一种检测组件及装置制造方法及图纸

本申请所提供的一种检测组件及装置，所述组件包括：光纤阵列块和透镜器件；所述光纤阵列块，用于固化各光纤之间的最优相对位置关系和各光纤最优光学参数；所述光纤阵列块与所述透镜器件连接，从而提高光信号的质量，同时，提高对空间中颗粒检测的精准度。

【技术实现步骤摘要】
一种检测组件及装置
本申请涉及一种检测技术，尤其涉及一种检测组件及装置。
技术介绍
基于激光遥感技术的微粒传感器广泛用于检测空间或液体中固体颗粒的通过，大小，数量及速度等信息。在原理上主要有两类技术，一类基于光阻法，即利用微粒对光的遮挡所发生的光强度变化进行微粒特征检测的方法，可探测微粒的直径检测范围为1μm到2.5mm。光阻法多采用一对激光发射阵列和一对激光接受阵列在目标区域两侧布置，从而覆盖一定区域，但受限于激光信号的信噪比，光阻法多用于近距检测，比如对微小管道的液体进行检测。另一类利用散射原理进行测量，比如基于Mie散射原理的散射法进行测量，散射法需要在目标区域后方半球区域布置大量接受器来得到散射角度，通过对散射角度的测量得到微粒的大小信息。目前阵列式光阻法微粒检测仪基于强度变化原理，由于强度信息容易受到环境干扰，对于大范围远距离的检测应用，检测精度很低。
技术实现思路
为达到上述目的，本申请实施例的技术方案是这样实现的：根据本申请实施例的一方面，提供一种检测组件及装置，所述组件包括：光纤阵列块和透镜器件；所述光纤阵列块，用于固化各光纤之间的最优相对位置关系和各光纤最优光学参数；所述光纤阵列块与所述透镜器件连接，从而提高光信号的质量。上述方案中，包括：光纤阵列块可包含第一光纤阵列和第二光纤阵列；第一光纤阵列与光学相干检测仪连接，用于产生第一组光信号；第二光纤阵列与光学相干检测仪连接，用于产生第二组光信号；其中，根据第一组光信号与第二组光信号，确定颗粒的速度参数信息；或，包括：反射装置；反射装置与所述透镜器件对应，用于加强反射所述光信号；所述反射装置与所述透镜器件之间设有第一预设距离；或，包括：光学相干检测仪；所述光纤阵列块和透镜器件一端通过光纤与光学相干检测仪连接；所述光纤阵列块和透镜器件另一端准直或聚焦一组光信号于被测区域；或，所述光学相干检测仪包括：相干光学发射单元及相干光学接受单元、信号分析单元；所述光学相干检测仪与所述光纤阵列块及透镜器件连接，产生并接受光信号，从而检测空间中的颗粒信息；或，所述光学相干检测仪包括：相干光学发射单元及相干光学接受单元；所述相干光学发射单元包含激光器、信号相位调制装置和分光装置；所述相干光学发射单元把主要激光信号传输到所述光纤阵列块和透镜器件，部分激光信号为本征信号，通过相位调制装置发送到相干光学接受单元；所述相干光学接受单元接收测量信号，与本征信号发生干涉，放大调节光学被测信号，将光学被测信号输入到信号分析单元；或，包括：相干光学接受单元能够处理相互正交的两路载波信号；所述相干光学接受单元包含光学2×4端口90°光混频器，差分接受器；所述相干光学接受单元同时得到同相信号，正交信号；所述相干光学接受单元将同相信号和正交信号输入到信号分析单元，从而恢复同时恢复被测信号的完整复平面信息，即幅度信息和相位信息；或，包括：多组所述相干光学发射单元及相干光学接受单元；多组所述相干光学发射单元及相干光学接受单元形成阵列，实现一定空间区域的探测测量；或，包括：信号分析单元；信号分析单元包括：信号模拟数字转换单元、数字信号处理单元、数字存储处理单元、通讯单元；所述信号分析单元用于分析经过光信号的颗粒信息；或，包括：数字信号处理单元包含计时装置；所述第一组光信号与所述第二组光信号之间设有第二距离；其中，根据所述第二距离和所述计时装置，确定颗粒的空间移动矢量参数，空间速度矢量参数。本申请所提供的一种探测组件和装置，所述组件包括：光纤阵列块和透镜器件；所述光纤阵列块，用于固化各光纤之间的最优相对位置关系和各光纤最优光学参数；所述光纤阵列块与所述透镜器件连接，从而提高光信号的质量，同时，提高对空间中颗粒检测的精准度。附图说明图1为本申请实施例提供的一种检测组件结构图；图2为本申请另一实施例提供的系统组成图；图3为本申请另一实施例提供的激光相位变化信息图；图4为本申请另一实施例提供的激光幅度变化信息图；其中，图1中附图标记与部件名称之间的对应关系为：1-光纤，2-光纤阵列块，3-透镜器件，4-光信号，5-颗粒，6-反射装置；其中，图2中附图标记与部件名称之间的对应关系为：1-光学相干检测仪，2-光纤，3-光学前端，4-探测光束。具体实施方式为了能够更加详尽地了解本申请的特点与
技术实现思路
，下面结合附图对本申请的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本申请。图1为本申请实施例提供的一种检测组件的结构图，如图1所示，所述组件包括：光纤阵列块2和透镜器件3，用于形成统一的高质量探测光束；所述光纤1，用于传输光信号4；所述光纤阵列块2和透镜器件3通过光纤1与光学相干检测仪连接，输出和接受光信号4，从而检测空间中的颗粒5信息。在另一实施例中，包括：光纤阵列块2；所述光纤阵列块2通过光纤与光学相干检测仪连接，光纤阵列块一端与透镜器件连接，透镜器件与光纤阵列块中光纤波导尺寸和间距配合，从而提高光信号的质量。在另一实施例中，包括：光纤阵列块2包含第一光纤阵列和第二光纤阵列；第一光纤阵列与光学相干检测仪连接，用于产生第一组光信号；第二光纤阵列与光学相干检测仪连接，用于产生第二组光信号；其中，根据第一组光信号与第二组光信号，确定所述颗粒5的速度矢量参数信息。在另一实施例中，包括：反射装置6；反射装置通常为被测量物管壁，光信号4在反射装置发生漫反射，部分信号为光纤阵列块2和透镜器件3捕捉；所述反射装置6与所述透镜器件3之间设有第一预设距离。在另一个实施例中，包括：光学相干检测仪；所述分析装置与所述接收装置连接，用于分析经过光信号4的颗粒5信息。在另一个实施例中，包括：计时装置；所述第一组光信号与所述第二组光信号之间设有第二距离；其中，根据所述第二距离和所述计时装置，确定颗粒5的移动参数。在另一个实施例中，一种检测装置，所述装置包括：多组所述检测组件。在另一个实施例中，如图1所示，本申请包括：光纤1、光纤阵列块2、透镜器件3、光信号4、颗粒5、反射装置6。其中光纤1与光纤阵列块2相连接，通过光纤阵列使光纤中线路排列有序，并保持固定的间距，从而更精准检测空间中的颗粒5。光纤1通过光纤阵列块2与透镜器件3连接，从而发射出光信号4。光信号4照射至反射装置6，从而使光纤回射。接收器可以设置在透镜端，也就是发射端，也可以设置在反射装置端，接收光信号后，通过分析装置分析出颗粒5的参数信息。当光纤阵列块2数量为多个时，照射出的光信号4也为多条，分析装置分析出的颗粒5的参数信息也就更精确。例如：颗粒5的大小、数量、方向、速度等等。当检测装置拥有多个检测组件时，可以同时进行多组件测试，获取多组数据，从而提升检测效率，也可以精确准确度。在另一个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测组件，其特征在于，所述组件包括：光纤阵列块和透镜器件；/n所述光纤阵列块，用于固化各光纤之间的最优相对位置关系和各光纤最优光学参数；/n所述光纤阵列块与所述透镜器件连接，从而提高光信号的质量。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测组件，其特征在于，所述组件包括：光纤阵列块和透镜器件；
所述光纤阵列块，用于固化各光纤之间的最优相对位置关系和各光纤最优光学参数；
所述光纤阵列块与所述透镜器件连接，从而提高光信号的质量。


2.根据权利要求1所述的组件，其特征在于，包括：光纤阵列块可包含第一光纤阵列和第二光纤阵列；
第一光纤阵列与光学相干检测仪连接，用于产生第一组光信号；
第二光纤阵列与光学相干检测仪连接，用于产生第二组光信号；
其中，根据第一组光信号与第二组光信号，确定颗粒的速度参数信息；或，
包括：反射装置；
反射装置与所述透镜器件对应，用于加强反射所述光信号；
所述反射装置与所述透镜器件之间设有第一预设距离；或，
包括：光学相干检测仪；
所述光纤阵列块和透镜器件一端通过光纤与光学相干检测仪连接；
所述光纤阵列块和透镜器件另一端准直或聚焦一组光信号于被测区域；或，
所述光学相干检测仪包括：相干光学发射单元及相干光学接受单元、信号分析单元；
所述光学相干检测仪与所述光纤阵列块及透镜器件连接，产生并接受光信号，从而检测空间中的颗粒信息；或，
所述光学相干检测仪包括：相干光学发射单元及相干光学接受单元；
所述相干光学发射单元包含激光器、信号相位调制装置和分光装置；
所述相干光学发射单元把...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱中华，王磊，李晓涛，李庆伟，钟山，陈伟，
申请(专利权)人：挚感苏州光子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32