本发明专利技术公开了一种膜片材料厚度测量辅助装置，涉及膜片厚度测量技术领域。包括第一支杆和第二支杆，第一支杆和第二支杆互相交叉，第一支杆或第二支杆包括第一杆部、第二杆部、连接第一杆部和第二杆部的交叉部，第一杆部上安装有测量滚轮，第二杆部上安装有光源接收装置，第一支杆或第二支杆上安装有光源发射器，且测量滚轮到交叉点的距离小于光源接收装置上到交叉点的最远端到交叉点的距离。本发明专利技术将膜片厚度放大于装置另一端以便于测量，而且结构简单，测量方便灵活，实时精确的测试膜材料的厚度，保证生产产品的质量。
【技术实现步骤摘要】
一种膜片材料厚度测量辅助装置
本专利技术涉及膜片厚度测量
，尤其涉及一种膜片材料厚度测量辅助装置。
技术介绍
对于膜类样品，其厚度是评判其性能的一个重要指标。对于一些卷材类材料，特别是对于像铝塑膜、包装膜等功能性薄膜类材料，需要后续进行加工处理才能完成其作用价值的，其对厚度的要求更加严格。专利号CN202020271131.4公开的名为片状物料厚度检测装置的专利技术中，包括接触式距离传感器、检测滚轮、支撑滚轮和安装支架，所述接触式距离传感器设置在安装支架上，所述接触式距离传感器的传感头与检测滚轮连接，所述支撑滚轮设置在安装支架上，所述检测滚轮和支撑滚轮正对设置，所述检测滚轮和支撑滚轮分别用于与片状物料上下表面接触。该专利技术设置了检测滚轮和支撑滚轮用于夹持片状物料，进而通过检测滚轮的上下位移来测量片状物料厚度。该装置将片状物料夹持在检测滚轮和支撑滚轮之间，避免了片状物料抖动、多层间隙等因素对厚度检测的影响，提高了检测准确性。该专利技术的厚度检测装置结构较为复杂，并且对膜片材料的宽度有限制，只有处在厚度检测装置的宽度范围内的膜片材料才可以通过，导致该装置的适用范围变小。此外，还有部分采用穿透性强的射线来测量膜片厚度的方法以及相应装置，此类方式成本较高，而且还有辐射危险，不适宜普遍应用。
技术实现思路
本专利技术提供了一种膜片材料厚度测量辅助装置，以相似放大为原理，将膜片厚度放大，以便于测量获取放大后的膜片厚度数值或者与其相关联的其他尺寸数据，结构简单，测量方便灵活，用以解决上述技术问题。本专利技术解决上述问题的技术方案是：提供一种膜片材料厚度测量辅助装置，包括第一支杆和第二支杆，第一支杆和第二支杆互相交叉，第一支杆或第二支杆包括第一杆部、第二杆部、连接第一杆部和第二杆部的交叉部，第一杆部上安装有测量滚轮，第二杆部上安装有光源接收装置，第一支杆或第二支杆上安装有光源发射器，且测量滚轮到交叉点的距离小于光源接收装置上到交叉点的最远端到交叉点的距离。进一步地，第一支杆、第二支杆上均开设有插接孔，还包括一同时插接于两个插接孔中以连接第一支杆和第二支杆的中间连接轴。第一支杆和第二支杆同时以测量滚轮夹持与膜片材料的两侧上时，根据膜片材料的实际厚度使第一支杆和第二支杆绕中间连接轴发生适应性转动，使第一支杆和第二支杆之间的夹角随之发生变化。进一步地，光源接收装置包括光源接收板和光源反射板。光源反射板用于反射光信号，光源接收板用于接收光信号，光信号经由光源发射器发射到光源接收装置处时，光源反射板反射光信号，多次反射光信号后，光源接收板接收光信号，以方便光源接收装置在尽可能远的位置获取光信号。进一步地，光源接收板和光源反射板互相贴合，光源接收装置安装在第二杆部上时，光源接收板位于第二杆部和光源反射板之间。光源反射板采用既能透过部分光信号又能反射部分光信号的玻璃板材料制成。光源发射器发出的光信号到达光源反射板时，部分光信号透过光源反射板到达光源接收板被接收；剩余光信号被反射到光源反射板的其他位置，最终在光源接收板上产生多个信号点，进而对同一膜片的相同位置在一次测算中提供多个测算信号。进一步地，光源接收板也可安装在第二杆部的远交叉位置的端头处，光源反射板安装在光源发射器和光源接收板之间。光源发射器发出光信号，经过多次反射后被处于第二杆部的最远端处的光源接收板接收，以将膜片材料的厚度尺寸数值放大到最大，有利于测量放大后的膜片厚度数值。进一步地，还包括连接设置在第一支杆的第二杆部和第二支杆的第二杆部之间的弹性张紧件。弹性张紧件控制第一杆部一端处的两个测量滚轮互相靠紧在膜片材料的两侧，防止测量滚轮与膜片材料之间出现间隙。进一步地，交叉部的厚度小于或等于第一杆部或第二杆部的一半厚度。第一支杆和第二支杆互相交叉相连时，第一杆部端头处的两个测量滚轮可以正对接触，光源也能够在第一支杆和第二支杆的中间位置处传递，避免出现光反射偏移，导致光源接收装置接收不到光信号、无法测量的问题。进一步地，光源发射器安装在交叉部上并朝向另一支杆上的光源接收装置，还包括一用以调整光源发射器与第二杆部之间的夹角的旋转调节件。转动旋转调节件以调整光源发射器与第二杆部之间的夹角，以根据实际情形调整光源发射器与第二杆部之间的夹角，使用灵活。进一步地，旋转调节件包括连接于光源发射器的连接螺纹轴，以及开设在交叉部上的螺纹调节孔。光源发射器以连接螺纹轴螺纹安装于交叉部上，也可以通过螺纹旋转方式来改变其自身与第二杆部之间的夹角。本专利技术的有益效果：本专利技术的一种膜片材料厚度测量辅助装置，在使用时，以第一支杆、第二支杆的第一杆部同时夹持于膜片材料的两侧，通过测量滚轮与膜片材料之间构成点接触，同时在第二杆部处设置光源接收装置，根据光源接收装置处接收到的光信号的入射角度、光信号到第一支杆和第二支杆的交叉点的距离数值，这些数值结合起来就可以得到一个与膜片材料厚度呈固定比例的一个测量数值，相当于将膜片材料厚度数值放大数倍，较膜片材料本身的极小的厚度数值更好测量检测，不需要高精度的测量工具。当测量滚轮到交叉点的距离小于光源接收装置上到交叉点的最远端到交叉点的距离时，膜片厚度数据至少在光源接收装置到交叉点的最远端处能被放大成第一支杆和第二支杆之间的同向距离，以保证其放大功能。中间连接轴能够对两支杆起到固定作用，并且可以以中间连接轴为圆心进行转动以适应卷材在生产过程中上下波动现象；在测试过程中弹性张紧件处于合适的弹性状态，使测量滚轮对卷材具有合适的压力并保持接触状态，能够反映卷材的实际厚度。本专利技术能够实时精确的测试膜材料的厚度，保证生产产品的质量，并且降低测试成本和检测时间，提高产品的合格率。并且此厚度测试仪，装置简单，占用空间小，适合安装在生产线的绝大数位置，并且抗干扰能力强。附图说明并入到说明书中并且构成说明书的一部分的附图示出了本专利技术的实施例，并且与描述一起用于解释本专利技术的原理。在这些附图中，类似的附图标记用于表示类似的要素。下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，而不是全部实施例。对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术具体实施例的一种膜片材料厚度测量辅助装置的整体结构示意图；图2为本专利技术另一具体实施例的一种膜片材料厚度测量辅助装置的整体结构示意图；图3为本专利技术具体实施例的一种膜片材料厚度测量辅助装置的光源发射器处安装结构示意图。1-第一支杆、2-第二支杆、3-第一杆部、4-第二杆部、5-交叉部、6-测量滚轮、7-光源接收装置、8-光源发射器、9-插接孔、10-中间连接轴、11-光源接收板、12-光源反射板、13-弹性张紧件、14-旋转调节件、15-连接螺纹轴、16-螺纹调节孔。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种膜片材料厚度测量辅助装置，其特征在于：包括第一支杆（1）和第二支杆（2），第一支杆（1）和第二支杆（2）互相交叉，第一支杆（1）或第二支杆（2）包括第一杆部（3）、第二杆部（4）、连接第一杆部（3）和第二杆部（4）的交叉部（5），第一杆部（3）上安装有测量滚轮（6），第二杆部（4）上安装有光源接收装置（7），第一支杆（1）或第二支杆（2）上安装有光源发射器（8），且测量滚轮（6）到交叉点的距离小于光源接收装置（7）上到交叉点的最远端到交叉点的距离。/n
【技术特征摘要】
1.一种膜片材料厚度测量辅助装置，其特征在于：包括第一支杆（1）和第二支杆（2），第一支杆（1）和第二支杆（2）互相交叉，第一支杆（1）或第二支杆（2）包括第一杆部（3）、第二杆部（4）、连接第一杆部（3）和第二杆部（4）的交叉部（5），第一杆部（3）上安装有测量滚轮（6），第二杆部（4）上安装有光源接收装置（7），第一支杆（1）或第二支杆（2）上安装有光源发射器（8），且测量滚轮（6）到交叉点的距离小于光源接收装置（7）上到交叉点的最远端到交叉点的距离。
2.如权利要求1所述的一种膜片材料厚度测量辅助装置，其特征在于：第一支杆（1）、第二支杆（2）上均开设有插接孔（9），还包括一同时插接于两个插接孔（9）中以连接第一支杆（1）和第二支杆（2）的中间连接轴（10）。
3.如权利要求1所述的一种膜片材料厚度测量辅助装置，其特征在于：光源接收装置（7）包括光源接收板（11）和光源反射板（12）。
4.如权利要求3所述的一种膜片材料厚度测量辅助装置，其特征在于：光源接收板（11）和光源反射板（12）互相贴合，光源接收装置（7）安装在第二杆部（4）上时，光源接收板（11）位于...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡朝阳，宋阳，余小玉，
申请(专利权)人：苏州福斯特光伏材料有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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