力性能测试，根据所述测试指令对所述预设温度压力传感器进行第三测试。


3.如权利要求2所述的温度压力传感器测试方法，其特征在于，所述若所述测试项为电路性能测试，据所述测试指令对所述预设温度压力传感器进行第二测试的步骤，包括：
获取所述预设温度压力传感器的测试电流值；
确定所述测试电流值是否在预设电流范围值之间，从而确定所述预设温度压力传感器的电流状态；
保存所述测试电流值、所述电流误差值和所述电流状态。


4.如权利要求2所述的温度压力传感器测试方法，其特征在于，所述测试设备设有测试容置腔，所述若所述测试项为温度压力性能测试，根据所述测试指令对所述预设温度压力传感器进行第三测试的步骤，包括：
将所述测试容置腔内的环境温度调节为预设温度值，并将所述测试容置腔内的环境气压调节为预设气压值；
基于所述预设温度值和所述预设气压值，获取预设温度压力传感器的测试温度值和测试气压值，并计算所述测试温度值与所述预设温度值之间的温度误差值，以及所述测试气压值与所述预设气压值之间的气压误差值；
比较所述温度误差值和预设温度误差值，以及所述气压误差值和预设气压误差值，以确定所述预设温度压力传感器的温度压力状态；
保存所述温度测试值、所述测试气压值、所述温度误差值、所述气压误差值和所述温度压力状态。


5.如权利要求4所述的温度压力传感器测试方法，其特征在于，所述将所述测试容置腔内的环境温度调节为预设温度值的步骤，包括：
从所述测试指令...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙凌云，赵志勇，
申请(专利权)人：潍坊歌尔微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37